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摘要 eTZ2f "UTAh6[3oD 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 ,w0Io ,nz3S5~ m-XS_5x\ zOA2chy4 建模任务 `E-cf 7% Qs;MEt 1 ]TIBy "3 n_@cjO s:Io5C( 准直系统 n$y@a?al Gc{s?rB_ HR$;QHl~F {=<m^
5b9 非序列追迹 y rmi:=N( %S]g8O[}nl |ZJ<N\\h- 8 ;o*c6+ 总结—元件… 1eMz"@Q9 `rZS\A fQ_(2+FM ?$Ii_. {x<yDDIv_ )m.U"giG++ 系统光线追迹结果 ioJr2wq6 *1CZRfWI gkL{]*9&% W^N|+$g>H 完美的减反射(AR)涂层 .Fm@OQr c`xgz#]v EN{o3@ O' 4$_:a?9 有内部反射 J~k'b2(p3 q-TDg0 gMUCVKGf
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