OM分析失效分析

主要用途 3rY\y+m  
3 "iBcsLn  
样品外观、形貌检测。 2?{'(iay  
CTS1."kx1  
!zfKj0^  
性能参数 %
P7qA  
4.p:$/GTS  
a)总放大倍数为50x-1000x； N
BL%5!'  
oY+p;&H  
b)目标Z空间：0-25mm； as(/ >p  
}K5okxio  
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； Z9.0#Jnu  
/xSFW7d1  
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 &1Cs'  
gyb99c,)  
{ V)`6  
U\u07^h[  
应用范围 \Si p  
zW\s{  
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。