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摘要 6wZ)GLW[ `X<a(5[vV3 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 F#.ph?W /+m2|Ij( |n~,{= 6r`Xi& 建模任务 Xx\,<8Xn CW]Th-xc NB-%Tp*d
(ki= s+W- R 'fEw3^ 准直系统 kr-5O0tmf ,
YlS %N0m $* {$v^2K'C 非序列追迹 YWL7.Y>%5 WADEDl&,'
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y @3bVjQ`4f 总结—元件… vb}c)w
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d qO]2d zV(aw~CbZ 系统光线追迹结果 Ty7)j]b"zl VCvf'$4(X c:<a"$ w(K|0|t 完美的减反射(AR)涂层 }{Ra5-PY >P//]nn [ 6Sk>j kfZ(:3W$ 有内部反射 <2~DI0pp( ew]G@66
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