《
半导体薄膜技术与
物理》全面
系统地介绍了半导体薄膜的各种制备技术及其相关的物理基础。全书共分十章。第一章概述了真空技术,第二至第八章分别介绍了蒸发、溅射、化学气相沉积、脉冲
激光沉积、分子束外延、液相外延、湿化学合成等各种半导体薄膜的沉积技术,第九章介绍了半导体超晶格、量子阱的基本概念和理论,第十章介绍了典型薄膜半导体器件的制备技术。
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G9 《半导体薄膜技术与物理》文字叙述上力求做到深入浅出,内容上深度和宽度相结合,理论和实践相结合,以半导体薄膜技术为重点,结合半导体
材料和器件的性能介绍,同时还介绍了半导体薄膜技术与物理领域的新概念、新进展、新成果和新技术。《半导体薄膜技术与物理》具有内容翔实、概念清楚、图文并茂的特点。
S.<4t*, 《半导体薄膜技术与物理》读者对象广泛,可作为高等院校材料、物理、
电子、化学等学科的研究生或高年级本科生的半导体薄膜技术课程的教材,也可作为从事半导体材料、薄膜材料、光电器件等领域的科研人员、工程技术人员的参考书籍。
d9%P[(yM^ 叶志镇,男,1955年5月生于浙江温州。1987年获浙江大学光仪系工学博士学位;毕业后留校工作,1990~1992年留学美国麻省理工学院(MIT);1994年晋升为教授;1996年选为博导。现为浙江大学材料与化学工程学院副院长、浙江大学纳米中心主任。 1988年进入浙江大学材料系,在硅材料国家重点实验室一直从事半导体薄膜教学科研工作,主要研究方向:Zn0薄膜材料制备、物性调控及光电应用;纳米薄层材料高真空CVD技术研发及应用。现兼任国家自然科学基金委信息科学部评审组成员,全国电子材料专委副主任,全国半导体与集成技术、半导体材料和半导体物理专委委员等。
XGjFb4Tw7 《半导体薄膜技术与物理》共分十章,以叶志镇教授“半导体薄膜技术物理”讲义为基础编撰而成。第一章叙述了真空技术的基本知识;第二章至第八章是《半导体薄膜技术与物理》的核心内容,结合各种半导体材料,详细介绍了蒸发、溅射、化学气相沉积、脉冲激光沉积、分子束外延、液相沉积和湿化学合成等半导体薄膜技术与物理;第九章介绍了超晶格的相关知识,超晶格、量子阱是现代新型半导体器件的基础和关键;第十章介绍了典型薄膜半导体器件的制备技术,包括发光二极管、薄膜晶体管和紫外探测器。
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^6LnB#C&
Ed2A\S6tl h ^s8LE3 第1章 真空技术
!+QfQghAT 1.1 真空的基本概念
WJ[>p
ELT, 1.1.1 真空的定义
@7V~CNB+ 1.1.2 真空度单位
aUA)p}/: 1.1.3 真空区域划分
a#& ( i 1.2 真空的获得
nr,Z0 1.3 真空度测量
}d;6.~Gw 1.3.1 热传导真空计
Xil;`8h 1.3.2 热阴极电离真空计
>7S@3,C3ke 1.3.3 冷阴极电离真空计
)}t't" 1.4 真空度对薄膜工艺的影响
zgH*B*)bj 参考文献
*;~u 5y2b S kB*w'k 第2章 蒸发技术
{t!7r_hj 2.1 发展历史与简介
BBv+*jj 2.2 蒸发的种类
fGRV]6?V 2.2.1 电阻热蒸发
}&==;7,O 2.2.2 电子束蒸发
4- Jwy 2.2.3 高频感应蒸发
*c&|2EsZ 2.2.4 激
光束蒸发
&ODo7@v`1 2.2.5 反应蒸发
3wcFR0f 2.3 蒸发的应用实例
?( z"Ub] 2.3.1 Cu(In,Ga)Se2薄膜
m]vV.pwv 2.3.2 ITO薄膜
FouN}X6 参考文献
9cU9'r# h <gfRAeXA 第3章 溅射技术
E-FR
w 3.1 溅射基本
原理 !6@ 'H4cb= 3.2 溅射主要
参数 Pz\K3- 3.2.1 溅射闽和溅射产额
.>P:{'' 3.2.2 溅射粒子的能量和速度
+mzLOJed 3.2.3 溅射速率和淀积速率
HEIg_6sb 3.3 溅射装置及工艺
P".IW.^kk~ 3.3.1 阴极溅射
pe\Nwq 3.3.2 三极溅射和四极溅射
QCE7VV1Rw 3.3.3 射频溅射
gq/Za/!6 3.3.4 磁控溅射
{ I\og 3.3.5 反应溅射
U V*Ruy- 3.4 离子成膜技术
85;bJfY 3.4.1 离子镀成膜
TsG x2[ 3.4.2 离子束成膜
GQ>0E 3.5 溅射技术的应用
wJCw6&D,/ 3.5.1 溅射生长过程
(V]3w 3.5.2 溅射生长Zno薄膜的性能
AX<f$%iqD 参考文献
d!YP{y P zB~< @ 第4章 化学气相沉积
hpPacN 4.1 概述
]sk=V.GGQ 4.2 硅化学气相沉积
V[K N,o{6 4.2.1 CVD反应类型
2zW IB[ 4.2.2 CVD热力学分析
=!xX{o?64 4.2.3 CVD动力学分析
#Lp}j?Y 4.2.4 不同硅源的外延生长
k0K$OX*:e 4.2.5 成核
'?L^Fa_H 4.2.6 掺杂
g= Vu'p 3u 4.2.7 外延层质量
6=;(~k&x9: 4.2.8 生长工艺
EG\;l9T 4.3 CVD技术的种类
4gsQ:3 4.3.1 常压CVD
t"q'"FX 4.3.2 低压CVD
f:<BUqa 4.3.3 超高真空CVD
a%`%("g! 4.4 能量增强CVD技术
!*NDsC9 4.4.1 等离子增强CVD
Zis,%XY 4.4.2 光增强CVD
dnU-v7k,{ 4.5 卤素输运法
Br7q. 4.5.1 氯化物法
3IlVSR^py 4.5.2 氢化物法
k:R\;l5 4.6 MOCVD技术
k4{|Xn
4.6.1 MOCVD简介
iaeNY;T 4.6.2 MOCVD生长GaAs
10*Tk 8 4.6.3 MOCVD生长GaN
fe98Y-e 4.6.4 MOCVD生长ZnO
9&AO 4.7 特色CVD技术
'yq?xlIj 4.7.1 选择外延CVD技术
5~@-LXqL 4.7.2 原子层外延
>19s:+ 参考文献
~$5XiY8A YZ4`b- 第5章 脉冲激光沉积
MyllL@kP 5.1 脉冲激光沉积概述
iBSg`"S^]C 5.2 PLD的基本原理
c&',#.9 5.2.1 激光与靶的相互作用
4^l 9d 5.2.2 烧蚀物的传输
$S|+U}]C 5.2.3 烧蚀粒子在衬底上的沉积
wGKxT
ap 5.3 颗粒物的抑制
>Wt@O\k 5.4 PLD在Ⅱ-Ⅵ族化合物薄膜中的应用
4A6Y
\Z XI 5.4.1 ZnO薄膜的PLD生长
A%Ka)UU+n 5.4.2 其他Ⅱ-Ⅵ族化合物的PLD生长
O& Sk}^ 参考文献
d\]KG(T SYA~I-OYc 第6章 分子束外延
A+* lV*@0 6.1 引言
vu\W5M 6.2 分子束外延的原理和特点
*$fM}6} 6.3 外延生长设备
}%/mPbd# 6.4 分子束外延生长硅
ofQs
/
6.4.1 表面制备
ZF[W<Q 6.4.2 外延生长
klT?h[I! 6.4.3 掺杂
Yz_}* 6.4.4 外延膜的质量诊断
%"A8Af**I 6.5 分子束外延生长Ⅲ-V族化合物半导体材料和
结构 G&{yM2:E 6.5.1 MBE生长GaAs
l!88|~ 6.5.2 MBE生长InAs/GaAs
PKrG6%
W+ 6.5.3 MBE生长GaN
>j hcSvM6 6.6 分子束外延生长Ⅱ一Ⅵ族化合物半导体材料和结构
:p/=KI_ 6.6.1 HgCdTe材料
1Ys=KA-!_x 6.6.2 CdTe/Si的外延生长
E2>{se Z 6.6.3 HgCdTe/Si的外延生长
_.; PLq~0 6.6.4 ZnSe、ZnTe
0j!3\=P$ 6.6.5 ZnO薄膜
w!6{{m 6.7 分子束外延生长其他半导体材料和结构
\#:
W 6.7.1 SiC:材料
w)+1^eW 6.7.2 生长小尺寸Ge/Si量子点
;QXg*GNAv$ 6.7.3 生长有机半导体薄膜
cLf90|YFp 参考文献
49=pB,H;H Q^2dZXk~ 第7章 液相外延
5_E8
RAG 7.1 液相外延生长的原理
}vZf&ib-
7.1.1 液相外延基本概况
-^m?%_<50l 7.1.2 硅液相外延生长的原理
HZRFE[ 9nb 7.2 液相外延生长方法和设备
)Su>8f[?e 7.3 液相外延生长的特点
)y*&&q
7.4 液相外延的应用实例
ZL<X*l2 7.4.1 硅材料
x;u#ec4 7.4.2 Ⅲ-V族化合物半导体材料
g:Qq%' 7.4.3 碲镉汞(Hgl-rCdrTe)材料
&@oI/i&0B 7.4.4 SiC材料
yM@sGz6c! 参考文献
@iuX~QA[9 (x2?{\? 第8章 湿化学制备方法
h#r~2\q4ei 8.1 溶胶-凝胶技术
^t4^gcoZ4Z g@>llve{ 第9章 半导体超晶格和量子阱
u.X]K:Yow 第10章 半导体器件制备技术
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参考文献
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