样品制样失效分析

主要用途
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样品外观、形貌检测。 /INjP~C  
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性能参数 U +c?x2\  
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a)总放大倍数为50x-1000x； 4b\R@Knu  
+JyD W%a:L  
b)目标Z空间：0-25mm； &@g~o0  
QCm93YZs6E  
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； g0Rny  
xIOYwVC  
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 UY(pKe>  
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Sy|h*a,  
xqZZ(jZ  
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应用范围 fT]hpoJ
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。