OM分析失效分析

主要用途 6aM*:>C"  
ODZ|bN0>  
样品外观、形貌检测。 4pw6bK,s2\  
87hq{tTs]  
=zQN[  
性能参数 KYzv$oK  
y;/VB,4V  
a)总放大倍数为50x-1000x；  H"A7Zo  
H":oNpfb  
b)目标Z空间：0-25mm； 6Gf?m;  
6@DF  
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； x _c[B4Tw  
mI74x3 [  
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 )"Ztlhs`#  
I`NjqyTW  
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应用范围 9(QJT}qC  
'7O3/GDK  
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。