探针测试

通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 =jk-s*g  
U5@TaGbx  
} K+Q9<~u  
性能参数 S<2CG)K[  
_{2Fx[m%  
放大倍数50X，100X，200X，500X ,q'gG`M N  
IGF37';;  
8个探针座 NIWI6qCw  
e"v[)b++Y  
带屏蔽箱 LX(iuf+l  
~vjr;a(B  
clR?< LO  
k#IS,NKE  
应用范围 _!$Up  
T}b( M*E  
微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。