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摘要 S&yKi M)m( 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 z|KQiLza yf >
rG (d9G` EC`!&Yp+ 建模任务 Z2Q'9C},m F0.Rv): b-)m'B}`
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ec8iZ8h8 `, lnBP3D" 系统光线追迹结果 4Nb&(p %`]&c)Z be<7Vy]j g!QX#_~Il 完美的减反射(AR)涂层 [Re.sX}$Y f9%M:cl "dkDT7 /v <FH} 有内部反射 /8cfdP Ba (BT{\|,V_m
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