《现代
光学薄膜技术》第一篇主要介绍光学薄膜特征的理论计算、光学多层膜的设计理论和技术,由唐晋发教授编写。第二篇主人介绍光一膜的制造技术,包括以物理气相淀积技术为代表的成膜技术,涵盖真空设备、薄膜
材料、制备
参数控制技术、薄膜厚度监控技术、膜厚均匀性以及制备参数对薄膜微观
结构影响等。第三篇主要介绍薄膜光学特性与光学常数的检测技术、薄膜机械性能的评价技术等。由于光学薄膜技术又是一门交叉性很强的学科,涉及到光电技术、计算机、真空技术、材料科学、自动控制技术等领域。
)Cu2xRr^` 光学薄膜是一门综合性非常强的工程技术科学。它的理论基础是电磁场理论和麦克斯韦方程,涉及光在传播过程中,通过分层介质的反射、透射和偏振特性等。
5'\detV_ 为了满足部分来自不同领域的光学薄膜工作者学习《现代光学薄膜技术》的需要,增加了一个附录,主要介绍几个数学物理基础理论。
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,\*)5 Upa F>,kM 第一篇光学多层膜设计
?wP/l 第1章光学薄膜特性的理论计算
`=V p 0tPI 1.1单色平面电磁波
(/7b8)g 1.2平面电磁波在单一界布的反射和折射
'Zs3b4n8 1.3光学薄膜特性的理论计算
xv"v=' 1.4光学多层膜内的电场强度分布
j(A>M_f; 习题
6(=B`Z}a 第2章光学薄膜的设计理论
mW2 D"-s 2.1矢量作图法
nz|6CP 2.2有效界面法
W_L*S4 ~ 2.3对称膜系的等效层
|'Z+`HI 2.4导纳图解技术
ayI<-s- 习题
P!Brw72 第3章光学薄膜
系统的设计
sZI"2[bk 3.1减反射膜
h0R.c|g[ 3.2分束镜
\o*w#e[M 3.3高反射膜
IClw3^\l 3.4干涉截止滤光片
a,36FF~& 3.5带通滤光片
JC0# pU; 3.6特殊膜系
Q6)?#7<jy 习题
N5c*#lHI 参考文献
$DXO7;# 第二篇薄膜制备技术和微结构特性
ZC]|s[ 第4章薄膜制备技术
0W0GSDx 4.1真空淀积工艺
Wv|CJN;4 4.2光学薄膜材料
o}DRp4;Ka 4.3薄膜厚度监控艺术
4> uN H5 4.4膜层厚度的均匀性
_TLspqi 习题
+`bnQn]x+ 参考文献
eR4ib-nS 第5章制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响
p>,D F9W` 5.1薄膜的形成过程
W[I$([ 5.2薄膜的微观结构
#|K{txC
5.3薄膜的成分
0C;Js\>3] 5.4微观结构和成分对薄膜特性的影响
~/X8Hy!- 5.5薄膜微观结构和改善
WMHYOJR 习题
[n2zdiiBd 参考文献
L(bDk'zi 第三篇光学薄膜检测技术
X!:J1'FE 第6章薄膜透射率和反射率测量
:pM)I5MN[ 6.1光谱分析测试系统的基本
原理 #K0/ >W 6.2薄膜反射率的测试
<THwl/a 6.3薄膜反射率的测量
oi]XSh[_s 6.4利用
激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗
%%F,G 6.5总结
1.M<u)1GU 习题
/O<~n%< G 参考文献
#8sy QWlG 第7章薄膜的吸收和散射测量
4qQE9fxdY 7.1激光量热计基本原理
P4HoKoj2` 7.2光声、光热偏转法测量薄膜吸收
zJP jsD] 7.3薄膜散射的标量理论和总积分散射测量
*xJ ]e. 7.4散射光的矢量理论和角分布测量
yUWc8]9\W 7.5谐振腔衰荡薄膜损耗检测法
k,$/l1D 7.6薄膜导波传播衰减系数法
hP8w3gl_ 7.7总结
Zr1"'+- 习题
#q K.AZi 参考文献
4evNZ
Q 第8章薄膜光学常数的测量
0J^Z)U>j 8.1从透射、反射
光谱确定薄膜的光学常数
*Lxt{z`9 8.2其他薄膜的光学常数测试方法
[ )
0JI6 8.3薄膜波导法
`y61Bz 8.4光学薄膜厚度的测试
=dH=3iCG 8.5总结
uB^"A ;0v 习题
\#JXch 参考文献
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CD> 第9章薄膜非光学特性的检测技术
1TX3/]: 9.1薄膜的力学特性检测技术
t{yj`Vg 9.2薄膜器件的环境试验
?A;RTM 9.3薄膜的微结构与化学成分检测
X $V_ 9.4总结
C+P.7]?&