《现代
光学薄膜技术》第一篇主要介绍光学薄膜特征的理论计算、光学多层膜的设计理论和技术,由唐晋发教授编写。第二篇主人介绍光一膜的制造技术,包括以物理气相淀积技术为代表的成膜技术,涵盖真空设备、薄膜
材料、制备
参数控制技术、薄膜厚度监控技术、膜厚均匀性以及制备参数对薄膜微观
结构影响等。第三篇主要介绍薄膜光学特性与光学常数的检测技术、薄膜机械性能的评价技术等。由于光学薄膜技术又是一门交叉性很强的学科,涉及到光电技术、计算机、真空技术、材料科学、自动控制技术等领域。
fkbHfBp[(A 光学薄膜是一门综合性非常强的工程技术科学。它的理论基础是电磁场理论和麦克斯韦方程,涉及光在传播过程中,通过分层介质的反射、透射和偏振特性等。
gi\2bzWkbX 为了满足部分来自不同领域的光学薄膜工作者学习《现代光学薄膜技术》的需要,增加了一个附录,主要介绍几个数学物理基础理论。
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ZfsM($|a Vb yGr~t 第一篇光学多层膜设计
.0+=#G> 第1章光学薄膜特性的理论计算
T#KF@8'- 1.1单色平面电磁波
6Lj=%& 1.2平面电磁波在单一界布的反射和折射
O<[h 1.3光学薄膜特性的理论计算
xMsSZ{j%5 1.4光学多层膜内的电场强度分布
}-4@EC> 习题
Xo[j*<=0 第2章光学薄膜的设计理论
8S/SXyS 2.1矢量作图法
#[ZToE4 2.2有效界面法
g^ .g9" 2.3对称膜系的等效层
69/aP= 2.4导纳图解技术
{,xI|u2R 习题
J< Ljg<t+ 第3章光学薄膜
系统的设计
9j<qi\SSI 3.1减反射膜
qw?#~"Ca. 3.2分束镜
$1lI6 =
, 3.3高反射膜
M~/7thP{ 3.4干涉截止滤光片
11Sflj 3.5带通滤光片
T6mbGE*IeE 3.6特殊膜系
-7-r~zmr 习题
A.- j5C4 参考文献
QiO4fS'~W 第二篇薄膜制备技术和微结构特性
0APh=Alq 第4章薄膜制备技术
^V6cx2M 4.1真空淀积工艺
5\!t!FL_ 4.2光学薄膜材料
GO&~)Vh&7 4.3薄膜厚度监控艺术
"-
2HKs 4.4膜层厚度的均匀性
.h c-uaL 习题
nUb0R~wr$G 参考文献
x;N@_FZ7KY 第5章制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响
J n>3c 5.1薄膜的形成过程
<e&88{jJ 5.2薄膜的微观结构
-nK\+bTL} 5.3薄膜的成分
fG dT2}gd 5.4微观结构和成分对薄膜特性的影响
\iL{q^Im 5.5薄膜微观结构和改善
B|I9Ex~L 习题
M$J{clr 参考文献
Z01BzIsR 第三篇光学薄膜检测技术
'0b!lVe 第6章薄膜透射率和反射率测量
t .\<Q#bN# 6.1光谱分析测试系统的基本
原理 mH`K~8pRg 6.2薄膜反射率的测试
[pY1\$, 6.3薄膜反射率的测量
srL|Y&8 p 6.4利用
激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗
4e`GMtp 6.5总结
r<MW8 习题
9N[(f-` 参考文献
WR|n> i@m 第7章薄膜的吸收和散射测量
7=3'PfS 7.1激光量热计基本原理
};{Qx 7.2光声、光热偏转法测量薄膜吸收
+4
W6{` 7.3薄膜散射的标量理论和总积分散射测量
<ztcCRov 7.4散射光的矢量理论和角分布测量
sOVbz2\yb 7.5谐振腔衰荡薄膜损耗检测法
EN2H[i+, 7.6薄膜导波传播衰减系数法
bT>1S2s 7.7总结
VZz>)Kz: 习题
Q$bi:EyJXc 参考文献
]nIH0k3y 第8章薄膜光学常数的测量
f[ 'uka.U 8.1从透射、反射
光谱确定薄膜的光学常数
fvE:'( #? 8.2其他薄膜的光学常数测试方法
}+@GgipyO. 8.3薄膜波导法
?zpN09e 8.4光学薄膜厚度的测试
w|,BTM:e 8.5总结
B0+r 习题
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