《现代
光学薄膜技术》第一篇主要介绍光学薄膜特征的理论计算、光学多层膜的设计理论和技术,由唐晋发教授编写。第二篇主人介绍光一膜的制造技术,包括以物理气相淀积技术为代表的成膜技术,涵盖真空设备、薄膜
材料、制备
参数控制技术、薄膜厚度监控技术、膜厚均匀性以及制备参数对薄膜微观
结构影响等。第三篇主要介绍薄膜光学特性与光学常数的检测技术、薄膜机械性能的评价技术等。由于光学薄膜技术又是一门交叉性很强的学科,涉及到光电技术、计算机、真空技术、材料科学、自动控制技术等领域。
WW@d:R 光学薄膜是一门综合性非常强的工程技术科学。它的理论基础是电磁场理论和麦克斯韦方程,涉及光在传播过程中,通过分层介质的反射、透射和偏振特性等。
~RD+.A 为了满足部分来自不同领域的光学薄膜工作者学习《现代光学薄膜技术》的需要,增加了一个附录,主要介绍几个数学物理基础理论。
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u(!&:A9JFd A$WZF/x 第一篇光学多层膜设计
BQ jK8c< 第1章光学薄膜特性的理论计算
[0UGuj 1.1单色平面电磁波
Pe2w sR"_U 1.2平面电磁波在单一界布的反射和折射
Cb:gH}j 1.3光学薄膜特性的理论计算
RJeSi`19T) 1.4光学多层膜内的电场强度分布
7_# 1Ec|; 习题
5IKL#V`3a 第2章光学薄膜的设计理论
="d*E/## 2.1矢量作图法
Y\=FLO9 2.2有效界面法
\sA*V%n 2.3对称膜系的等效层
&J!aw 2.4导纳图解技术
|/ }\6L] 习题
RL[E X5U 第3章光学薄膜
系统的设计
F6hmku>\1 3.1减反射膜
vOgC>_x7 3.2分束镜
8by@iQ 3.3高反射膜
}!TL2er_ 3.4干涉截止滤光片
AddeaB5< 3.5带通滤光片
?U7) XvQ 3.6特殊膜系
V|>oGtt7 习题
T$=4O9G 参考文献
J`*iZvW#Bx 第二篇薄膜制备技术和微结构特性
C_LvZ= 第4章薄膜制备技术
{k(eNr, 4.1真空淀积工艺
>ulY7~wUv 4.2光学薄膜材料
(3dPLp:K 4.3薄膜厚度监控艺术
ueG|*[ 4.4膜层厚度的均匀性
~}DQT>7$ 习题
Yct5V,X^ 参考文献
n,O5".aa< 第5章制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响
4ujvD ^ 5.1薄膜的形成过程
jKIc09H| 5.2薄膜的微观结构
y }08~L?2 5.3薄膜的成分
@uH#qg7 5.4微观结构和成分对薄膜特性的影响
W9zE{)Sc~ 5.5薄膜微观结构和改善
c6Q(Ygc
习题
>\A8#@1 参考文献
H0"= Vs,n 第三篇光学薄膜检测技术
$ex!!rqN| 第6章薄膜透射率和反射率测量
iGXBqUQ: 6.1光谱分析测试系统的基本
原理 -p-0;Hy 6.2薄膜反射率的测试
Cz^Q5F` 6.3薄膜反射率的测量
Zt E##p 6.4利用
激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗
a1N!mQ^ 6.5总结
B8I4[@m>w\ 习题
W2wpcc 参考文献
_w ]4~V9 第7章薄膜的吸收和散射测量
1f(DU4h 7.1激光量热计基本原理
N6Z{BLZ 7.2光声、光热偏转法测量薄膜吸收
s4T}Bsr 7.3薄膜散射的标量理论和总积分散射测量
RD<75]**{ 7.4散射光的矢量理论和角分布测量
;2giZ\ 7.5谐振腔衰荡薄膜损耗检测法
iz"3\{aN
7.6薄膜导波传播衰减系数法
Z%gx%$ 7.7总结
y~<@x. 习题
AN9[G 参考文献
'q%%m/,VPQ 第8章薄膜光学常数的测量
,,=apyr#& 8.1从透射、反射
光谱确定薄膜的光学常数
v@EQ^C2.& 8.2其他薄膜的光学常数测试方法
gd6Dm4q( 8.3薄膜波导法
Ov9Q?8KzM 8.4光学薄膜厚度的测试
@=uN\) 1 8.5总结
'7Ig.K& 习题
*9gD*AnM, 参考文献
CL7Nr@ 第9章薄膜非光学特性的检测技术
W$?e<@ 9.1薄膜的力学特性检测技术
#^mqQRpgq 9.2薄膜器件的环境试验
R21~Q:b! 9.3薄膜的微结构与化学成分检测
kB\kpW 9.4总结
eK`PxoTI-I 习题
O%1/r* 参考文献
#2%([w 附录
keqcV23k 附录A复数与复数运算
%c6E-4b A.1复数的概念
0-2"FdeQU A.2复数的三角函数及指数表示方法
yFpySvj} A.3复数在物理中的运用
i</J @0}y 附录B矩陈及矩陈运算
@Z\~ B.1矩陈的定义
mrZ`Lm#>pS B.2矩陈运算
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