切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 265阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5623
    光币
    22267
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-11-14
    摘要 6wZ)GLW[  
    `X<a(5[vV3  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    F#.ph?W  
    /+m2|Ij(  
    |n~,{=  
    6r`Xi&  
    建模任务 Xx\,<8Xn  
    CW]Th-xc  
    NB-%Tp*d  
    (ki= s+W-  
    R'fEw3^  
    准直系统 kr-5O0tmf  
     , YlS  
    %N0m$*  
    {$ v^2K'C  
    序列追迹 YWL7.Y>%5  
    WADEDl&,'  
    )c532 y  
    @3bVjQ`4f  
    总结—元件 vb}c)w dp?  
    ^sqzlF  
    e&!8UYP  
    )UyJ.!Fly  
    dqO]2d  
    zV(aw~CbZ  
    系统光线追迹结果 Ty7)j]b"zl  
    VCvf'$4(X  
    c:<a"$  
    w(K|0|t  
    完美的减反射(AR)涂层 }{Ra5-PY  
    >P//]nn  
    [6Sk>j  
    kfZ(:3W$  
    有内部反射 <2~DI0pp(  
    ew]G@66  
    m!=5Q S3Z  
     
    分享到