《
半导体薄膜技术与
物理》全面
系统地介绍了半导体薄膜的各种制备技术及其相关的物理基础。全书共分十章。第一章概述了真空技术,第二至第八章分别介绍了蒸发、溅射、化学气相沉积、脉冲
激光沉积、分子束外延、液相外延、湿化学合成等各种半导体薄膜的沉积技术,第九章介绍了半导体超晶格、量子阱的基本概念和理论,第十章介绍了典型薄膜半导体器件的制备技术。
yye(^ 《半导体薄膜技术与物理》文字叙述上力求做到深入浅出,内容上深度和宽度相结合,理论和实践相结合,以半导体薄膜技术为重点,结合半导体
材料和器件的性能介绍,同时还介绍了半导体薄膜技术与物理领域的新概念、新进展、新成果和新技术。《半导体薄膜技术与物理》具有内容翔实、概念清楚、图文并茂的特点。
xg>AW Q 《半导体薄膜技术与物理》读者对象广泛,可作为高等院校材料、物理、
电子、化学等学科的研究生或高年级本科生的半导体薄膜技术课程的教材,也可作为从事半导体材料、薄膜材料、光电器件等领域的科研人员、工程技术人员的参考书籍。
u,rieKYF 叶志镇,男,1955年5月生于浙江温州。1987年获浙江大学光仪系工学博士学位;毕业后留校工作,1990~1992年留学美国麻省理工学院(MIT);1994年晋升为教授;1996年选为博导。现为浙江大学材料与化学工程学院副院长、浙江大学纳米中心主任。 1988年进入浙江大学材料系,在硅材料国家重点实验室一直从事半导体薄膜教学科研工作,主要研究方向:Zn0薄膜材料制备、物性调控及光电应用;纳米薄层材料高真空CVD技术研发及应用。现兼任国家自然科学基金委信息科学部评审组成员,全国电子材料专委副主任,全国半导体与集成技术、半导体材料和半导体物理专委委员等。
iQI$Y]Y7 《半导体薄膜技术与物理》共分十章,以叶志镇教授“半导体薄膜技术物理”讲义为基础编撰而成。第一章叙述了真空技术的基本知识;第二章至第八章是《半导体薄膜技术与物理》的核心内容,结合各种半导体材料,详细介绍了蒸发、溅射、化学气相沉积、脉冲激光沉积、分子束外延、液相沉积和湿化学合成等半导体薄膜技术与物理;第九章介绍了超晶格的相关知识,超晶格、量子阱是现代新型半导体器件的基础和关键;第十章介绍了典型薄膜半导体器件的制备技术,包括发光二极管、薄膜晶体管和紫外探测器。
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-'sn0_q/e
H3?HQ>&O7 zz4.gkU 第1章 真空技术
xTJ-v/t3< 1.1 真空的基本概念
;{Sgv^A 1.1.1 真空的定义
Ofyz,%
|Q 1.1.2 真空度单位
_Q:739& 1.1.3 真空区域划分
cVR3_e{&H 1.2 真空的获得
_v+mjDdQ 1.3 真空度测量
PUdJ>U 1.3.1 热传导真空计
zMXlLRC0 1.3.2 热阴极电离真空计
A-"}aCmik 1.3.3 冷阴极电离真空计
M99gDN 1.4 真空度对薄膜工艺的影响
#e!4njdM 参考文献
,a$?KX
4rh*&' 第2章 蒸发技术
bYKyR}e 2.1 发展历史与简介
iuX82z` 2.2 蒸发的种类
n tfwR#j 2.2.1 电阻热蒸发
\I"UW1)B 2.2.2 电子束蒸发
[;Q8xvVZ' 2.2.3 高频感应蒸发
P`^{dH$P 2.2.4 激
光束蒸发
n>w/T" 2.2.5 反应蒸发
bs%lMa.o 2.3 蒸发的应用实例
f4s^$Q{Q 2.3.1 Cu(In,Ga)Se2薄膜
;Ly(O'9 2.3.2 ITO薄膜
*hT1_ 参考文献
$=c79Al( %("Bq"Q8 第3章 溅射技术
t ._PS3 3.1 溅射基本
原理 )m-l&UK 3.2 溅射主要
参数 J#0oL_xY# 3.2.1 溅射闽和溅射产额
K$H>/*&'~ 3.2.2 溅射粒子的能量和速度
_/W[=c 3.2.3 溅射速率和淀积速率
lD8&*5tDmP 3.3 溅射装置及工艺
nC3U%*l 3.3.1 阴极溅射
vu%:0p`K 3.3.2 三极溅射和四极溅射
[\M=w7 3.3.3 射频溅射
.Z!!x 3.3.4 磁控溅射
r3@Q(Rb 3.3.5 反应溅射
j;tT SNF 3.4 离子成膜技术
QL>G-Rp 3.4.1 离子镀成膜
;BEg"cm 3.4.2 离子束成膜
(;V=A4F-D 3.5 溅射技术的应用
OAc*W<Q0 3.5.1 溅射生长过程
<bwsK,C 3.5.2 溅射生长Zno薄膜的性能
8QeM6;^/5 参考文献
H:X=v+W wo>srZs 第4章 化学气相沉积
wp!<u
% 4.1 概述
<"uT=]wZ= 4.2 硅化学气相沉积
3gW4\2|T 4.2.1 CVD反应类型
3 <V{.T 4.2.2 CVD热力学分析
FQR{w 4.2.3 CVD动力学分析
kF9T 9 4.2.4 不同硅源的外延生长
9})!~r;| 4.2.5 成核
}mjJglK!N 4.2.6 掺杂
"+REv_: 4.2.7 外延层质量
?-g=Rfpag 4.2.8 生长工艺
!A"`jc~x: 4.3 CVD技术的种类
:\@WY 4.3.1 常压CVD
lD!o4ZAo 4.3.2 低压CVD
v^aARIg 4.3.3 超高真空CVD
J?XEF@?'G 4.4 能量增强CVD技术
AW8" @ 4.4.1 等离子增强CVD
.,:700n+^ 4.4.2 光增强CVD
A#W%ud4 4.5 卤素输运法
@L%9NqE`O 4.5.1 氯化物法
_C v({m&N 4.5.2 氢化物法
XelY?Ph,, 4.6 MOCVD技术
V8>%$O
sw 4.6.1 MOCVD简介
>Au]S` 4.6.2 MOCVD生长GaAs
'#SacJ\L7
4.6.3 MOCVD生长GaN
]@o p 4.6.4 MOCVD生长ZnO
.`!|^h%0 4.7 特色CVD技术
k--.g(T 4.7.1 选择外延CVD技术
Ox"4 y 4.7.2 原子层外延
;l_%;O5 参考文献
Urhh)i hq.z:D 第5章 脉冲激光沉积
H#8]Lb@@: 5.1 脉冲激光沉积概述
9YMUvd,u 5.2 PLD的基本原理
[8/E ;h 5.2.1 激光与靶的相互作用
br"p D-} 5.2.2 烧蚀物的传输
t_&FK A 5.2.3 烧蚀粒子在衬底上的沉积
}%EQ 5.3 颗粒物的抑制
+XU*NAD,! 5.4 PLD在Ⅱ-Ⅵ族化合物薄膜中的应用
dOq*W<% 5.4.1 ZnO薄膜的PLD生长
dL<okw 5.4.2 其他Ⅱ-Ⅵ族化合物的PLD生长
06I'#:] 参考文献
JBdZ] /sENoQR 第6章 分子束外延
M_V\mYC8I 6.1 引言
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vd! 6.2 分子束外延的原理和特点
od|w)?16 6.3 外延生长设备
>R/^|hnJ 6.4 分子束外延生长硅
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