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摘要 cYTX)]^u l>9ZAI\^ 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 [! :.9 bsmnh_YRj = %7:[#n 3' 6>zp 建模任务 ',*
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@ B3@M ~c3CyOab 总结—元件… o0Hh&:6!M 6i\b& zn3i2MWS ,k@fXoW
\d%SC <s I#f<YbzD 系统光线追迹结果 1}!f.cWV( )f'cy@b 58MBG&a% *4[3?~_B#6 完美的减反射(AR)涂层 J74nAC%J^ `h
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