探针测试

通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 dGU8+)2cn  
uS&LG#a  
Hk~k@Wft  
性能参数 h mds(lv7  
8!;$qVt
 
放大倍数50X，100X，200X，500X 6Etss!_  
oE6|Zw  
8个探针座 4QO/ff[ o  
P,U$ %C!  
带屏蔽箱 Ww=O=c5uOu  
>gnF]<  
X% X$Y6  
i+1Qf  
应用范围 ydB$4ZB3[  
F;-90w  
微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。