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摘要 fb:j%1WF STw#lU) %( 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 ~ Yngkt LtKI3ou dN}#2Bo= 4r0b)Y&I 建模任务 k` (jkbEZ LJTQaItdqJ PeE/iZ. ~w;]c_{.b uH;-z_Wpn! 准直系统 A
&9(mB G>+1*\c O8W7<Wc|z H7kPM[ 非序列追迹 fQ=MJ7l e<#DdpX!H~ "h7tnMS n7YEG-J 总结—元件… ^+9sG$T_EV kY&h~Q KB!|B.ChN( Vax^8 - vHE^"l5 v OLj\-w^ 系统光线追迹结果 <x),,a=X NCf"tK'5n q(5+xSg"gK lw(e3j 完美的减反射(AR)涂层 l@hjP1o }V|{lvt. Zf>^4_x3P A;u" <KG? 有内部反射 TV}}dw 9lo[&^< 9ElCg"
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