探针测试

通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 &cnciEw1  
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OF[y$<jM  
性能参数 ,$i2vGd  
F't4Q  
放大倍数50X，100X，200X，500X
K4\{G  
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8个探针座 KIY/nu   
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带屏蔽箱 >o=O^:/L  
}V20~ hi  
}HO3D.HE^  
V}?*kx~T2C  
应用范围 asDk@Gcu  
J7Z`wjX1  
微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。