探针测试

通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 %Z8vdU#l  
T|"7sPgGR  
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性能参数 >bUj*#<  
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放大倍数50X，100X，200X，500X w#^U45y1v  
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8个探针座 ?R5'#|EyX  
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带屏蔽箱 !?[oIQ)h  
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应用范围 <TNk?df7  
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微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。