样品制样失效分析

主要用途 h%b
hrkD  
E`E'<"{Yd  
样品外观、形貌检测。 # cWHDRLX  
HWtPLlNt  
"Pdvmur  
性能参数 RK)l8c}  
./iXyta  
a)总放大倍数为50x-1000x； &-F"+v,+  
{visv{R<  
b)目标Z空间：0-25mm； elKx]%k*)  
9".Uc8^p/F  
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； F ?mA1T>x  
O]_={%   
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 Y@:3 B:m#  
sFx$>:$  
lZ a?Y@
 
qRUCnCZs  
应用范围 59MR|Jt  
`i4I!E  
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。