《现代
光学薄膜技术》第一篇主要介绍光学薄膜特征的理论计算、光学多层膜的设计理论和技术,由唐晋发教授编写。第二篇主人介绍光一膜的制造技术,包括以物理气相淀积技术为代表的成膜技术,涵盖真空设备、薄膜
材料、制备
参数控制技术、薄膜厚度监控技术、膜厚均匀性以及制备参数对薄膜微观
结构影响等。第三篇主要介绍薄膜光学特性与光学常数的检测技术、薄膜机械性能的评价技术等。由于光学薄膜技术又是一门交叉性很强的学科,涉及到光电技术、计算机、真空技术、材料科学、自动控制技术等领域。
7atYWz~yG 光学薄膜是一门综合性非常强的工程技术科学。它的理论基础是电磁场理论和麦克斯韦方程,涉及光在传播过程中,通过分层介质的反射、透射和偏振特性等。
!9"R4~4 为了满足部分来自不同领域的光学薄膜工作者学习《现代光学薄膜技术》的需要,增加了一个附录,主要介绍几个数学物理基础理论。
1A-8,) xgR* j 市场价:¥64.00
](0Vm_es 优惠价:¥51.20 为您节省:12.80元 (80折)
Za!c=(5
tL+8nTL
cM4?Ggn 第一篇光学多层膜设计
LO61J_J< 第1章光学薄膜特性的理论计算
g}^/8rW 1.1单色平面电磁波
YY!(/<VI 1.2平面电磁波在单一界布的反射和折射
+lha^){ 1.3光学薄膜特性的理论计算
TiBE9 1.4光学多层膜内的电场强度分布
R~*Y@_oD 习题
)+t5G>yKK 第2章光学薄膜的设计理论
H[N&Wiq/| 2.1矢量作图法
)Qxv9:X 2.2有效界面法
Y)u}+Yg 2.3对称膜系的等效层
^RWt 2.4导纳图解技术
\>=YxB q 习题
3/rvSR! 第3章光学薄膜
系统的设计
K[sM)_I 3.1减反射膜
x}x@_w 3.2分束镜
A}y1v;FB 3.3高反射膜
{t/!a0\HS 3.4干涉截止滤光片
u
F*cS&'Z 3.5带通滤光片
^YIOS]d>8# 3.6特殊膜系
$PS5xD~@ 习题
NuO>zAu 参考文献
')1sw%[2 第二篇薄膜制备技术和微结构特性
,IJ Nuu\ 第4章薄膜制备技术
pO+1?c43 4.1真空淀积工艺
3Xh&l[. 4.2光学薄膜材料
f[}SS]d:E 4.3薄膜厚度监控艺术
pV("NJj! 4.4膜层厚度的均匀性
DpS6>$v8t 习题
\[oHt:$do 参考文献
l.)N 第5章制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响
dY-a,ch"8p 5.1薄膜的形成过程
zRJy3/> 5.2薄膜的微观结构
hE6tu' 5.3薄膜的成分
|(P;2q4> 5.4微观结构和成分对薄膜特性的影响
Ro1' L1: 5.5薄膜微观结构和改善
I(<G;ft<} 习题
8&UuwZ6i- 参考文献
F{"%ey"> 第三篇光学薄膜检测技术
I@S<D"af 第6章薄膜透射率和反射率测量
F>b6fUtR 6.1光谱分析测试系统的基本
原理 -.*\J|S@g 6.2薄膜反射率的测试
'j3'n0o 6.3薄膜反射率的测量
R$@.{d&:w 6.4利用
激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗
p 5o;Rvr 6.5总结
&V:dcJ^Q 习题
;:e,C@Fm 参考文献
R]Yhuo9,&n 第7章薄膜的吸收和散射测量
nDOIE)# 7.1激光量热计基本原理
Y@4vQm+ 7.2光声、光热偏转法测量薄膜吸收
)ED[cYGx 7.3薄膜散射的标量理论和总积分散射测量
hrL<jcv| 7.4散射光的矢量理论和角分布测量
;p_X7N 7.5谐振腔衰荡薄膜损耗检测法
^]DWrmy 7.6薄膜导波传播衰减系数法
OX`n`+^D 7.7总结
Kmnr}Lp9 习题
^`!Daqk 参考文献
PW`Tuj 第8章薄膜光学常数的测量
O+8`. 8.1从透射、反射
光谱确定薄膜的光学常数
Ax^'unfQ: 8.2其他薄膜的光学常数测试方法
:9YQX(l8 8.3薄膜波导法
`l+SJLyJ% 8.4光学薄膜厚度的测试
[]]3"n 8.5总结
c'B"Onu@m* 习题
(>K$gAQH 参考文献
31*6 ;( 第9章薄膜非光学特性的检测技术
Xp~]kRm9 9.1薄膜的力学特性检测技术
(Lo2fY5 9.2薄膜器件的环境试验
[dJ\|= 9.3薄膜的微结构与化学成分检测
>" .qFn g 9.4总结
XJzXxhk2 习题
0c5_L6_z 参考文献
K(d!0S 附录
C#~MR+; 附录A复数与复数运算
5 q , A.1复数的概念
<C$<