OM分析失效分析

主要用途 *GC9o/  
(R^Ca7F  
样品外观、形貌检测。 j9O"!9$vQ  
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e)kVS}e?  
性能参数 ^T_2s  
(I ~r~5^  
a)总放大倍数为50x-1000x； "a]Ff&T-  
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b)目标Z空间：0-25mm； P7y.:%DGD0  
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c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； >OW>^%\!1  
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d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 la*c/*  
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应用范围 EM0]"s@Lf  
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。