《
半导体薄膜技术与
物理》全面
系统地介绍了半导体薄膜的各种制备技术及其相关的物理基础。全书共分十章。第一章概述了真空技术,第二至第八章分别介绍了蒸发、溅射、化学气相沉积、脉冲
激光沉积、分子束外延、液相外延、湿化学合成等各种半导体薄膜的沉积技术,第九章介绍了半导体超晶格、量子阱的基本概念和理论,第十章介绍了典型薄膜半导体器件的制备技术。
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《半导体薄膜技术与物理》文字叙述上力求做到深入浅出,内容上深度和宽度相结合,理论和实践相结合,以半导体薄膜技术为重点,结合半导体
材料和器件的性能介绍,同时还介绍了半导体薄膜技术与物理领域的新概念、新进展、新成果和新技术。《半导体薄膜技术与物理》具有内容翔实、概念清楚、图文并茂的特点。
B|~\m~ 《半导体薄膜技术与物理》读者对象广泛,可作为高等院校材料、物理、
电子、化学等学科的研究生或高年级本科生的半导体薄膜技术课程的教材,也可作为从事半导体材料、薄膜材料、光电器件等领域的科研人员、工程技术人员的参考书籍。
GRj{*zs 叶志镇,男,1955年5月生于浙江温州。1987年获浙江大学光仪系工学博士学位;毕业后留校工作,1990~1992年留学美国麻省理工学院(MIT);1994年晋升为教授;1996年选为博导。现为浙江大学材料与化学工程学院副院长、浙江大学纳米中心主任。 1988年进入浙江大学材料系,在硅材料国家重点实验室一直从事半导体薄膜教学科研工作,主要研究方向:Zn0薄膜材料制备、物性调控及光电应用;纳米薄层材料高真空CVD技术研发及应用。现兼任国家自然科学基金委信息科学部评审组成员,全国电子材料专委副主任,全国半导体与集成技术、半导体材料和半导体物理专委委员等。
|^@TA=_ 《半导体薄膜技术与物理》共分十章,以叶志镇教授“半导体薄膜技术物理”讲义为基础编撰而成。第一章叙述了真空技术的基本知识;第二章至第八章是《半导体薄膜技术与物理》的核心内容,结合各种半导体材料,详细介绍了蒸发、溅射、化学气相沉积、脉冲激光沉积、分子束外延、液相沉积和湿化学合成等半导体薄膜技术与物理;第九章介绍了超晶格的相关知识,超晶格、量子阱是现代新型半导体器件的基础和关键;第十章介绍了典型薄膜半导体器件的制备技术,包括发光二极管、薄膜晶体管和紫外探测器。
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n0)l 第1章 真空技术
gzHjD-g-< 1.1 真空的基本概念
$0K9OF9$ 1.1.1 真空的定义
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Gk;u 1.1.2 真空度单位
Md[nlz 1.1.3 真空区域划分
d8
ve$X 1.2 真空的获得
TZZqV8 1.3 真空度测量
J2H8r 'T 1.3.1 热传导真空计
Md_\9G .e 1.3.2 热阴极电离真空计
diqG8KaK 1.3.3 冷阴极电离真空计
A HKS
[ N 1.4 真空度对薄膜工艺的影响
4F8`5)RM 参考文献
s6). ?oE H,=??wN 第2章 蒸发技术
Jo
h&Ay 2.1 发展历史与简介
%-T]!3"n 2.2 蒸发的种类
P[ KJuc 2.2.1 电阻热蒸发
Mp$ uEi 2.2.2 电子束蒸发
dmrM %a}W- 2.2.3 高频感应蒸发
3QS"n.d 2.2.4 激
光束蒸发
^#%$?w>wI 2.2.5 反应蒸发
J/wot,j^ 2.3 蒸发的应用实例
1rE hL 2.3.1 Cu(In,Ga)Se2薄膜
K22W=B)Ln 2.3.2 ITO薄膜
g >-iBxml 参考文献
.f&,~$e4 zYSXG-k 第3章 溅射技术
D@4hQC\ 3.1 溅射基本
原理 R`>E_SY 3.2 溅射主要
参数 _.FxqH> 3.2.1 溅射闽和溅射产额
C2eei're 3.2.2 溅射粒子的能量和速度
(g~&$&pa 3.2.3 溅射速率和淀积速率
-\>Bphu,y 3.3 溅射装置及工艺
iAWPE`u4 3.3.1 阴极溅射
jB?Tua$,s 3.3.2 三极溅射和四极溅射
eVbHPu4 3.3.3 射频溅射
:fpYraBM 3.3.4 磁控溅射
Te!q(;L`4 3.3.5 反应溅射
R0\E?9P 3.4 离子成膜技术
p#J}@a 3.4.1 离子镀成膜
|yN7#O-D 3.4.2 离子束成膜
K-_e' )22. 3.5 溅射技术的应用
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