切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 632阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6573
    光币
    27014
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-11-14
    摘要 V%&t'H{  
    Lys4l$J]  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    2XrPgq'  
    jzc/Olb  
    'X{cDdS^  
    ")7,ZN;  
    建模任务 ^a|$z$spf  
    }.|\<8_  
    .EVy?-   
    vBsd.2t~  
    w3:WvA5jt  
    准直系统 BR\% aU$u  
    70&v`"  
    i](,s.  
    OxX{[|!`  
    序列追迹 8%JxXtWW`  
    G5Y5_r6Gu  
    %JDG aG'  
    1Nx.aji  
    总结—元件 ]9)pFL  
    TCp!4-~,  
    m}0US;c#f  
    ayyn6a8  
    4vTO  #F  
    joDnjz=  
    系统光线追迹结果 vP&dvAUF  
    @Fqh]1t  
    ws tI8">  
    vJ>A >R CB  
    完美的减反射(AR)涂层 t$r^'ZN  
    0"o<( 1  
    -@i)2J_WP  
    l.1)%q&@^  
    有内部反射 NUb^!E"  
    Y+<C[Fiq  
    Y5=~>*e  
     
    分享到