探针测试

通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 |D_n4#X7u  
Mh@ylp+q  
Y&Nv>o_}5  
性能参数  K`mxb}  
4xC6#:8  
放大倍数50X，100X，200X，500X Fu
=VY{U4  
peP:5WB  
8个探针座 JL*]9$o  
^rZ+H@p:6  
带屏蔽箱 P_}_D{G  
\$++.%0  
\>CBam8d  
*h8XbBZH  
应用范围 Kof
-;T  
,DsT:8  
微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。