推拉力测试

发布:探针台 2019-07-31 16:10 阅读:1368
测试金铝线焊球黏合力、绑线拉断强度;芯片/Die黏合力;BGA焊锡球黏合力。 3 jZMXEG)  
WAa45G  
q&3 ;e4  
性能参数 u\]EG{w(  
\Z[1m[{  
a)拉力测试测试范围可在0-100G;0-1KG;0-10KG进行选择; b3ohTmy4(  
-*C WF|<G  
b)推球测试测试范围可在250G 或 5KG进行选择; #,%bW[L<N  
(Rw<1q`,  
c)芯片推力测试范围可在测试到0-100公斤; 0-200KG进行选择; yqT!A  
V(MYReaPC]  
d)镊子撕力测试头量程为100G 和5KG进行选择; IiU> VLa  
7'G;ijx  
e)BGA拔球到0-100G;0-5KG进行选择; 8tj]@GE  
T ozx0??)  
0a~t  
应用范围 jm}CrqU  
)4yP(6|lx  
适用于半导体各种封装形式测试金铝线黏合力;及COB封装、光电,LED,SMT组装 ,原件与基板黏合测试
分享到:

最新评论

我要发表 我要评论
限 50000 字节
关于我们
网站介绍
免责声明
加入我们
赞助我们
服务项目
稿件投递
广告投放
人才招聘
团购天下
帮助中心
新手入门
发帖回帖
充值VIP
其它功能
站内工具
清除Cookies
无图版
手机浏览
网站统计
交流方式
联系邮箱:商务合作 站务处理
微信公众号:opticsky 微信号:cyqdesign
新浪微博:光行天下OPTICSKY
QQ号:9652202
主办方:成都光行天下科技有限公司
Copyright © 2005-2024 光行天下 蜀ICP备06003254号-1