推拉力测试

发布:探针台 2019-07-31 16:10 阅读:1363
测试金铝线焊球黏合力、绑线拉断强度;芯片/Die黏合力;BGA焊锡球黏合力。 y Dw!u[:  
wB"Gw` D  
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性能参数 l))IO`s=_  
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a)拉力测试测试范围可在0-100G;0-1KG;0-10KG进行选择; N Q=YTRU  
G"w Q(6J@  
b)推球测试测试范围可在250G 或 5KG进行选择; ywte \}  
f d5~'2  
c)芯片推力测试范围可在测试到0-100公斤; 0-200KG进行选择; (DAJ(r~  
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d)镊子撕力测试头量程为100G 和5KG进行选择; Bk <P~-I  
WQ`T'k#ESW  
e)BGA拔球到0-100G;0-5KG进行选择; \ } f*   
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应用范围 Z Z7U^#RT  
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适用于半导体各种封装形式测试金铝线黏合力;及COB封装、光电,LED,SMT组装 ,原件与基板黏合测试
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