《
半导体薄膜技术与
物理》全面
系统地介绍了半导体薄膜的各种制备技术及其相关的物理基础。全书共分十章。第一章概述了真空技术,第二至第八章分别介绍了蒸发、溅射、化学气相沉积、脉冲
激光沉积、分子束外延、液相外延、湿化学合成等各种半导体薄膜的沉积技术,第九章介绍了半导体超晶格、量子阱的基本概念和理论,第十章介绍了典型薄膜半导体器件的制备技术。
_owjTo} 《半导体薄膜技术与物理》文字叙述上力求做到深入浅出,内容上深度和宽度相结合,理论和实践相结合,以半导体薄膜技术为重点,结合半导体
材料和器件的性能介绍,同时还介绍了半导体薄膜技术与物理领域的新概念、新进展、新成果和新技术。《半导体薄膜技术与物理》具有内容翔实、概念清楚、图文并茂的特点。
{ BEo & 《半导体薄膜技术与物理》读者对象广泛,可作为高等院校材料、物理、
电子、化学等学科的研究生或高年级本科生的半导体薄膜技术课程的教材,也可作为从事半导体材料、薄膜材料、光电器件等领域的科研人员、工程技术人员的参考书籍。
,_ag;pt9) 叶志镇,男,1955年5月生于浙江温州。1987年获浙江大学光仪系工学博士学位;毕业后留校工作,1990~1992年留学美国麻省理工学院(MIT);1994年晋升为教授;1996年选为博导。现为浙江大学材料与化学工程学院副院长、浙江大学纳米中心主任。 1988年进入浙江大学材料系,在硅材料国家重点实验室一直从事半导体薄膜教学科研工作,主要研究方向:Zn0薄膜材料制备、物性调控及光电应用;纳米薄层材料高真空CVD技术研发及应用。现兼任国家自然科学基金委信息科学部评审组成员,全国电子材料专委副主任,全国半导体与集成技术、半导体材料和半导体物理专委委员等。
HMY@F_qY`u 《半导体薄膜技术与物理》共分十章,以叶志镇教授“半导体薄膜技术物理”讲义为基础编撰而成。第一章叙述了真空技术的基本知识;第二章至第八章是《半导体薄膜技术与物理》的核心内容,结合各种半导体材料,详细介绍了蒸发、溅射、化学气相沉积、脉冲激光沉积、分子束外延、液相沉积和湿化学合成等半导体薄膜技术与物理;第九章介绍了超晶格的相关知识,超晶格、量子阱是现代新型半导体器件的基础和关键;第十章介绍了典型薄膜半导体器件的制备技术,包括发光二极管、薄膜晶体管和紫外探测器。
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U1_&gy @y
T#Z%y!6 YK{a 第1章 真空技术
xLZd!>C 1.1 真空的基本概念
q8ImrC.'^ 1.1.1 真空的定义
@d"wAZzD? 1.1.2 真空度单位
V,EF'-F 1.1.3 真空区域划分
wve=.n 1.2 真空的获得
(qwdQMj` 1.3 真空度测量
_#o'
+_Z 1.3.1 热传导真空计
D=RU`?L 1.3.2 热阴极电离真空计
l.nH?kK< 1.3.3 冷阴极电离真空计
9SMiJad< 1.4 真空度对薄膜工艺的影响
hnWo|! ,O$ 参考文献
_y .]3JNm nW?R"@Zm 第2章 蒸发技术
]IJv-( 2.1 发展历史与简介
G%u9+XV1# 2.2 蒸发的种类
c-j_IN Gm 2.2.1 电阻热蒸发
8RwX= 2.2.2 电子束蒸发
@6o]chJo 2.2.3 高频感应蒸发
DG;y6#|p 2.2.4 激
光束蒸发
fRTo.u 2.2.5 反应蒸发
bl/,*Wx:4. 2.3 蒸发的应用实例
/NF# +bx 2.3.1 Cu(In,Ga)Se2薄膜
dV 8iwI 2.3.2 ITO薄膜
;1DdjE Tr 参考文献
F=)eLE{W j;K#] 第3章 溅射技术
zGc(Ef5`M6 3.1 溅射基本
原理 p2x [p 3.2 溅射主要
参数 w?csV8ot 3.2.1 溅射闽和溅射产额
!.fw,!}hOD 3.2.2 溅射粒子的能量和速度
NHX>2-b 3.2.3 溅射速率和淀积速率
;K:8#XuV 3.3 溅射装置及工艺
> 8]j
3.3.1 阴极溅射
`Iy4=nVb 3.3.2 三极溅射和四极溅射
u@%|kc` 3.3.3 射频溅射
;mAhY 3.3.4 磁控溅射
]B9 ^3x[: 3.3.5 反应溅射
+?`b=6e(` 3.4 离子成膜技术
!d9AG| 3.4.1 离子镀成膜
'PdmI<eXQ 3.4.2 离子束成膜
2H?d+6Pt3 3.5 溅射技术的应用
3]E(mRX 3.5.1 溅射生长过程
J7-^F)lu- 3.5.2 溅射生长Zno薄膜的性能
l54|Q 参考文献
)"O{D`uX kReG: 第4章 化学气相沉积
.gZZCf&? 4.1 概述
S T8!i`Q$ 4.2 硅化学气相沉积
: cp 4.2.1 CVD反应类型
dYOF2si~% 4.2.2 CVD热力学分析
A~-#@Z 4.2.3 CVD动力学分析
"EftN5?/ 4.2.4 不同硅源的外延生长
f1+qXMs 4.2.5 成核
7el<5chZ 4.2.6 掺杂
p {%t q$}. 4.2.7 外延层质量
Fm j= 4.2.8 生长工艺
1"K*._K 4.3 CVD技术的种类
[ug,jEH"S 4.3.1 常压CVD
&A50'8B2A 4.3.2 低压CVD
CdhSp$> 4.3.3 超高真空CVD
|#5 e|z5( 4.4 能量增强CVD技术
{`.O|_b 4.4.1 等离子增强CVD
E*v]:kok 4.4.2 光增强CVD
WBppKj_M 4.5 卤素输运法
H)JS0
G0 4.5.1 氯化物法
m =&j@ 4.5.2 氢化物法
VTh$a_P> 4.6 MOCVD技术
&^ I+s^\= 4.6.1 MOCVD简介
_GbE^ 4.6.2 MOCVD生长GaAs
&y:CW>T$/X 4.6.3 MOCVD生长GaN
[wcA.g* F 4.6.4 MOCVD生长ZnO
~LE[,
I:q 4.7 特色CVD技术
Z6=~1'<X 4.7.1 选择外延CVD技术
lg/sMF>z\f 4.7.2 原子层外延
U|fTb0fB 参考文献
q9}2 -gKpL\ 第5章 脉冲激光沉积
B7"Fp 5.1 脉冲激光沉积概述
\K`jCsT 5.2 PLD的基本原理
l`rC0kJ] 5.2.1 激光与靶的相互作用
_Dq Qfc% 5.2.2 烧蚀物的传输
kr_oUXiX 5.2.3 烧蚀粒子在衬底上的沉积
*)PG-$6X& 5.3 颗粒物的抑制
.S vyj 5.4 PLD在Ⅱ-Ⅵ族化合物薄膜中的应用
0o68rF5^s 5.4.1 ZnO薄膜的PLD生长
<%,'$^'DS 5.4.2 其他Ⅱ-Ⅵ族化合物的PLD生长
lYQtv=q 参考文献
+J40wFI:y anx&Xj|=.F 第6章 分子束外延
NV!4(_~ 6.1 引言
9A;6x$s 6.2 分子束外延的原理和特点
@P70W<< 6.3 外延生长设备
(UW6F4:$ 6.4 分子束外延生长硅
U1^l+G^,~ 6.4.1 表面制备
w#{l4{X| 6.4.2 外延生长
:,C%01bH|l 6.4.3 掺杂
+{&+L0DfH~ 6.4.4 外延膜的质量诊断
a@SUi~+3 6.5 分子束外延生长Ⅲ-V族化合物半导体材料和
结构 ?Leyz 6.5.1 MBE生长GaAs
%1jdiHTaL 6.5.2 MBE生长InAs/GaAs
rUFFF'm\*a 6.5.3 MBE生长GaN
(n=Aa; 6.6 分子束外延生长Ⅱ一Ⅵ族化合物半导体材料和结构
i^S2%qz 6.6.1 HgCdTe材料
|4xo4%BQ> 6.6.2 CdTe/Si的外延生长
W8.j/K: 6.6.3 HgCdTe/Si的外延生长
j#o3 6.6.4 ZnSe、ZnTe
rU*q@y
Px 6.6.5 ZnO薄膜
"z/V%ZK~f 6.7 分子束外延生长其他半导体材料和结构
eYDgEM
6.7.1 SiC:材料
}*-u$=2 6.7.2 生长小尺寸Ge/Si量子点
f=oeF]=I" 6.7.3 生长有机半导体薄膜
}@*I+\W/ 参考文献
y$h"ty{g o>K &D$J;O 第7章 液相外延
#L1>dHhat 7.1 液相外延生长的原理
u[mY!(>nQ 7.1.1 液相外延基本概况
4@~a<P# 7.1.2 硅液相外延生长的原理
zW)gC9_|m- 7.2 液相外延生长方法和设备
a8NVLD>7} 7.3 液相外延生长的特点
@$ftG 7.4 液相外延的应用实例
5h(jeT8" 7.4.1 硅材料
fn?VNZ`J
7.4.2 Ⅲ-V族化合物半导体材料
_jDS" 7.4.3 碲镉汞(Hgl-rCdrTe)材料
W2n*bNI 7.4.4 SiC材料
ULTNhq
R*n 参考文献
GMTor c'~[!,[b< 第8章 湿化学制备方法
RK;;b~
8.1 溶胶-凝胶技术
xtsL8-u f 0k.v0a7% 第9章 半导体超晶格和量子阱
mLULd} g/o 第10章 半导体器件制备技术
Q4CJ]J` 参考文献
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