Auto Curve Tracer IV自动曲线追踪仪

*)+K+J  
Auto Curve Tracer IV自动曲线追踪仪应用范围： ups]k?4  
1.测量封装后芯片的I/V曲线，可以通过好坏样品的曲线比对确认芯片的漏电情况，可以帮助确认 EMMI或Delayer等后续操作的方案，以便快速的找到异常位置----为FA电性分析第一步骤。 @Yv+L)  
2.快速筛选大量IC在电性功能上的好与坏（良品与不良品）。 >^<%9{  
3.Open/Short Test，使用I/V curve trace测量，适用于客退品的分析，可以简单快速确认芯片状 态----是短路还是开路。