探针测试

发布:探针台 2019-07-31 16:10 阅读:1197
通过微探针连接到芯片并引出所需信号,用于电学特性测试 +CaA%u  
Gm1[PAj  
,Nk{AiiN  
性能参数 Pbo759q 1  
Y(U+s\X  
放大倍数50X,100X,200X,500X %4#Q3YlyD  
5JvrQGvL  
8个探针座 :Sc"fG,g)  
|,)=-21&;  
带屏蔽箱 z4B-fS]  
aM6qYO!jA  
{9_}i#,vR  
o?]N2e&(  
应用范围 [$iKx6\  
+ r<d z  
微小连接点信号引出,用于失效分析失效确认,FIB电路修改后电学特性确认等。
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