样品制样失效分析

主要用途 HnfTj5J@  
J)Td'iT(  
样品外观、形貌检测。 [p_C?hHO  
"mkTCR^]e  
:J+GodW  
性能参数 SYTzJK@vZJ  
$(%t^8{a~G  
a)总放大倍数为50x-1000x； D$c4's`5  
"A9 c]  
b)目标Z空间：0-25mm； gs77")K&  
x;*KRO  
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； mCx6$jz  
PK* $  
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 D<cHa |  
I^6z
UVH  
Bhrp"l +|  
KcjP39@I  
应用范围 uJ$!lyJ6L  
u5FlT3hY.  
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。