样品制样失效分析

主要用途 ,=c(P9}^  
 2+S+Y%~  
样品外观、形貌检测。 J|^z>gP(  
D]rYg'  
B.;@i;7L
 
性能参数 XzqB=iX  
6K<o0=,jm2  
a)总放大倍数为50x-1000x； R$A%Zh6  
4<)*a]\c5M  
b)目标Z空间：0-25mm； R#8cOmZ  
) j&khHD  
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； (NDC9Lls  
#h U4gX,  
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 1LhZmv  
.3VL
  
*PB/I4>{  
}bdoJ5  
应用范围 LpSF*xm  
iQT0%WaHl  
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。