探针测试

通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 8m)E~6  
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O<w7PS  
性能参数 i{/nHrN  
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放大倍数50X，100X，200X，500X v_
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8个探针座 \R<OT%8  
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带屏蔽箱 S8Yh>j8-  
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应用范围 }L*cP;m#  
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微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。