OM分析失效分析

主要用途 n.%QWhUB  
y]9R#\P/  
样品外观、形貌检测。 *X5)9dq  
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D*  
'Waazk[@O  
性能参数 blc?[ [,!  
Xr*I`BJ  
a)总放大倍数为50x-1000x； LG}{ibB  
k %I83,+  
b)目标Z空间：0-25mm； j,n:%5P\v  
iOL$|Z(  
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； p_$^keOL  
 F/Goq`  
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 (m]l -Re  
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iY:-8s  
LF|0lAr  
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应用范围 *A-_*A  
A U~DbU0O  
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。