OM分析失效分析

主要用途 $d8A_CUU  
o=`
9JKB~  
样品外观、形貌检测。 _a<PUdP  
3lL:vD5(  
&-b=gnT   
性能参数 Qgx~'
9
 
JyB>,t)  
a)总放大倍数为50x-1000x； V'mpl  
!zJ.rYZ=g`  
b)目标Z空间：0-25mm； Tl%4L% bE  
nr-
mf]W&  
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； HqF8:z?v  
wd#AA#J;*  
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 oTa! F;I  
/pk;E$qv  
ZcWl{e4  
qyJpm{  
应用范围 |@ldXuYb  
NXmj<azED  
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。