探针测试

通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 G0Y]-*1  
9)*218.  
N`J]k B7  
性能参数 M(U<H;Csk  
LsxRK5  
放大倍数50X，100X，200X，500X !~Ptnr`;  
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8个探针座 E_D0Nm%n  
-q30tO.  
带屏蔽箱 b6NGhkr'\  
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L\zyBfK}  
1|dXbyUd  
应用范围 yu}yON  
9]%2Yb8SC  
微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。