OM分析失效分析

主要用途 ur={+0 y  
hD{+V!{  
样品外观、形貌检测。 LdR}v%EH  
uzG<(Q pu  
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性能参数 WRZi^B8@  
$EW31R5h<s  
a)总放大倍数为50x-1000x； GBtBmV/`  
MHVqRYz  
b)目标Z空间：0-25mm； cKh
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9X,dV7 yW  
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； U4%d#  
:-.R*W  
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 \hQ[5>  
E}c(4RY  
<i^Bq=E<rJ  
6g8{;6x  
应用范围 zCL/^^#  
()JM161  
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。