样品制样失效分析

主要用途 yHr/i
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J:#B,2F+^  
样品外观、形貌检测。 ghbxRnU}  
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性能参数 `u%//m_(  
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a)总放大倍数为50x-1000x； ^q FFF3<8  
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b)目标Z空间：0-25mm； 72~)bu
 
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c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； lsJ'dS  
ZN%$k-2  
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 uO,90g[C/R  

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FK@rZP  
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应用范围 D'Byl,W$
 
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。