《
半导体薄膜技术与
物理》全面
系统地介绍了半导体薄膜的各种制备技术及其相关的物理基础。全书共分十章。第一章概述了真空技术,第二至第八章分别介绍了蒸发、溅射、化学气相沉积、脉冲
激光沉积、分子束外延、液相外延、湿化学合成等各种半导体薄膜的沉积技术,第九章介绍了半导体超晶格、量子阱的基本概念和理论,第十章介绍了典型薄膜半导体器件的制备技术。
_-&\~w 《半导体薄膜技术与物理》文字叙述上力求做到深入浅出,内容上深度和宽度相结合,理论和实践相结合,以半导体薄膜技术为重点,结合半导体
材料和器件的性能介绍,同时还介绍了半导体薄膜技术与物理领域的新概念、新进展、新成果和新技术。《半导体薄膜技术与物理》具有内容翔实、概念清楚、图文并茂的特点。
9pKN^FX,76 《半导体薄膜技术与物理》读者对象广泛,可作为高等院校材料、物理、
电子、化学等学科的研究生或高年级本科生的半导体薄膜技术课程的教材,也可作为从事半导体材料、薄膜材料、光电器件等领域的科研人员、工程技术人员的参考书籍。
92F(Sl 叶志镇,男,1955年5月生于浙江温州。1987年获浙江大学光仪系工学博士学位;毕业后留校工作,1990~1992年留学美国麻省理工学院(MIT);1994年晋升为教授;1996年选为博导。现为浙江大学材料与化学工程学院副院长、浙江大学纳米中心主任。 1988年进入浙江大学材料系,在硅材料国家重点实验室一直从事半导体薄膜教学科研工作,主要研究方向:Zn0薄膜材料制备、物性调控及光电应用;纳米薄层材料高真空CVD技术研发及应用。现兼任国家自然科学基金委信息科学部评审组成员,全国电子材料专委副主任,全国半导体与集成技术、半导体材料和半导体物理专委委员等。
l@a>"\><i* 《半导体薄膜技术与物理》共分十章,以叶志镇教授“半导体薄膜技术物理”讲义为基础编撰而成。第一章叙述了真空技术的基本知识;第二章至第八章是《半导体薄膜技术与物理》的核心内容,结合各种半导体材料,详细介绍了蒸发、溅射、化学气相沉积、脉冲激光沉积、分子束外延、液相沉积和湿化学合成等半导体薄膜技术与物理;第九章介绍了超晶格的相关知识,超晶格、量子阱是现代新型半导体器件的基础和关键;第十章介绍了典型薄膜半导体器件的制备技术,包括发光二极管、薄膜晶体管和紫外探测器。
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Fu0 dYN
;Ft_ Xiq 1D03Nbh|5 第1章 真空技术
QCFLi n+r 1.1 真空的基本概念
{)j3Pn 1.1.1 真空的定义
|1zoT|}q 1.1.2 真空度单位
nc#}-}`5 1.1.3 真空区域划分
n*6Oa/JG7 1.2 真空的获得
tr6<89e(o 1.3 真空度测量
5A,@$yp+ 1.3.1 热传导真空计
^uIP 1.3.2 热阴极电离真空计
=B g 1.3.3 冷阴极电离真空计
@UCGsw 1.4 真空度对薄膜工艺的影响
&v7$*n27 参考文献
*Ppb; 5t`< KRz)I 第2章 蒸发技术
l2"{uCcA 2.1 发展历史与简介
=T'N6x5@ 2.2 蒸发的种类
A*jU&3# 2.2.1 电阻热蒸发
{<{
O! 2.2.2 电子束蒸发
#Hl0>"k
, 2.2.3 高频感应蒸发
_FXvJ}~m 2.2.4 激
光束蒸发
;uj&j1 2.2.5 反应蒸发
f 4CS 2.3 蒸发的应用实例
SFVOof#s 2.3.1 Cu(In,Ga)Se2薄膜
j+He8w-4 2.3.2 ITO薄膜
8"L#5MO t 参考文献
hI.@!$~= S)T]>Ash 第3章 溅射技术
O4w6\y3U 3.1 溅射基本
原理 8yEN)RqI 3.2 溅射主要
参数 jnfktDV' 3.2.1 溅射闽和溅射产额
kH'LG! O 3.2.2 溅射粒子的能量和速度
(- `h8M 3.2.3 溅射速率和淀积速率
A)9OkLrc 3.3 溅射装置及工艺
r(;sX 3.3.1 阴极溅射
!sWKi)1 3.3.2 三极溅射和四极溅射
lXH?* 3.3.3 射频溅射
?.tnaE 3.3.4 磁控溅射
xE.K 3.3.5 反应溅射
$VOSd<87 3.4 离子成膜技术
Y5nj _xQJL 3.4.1 离子镀成膜
\$GM4:R D 3.4.2 离子束成膜
bBwQ1,c$ 3.5 溅射技术的应用
[=k$Q
(.3 3.5.1 溅射生长过程
}71a3EUK 3.5.2 溅射生长Zno薄膜的性能
a *?bnw? 参考文献
]
TY$ Y+vG]?D 第4章 化学气相沉积
4D+S\S0bk 4.1 概述
"Sm'TZx 4.2 硅化学气相沉积
\)KLm 4.2.1 CVD反应类型
~6YTm6o 4.2.2 CVD热力学分析
kr ,&aP<, 4.2.3 CVD动力学分析
!C13E lf 4.2.4 不同硅源的外延生长
e
]-fb{oVH 4.2.5 成核
H_w&_h& 4.2.6 掺杂
SU>2MT^ 4.2.7 外延层质量
+9LIpU&5 4.2.8 生长工艺
\ZN> 7?Vs 4.3 CVD技术的种类
.nDB{@# 4.3.1 常压CVD
<'WS -P%U 4.3.2 低压CVD
sz;B-1^6 4.3.3 超高真空CVD
`sW+R= 4.4 能量增强CVD技术
UAleGR`, 4.4.1 等离子增强CVD
xF4S 4.4.2 光增强CVD
v\&C]W] 4.5 卤素输运法
jQ>~ 4.5.1 氯化物法
:g&9v_}&K{ 4.5.2 氢化物法
\
@XvEx% 4.6 MOCVD技术
}eKY%WU>O 4.6.1 MOCVD简介
,xcm:;& 4.6.2 MOCVD生长GaAs
ckDWY<@v 4.6.3 MOCVD生长GaN
ZC7ZlL_ 4.6.4 MOCVD生长ZnO
.J=<E 4.7 特色CVD技术
LtrE;+%2oz 4.7.1 选择外延CVD技术
w3hG\2)[HS 4.7.2 原子层外延
b}&2j3-n, 参考文献
LDX>S*cL Hs9; &C 第5章 脉冲激光沉积
|| p>O 5.1 脉冲激光沉积概述
MS Qz,nn 5.2 PLD的基本原理
YCBp]xuE 5.2.1 激光与靶的相互作用
]lQLA
IQ 5.2.2 烧蚀物的传输
{$
a
$m 5.2.3 烧蚀粒子在衬底上的沉积
h7?uM^p 5.3 颗粒物的抑制
#_(t46 5.4 PLD在Ⅱ-Ⅵ族化合物薄膜中的应用
)By#({O 5.4.1 ZnO薄膜的PLD生长
e-&0f);i 5.4.2 其他Ⅱ-Ⅵ族化合物的PLD生长
"UM*(& 参考文献
9nGS"E l{ i>elK<R4 第6章 分子束外延
]h3{MTr/ 6.1 引言
{OIktG2gZ 6.2 分子束外延的原理和特点
GkU]>8E'" 6.3 外延生长设备
"pA24Ze 6.4 分子束外延生长硅
Zqi;by% 6.4.1 表面制备
Aq]*$s2\G 6.4.2 外延生长
I_.Jo `lK~ 6.4.3 掺杂
\I-bZ|^ 6.4.4 外延膜的质量诊断
Uo]x6j< 6.5 分子束外延生长Ⅲ-V族化合物半导体材料和
结构 S+*%u/;l 6.5.1 MBE生长GaAs
l|jb}9(J 6.5.2 MBE生长InAs/GaAs
6}/m~m 6.5.3 MBE生长GaN
;NoD4* 6.6 分子束外延生长Ⅱ一Ⅵ族化合物半导体材料和结构
=w,cdU* 6.6.1 HgCdTe材料
W)LtnD2 w 6.6.2 CdTe/Si的外延生长
sUe<21: 6.6.3 HgCdTe/Si的外延生长
W{!Slf 6.6.4 ZnSe、ZnTe
zZE@:P&lf 6.6.5 ZnO薄膜
wJ>.I<F6B 6.7 分子束外延生长其他半导体材料和结构
GZx?vSoHh 6.7.1 SiC:材料
KlbUs\E 6.7.2 生长小尺寸Ge/Si量子点
35}]U= 6.7.3 生长有机半导体薄膜
yt5'2!jc 参考文献
L"x9O'U M/x*d4b_ 第7章 液相外延
.ng:Z7 7.1 液相外延生长的原理
i_'u:P<t 7.1.1 液相外延基本概况
=5kTzH. 7.1.2 硅液相外延生长的原理
+Rq7m] 7.2 液相外延生长方法和设备
@ak3ZNor 7.3 液相外延生长的特点
#J w\pOn 7.4 液相外延的应用实例
C<B1zgX 7.4.1 硅材料
G5Z_[Q~z 7.4.2 Ⅲ-V族化合物半导体材料
b&g`AnYT 7.4.3 碲镉汞(Hgl-rCdrTe)材料
@C"w
1} 7.4.4 SiC材料
#U?=D/ 参考文献
d@QC[$qXj ;n2b$MB?nM 第8章 湿化学制备方法
z$]HZ#aRE 8.1 溶胶-凝胶技术
}'c@E0" {)y8Y9G 第9章 半导体超晶格和量子阱
\0bZ1" 第10章 半导体器件制备技术
iosL&*'8 参考文献
sqjv3=} Xhk_h2F[ 市场价:¥36.00
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