探针测试

通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 H rI(uZ]  
-mqL[ h,  
'A)9h7k}  
性能参数  re@;6o  
`*w!S8}m;  
放大倍数50X，100X，200X，500X ;kR+jC(  
\CVrLn;}  
8个探针座 ]Pf!wv  
-E>LB\[t)  
带屏蔽箱 [J +5  
UthM?g^  
<P0&!yN  
fO,m_ OR:)  
应用范围 3%YDsd vQx  
"`Y.5
.  
微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。