《
半导体薄膜技术与
物理》全面
系统地介绍了半导体薄膜的各种制备技术及其相关的物理基础。全书共分十章。第一章概述了真空技术,第二至第八章分别介绍了蒸发、溅射、化学气相沉积、脉冲
激光沉积、分子束外延、液相外延、湿化学合成等各种半导体薄膜的沉积技术,第九章介绍了半导体超晶格、量子阱的基本概念和理论,第十章介绍了典型薄膜半导体器件的制备技术。
21TR_0g&< 《半导体薄膜技术与物理》文字叙述上力求做到深入浅出,内容上深度和宽度相结合,理论和实践相结合,以半导体薄膜技术为重点,结合半导体
材料和器件的性能介绍,同时还介绍了半导体薄膜技术与物理领域的新概念、新进展、新成果和新技术。《半导体薄膜技术与物理》具有内容翔实、概念清楚、图文并茂的特点。
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<]:B 《半导体薄膜技术与物理》读者对象广泛,可作为高等院校材料、物理、
电子、化学等学科的研究生或高年级本科生的半导体薄膜技术课程的教材,也可作为从事半导体材料、薄膜材料、光电器件等领域的科研人员、工程技术人员的参考书籍。
?]><#[?'L 叶志镇,男,1955年5月生于浙江温州。1987年获浙江大学光仪系工学博士学位;毕业后留校工作,1990~1992年留学美国麻省理工学院(MIT);1994年晋升为教授;1996年选为博导。现为浙江大学材料与化学工程学院副院长、浙江大学纳米中心主任。 1988年进入浙江大学材料系,在硅材料国家重点实验室一直从事半导体薄膜教学科研工作,主要研究方向:Zn0薄膜材料制备、物性调控及光电应用;纳米薄层材料高真空CVD技术研发及应用。现兼任国家自然科学基金委信息科学部评审组成员,全国电子材料专委副主任,全国半导体与集成技术、半导体材料和半导体物理专委委员等。
/LFuf`bXV 《半导体薄膜技术与物理》共分十章,以叶志镇教授“半导体薄膜技术物理”讲义为基础编撰而成。第一章叙述了真空技术的基本知识;第二章至第八章是《半导体薄膜技术与物理》的核心内容,结合各种半导体材料,详细介绍了蒸发、溅射、化学气相沉积、脉冲激光沉积、分子束外延、液相沉积和湿化学合成等半导体薄膜技术与物理;第九章介绍了超晶格的相关知识,超晶格、量子阱是现代新型半导体器件的基础和关键;第十章介绍了典型薄膜半导体器件的制备技术,包括发光二极管、薄膜晶体管和紫外探测器。
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y:)^*2GA-B !!\}-r^y% 第1章 真空技术
N.*)-O
1.1 真空的基本概念
;JxL>K( 1.1.1 真空的定义
L:HvrB~ 1.1.2 真空度单位
a0NiVF-m% 1.1.3 真空区域划分
mZ71_4X# 1.2 真空的获得
Q`F1t 1.3 真空度测量
,HP }}K+S 1.3.1 热传导真空计
Avw=*ZW 1.3.2 热阴极电离真空计
[IAUJ09>I 1.3.3 冷阴极电离真空计
$0$sM/ % 1.4 真空度对薄膜工艺的影响
MpOU>\ 参考文献
?^VPO% [ar0{MPYd 第2章 蒸发技术
eN])qw{ 2.1 发展历史与简介
xMr,\r'+ 2.2 蒸发的种类
}Xj25` x 2.2.1 电阻热蒸发
qyM/p.mP 2.2.2 电子束蒸发
6R45+<. 2.2.3 高频感应蒸发
!(lcUdBd 2.2.4 激
光束蒸发
SnE^\I^O 2.2.5 反应蒸发
i~h@}0WR" 2.3 蒸发的应用实例
<Yki8 2.3.1 Cu(In,Ga)Se2薄膜
X['9;1Xr 2.3.2 ITO薄膜
1AAyzAP9` 参考文献
]5'$EAsuW _mSefPl 第3章 溅射技术
",,# q 3.1 溅射基本
原理 /\%<VBx ?q 3.2 溅射主要
参数 C*mVM!D);! 3.2.1 溅射闽和溅射产额
uw \@~ ,d 3.2.2 溅射粒子的能量和速度
6]v} 3.2.3 溅射速率和淀积速率
d-b04Q7DQ 3.3 溅射装置及工艺
&_L%wV|[ 3.3.1 阴极溅射
?%5VaxWJ 3.3.2 三极溅射和四极溅射
DFMpU.BN W 3.3.3 射频溅射
TAXsL&Tz> 3.3.4 磁控溅射
BwT[SI<Sg 3.3.5 反应溅射
>._d2.Q' 3.4 离子成膜技术
n^nE&'[?0g 3.4.1 离子镀成膜
l@);U%\pS 3.4.2 离子束成膜
oz&`3` 3.5 溅射技术的应用
CyIlv0fd} 3.5.1 溅射生长过程
Gd!-fqNa'x 3.5.2 溅射生长Zno薄膜的性能
9rEBq& 参考文献
Na91K4r# )9H5'Wh# 第4章 化学气相沉积
9[/0 4.1 概述
?I=1T. 4.2 硅化学气相沉积
$e+sqgU 4.2.1 CVD反应类型
+Kk1[fh-
4.2.2 CVD热力学分析
IQJ"B6U) 4.2.3 CVD动力学分析
E7$&:xqx 4.2.4 不同硅源的外延生长
MhN;GMH 4.2.5 成核
~kZdep^] 4.2.6 掺杂
*s4|'KS2o 4.2.7 外延层质量
kGD_w 4.2.8 生长工艺
"'CvB0> 4.3 CVD技术的种类
[oh06_rB 4.3.1 常压CVD
@6UtnX'd 4.3.2 低压CVD
vX:}tir[ 4.3.3 超高真空CVD
Dck/Ea 4.4 能量增强CVD技术
L3{(Bu 4.4.1 等离子增强CVD
z_>~=Mm 4.4.2 光增强CVD
v +4v 4.5 卤素输运法
Xc-["y64 4.5.1 氯化物法
es7;eH*O9 4.5.2 氢化物法
egu{}5 4.6 MOCVD技术
aMI;;iL^ 4.6.1 MOCVD简介
ox&5}&\ 4.6.2 MOCVD生长GaAs
_=$~l^Y[ 4.6.3 MOCVD生长GaN
l>\EkUT 4.6.4 MOCVD生长ZnO
t2,II\Kl 4.7 特色CVD技术
.{ v$;g 4.7.1 选择外延CVD技术
:^y!z1\2(7 4.7.2 原子层外延
!R@LC 参考文献
ehW [LRtq dBI-y6R 第5章 脉冲激光沉积
)=f}vHg$ 5.1 脉冲激光沉积概述
kx&JY9( 5.2 PLD的基本原理
}<WJR Y6j 5.2.1 激光与靶的相互作用
RQE]=N 5.2.2 烧蚀物的传输
6La[( ) 5.2.3 烧蚀粒子在衬底上的沉积
VgbNZ{qk@ 5.3 颗粒物的抑制
Pk;w.)kT 5.4 PLD在Ⅱ-Ⅵ族化合物薄膜中的应用
x;[ . ZzQ 5.4.1 ZnO薄膜的PLD生长
eKr>>4,-P 5.4.2 其他Ⅱ-Ⅵ族化合物的PLD生长
qe.QF."y 参考文献
:-{"9cgFR _s;y0$O 第6章 分子束外延
-`'|z+V 6.1 引言
"5N4
of
8 6.2 分子束外延的原理和特点
65aYH4" 6.3 外延生长设备
K e4oLF2 6.4 分子束外延生长硅
^ = C> 6.4.1 表面制备
]~;*9`: 6.4.2 外延生长
lfAy$qP"} 6.4.3 掺杂
,g?ny<#o 6.4.4 外延膜的质量诊断
=G}a%)?As\ 6.5 分子束外延生长Ⅲ-V族化合物半导体材料和
结构 qlcd[Y*B 6.5.1 MBE生长GaAs
A"S"La%" 6.5.2 MBE生长InAs/GaAs
9(]_so24, 6.5.3 MBE生长GaN
IBNg2Y 6.6 分子束外延生长Ⅱ一Ⅵ族化合物半导体材料和结构
_4>DuklH, 6.6.1 HgCdTe材料
[h-6;.e 6.6.2 CdTe/Si的外延生长
QD.5oS 6.6.3 HgCdTe/Si的外延生长
jnqp"
Ult> 6.6.4 ZnSe、ZnTe
-o+t&m 6.6.5 ZnO薄膜
<~mqb=qA$ 6.7 分子束外延生长其他半导体材料和结构
%R$)bGT 6.7.1 SiC:材料
5x@ U< 6.7.2 生长小尺寸Ge/Si量子点
<lB2Nv-, 6.7.3 生长有机半导体薄膜
"\*)KH`C 参考文献
IX+Jf? &^ D#<y
pJR 第7章 液相外延
-`4]u!A 7.1 液相外延生长的原理
{APfSD_4 7.1.1 液相外延基本概况
'`upSJ;e 7.1.2 硅液相外延生长的原理
vGyQ306 7.2 液相外延生长方法和设备
XI`_PQco 7.3 液相外延生长的特点
aX.BaK6I 7.4 液相外延的应用实例
\!-]$&,j4 7.4.1 硅材料
I~l_ky|a ! 7.4.2 Ⅲ-V族化合物半导体材料
L@\t]
~ 7.4.3 碲镉汞(Hgl-rCdrTe)材料
q-t%spkl 7.4.4 SiC材料
@zS/J,:v} 参考文献
G5qsnTxUJ {b- C,J 第8章 湿化学制备方法
E{6ku=2F 8.1 溶胶-凝胶技术
rv[BL.qV >IQ&*Bb 第9章 半导体超晶格和量子阱
@Xoh@:j\ 第10章 半导体器件制备技术
.U(6])%;@ 参考文献
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