薄膜光学（第4版，麦克劳德）

本书作者是国际镀膜界的权威专家。本书系统论述了薄膜光学滤波器的基本理论及相关技术，既介绍了最新成果，又提供了大量详实的图表及数据；既有系统的理论分析、数据计算结果，又有实用器件的结构参数。内容具体包括增透膜、中性平面镜和分束镜、复合高反射率涂层、边缘滤波器、带通滤波器、斜涂层、光学涂层的颜色、膜的均匀度和厚度监测、滤波器的规格和环境影响、系统考虑、滤波器和涂层的应用等。 3taGb>15  
A4(k<<xjE  
Q%524%f$  
出版社: 科学出版社; 第1版 (2016年3月1日) GK;IY=8W  
外文书名: Thin-Film Optical Filters(Fourth Edition) m\70&%v  
丛书名: 国外信息科学与技术优秀图书系列 +ViL"  
平装: 561页 x_CY`Y  
语种： 简体中文 ;*0nPhBw0>  
开本: 16 eAStpG"*  
ISBN: 9787030473929, 7030473922 Tv6y+l  
条形码: 9787030473929 Yr>0Qg],  
商品尺寸: 25.6 x 18.6 x 2.8 cm 6s'n r7'0  
商品重量: 1 Kg q[9N4nj$<  
品牌: 科学出版社 bGkLa/?S  
ASIN: B01DKW70FW nw_s:  
&TL"Hd  
qOIVuzi*  
7!wc'~;  
目录 8nWPt!U:  
序 Fv$A%6;W  
译者序 4I .'./u  
中译本序 O<#8R\v  
第四版前言 |6;-P&_n  
符号和缩写 jGT|Xo>t  
第1章引言 u-tD_U
Ick  
1.1早期的历史 5=I"bnIU  
1.2光学薄膜 y0-UO+;  
参考文献 H_Xk;fM  
第2章基本理论 ^;F5ymb3U  
2.1麦克斯韦方程和平面电磁波 ]
0BX5Z'  
2.1.1坡印亭矢量 A}}dc:$C  
2.2简单边界 <sw=:HU  
2.2.1垂直入射 j dz IU  
2.2.2倾斜入射 |5ge4,}0  
2.2.3倾斜入射的光学导纳 f:y1eLl3  
2.2.4吸收介质中的垂直入射 'Ebjn>"  
2.25吸收介质中的倾斜入射 oz]&=>$1I  
2.3单层薄膜的反射率 q"oNFHYPDs  
2.4多层膜系的反射率 o';/$xrH  
2.5反射率、透射率和吸收率 9|[uie  
2.6单位 z'Z[mrLq  
2.7重要结果总结 y?P`vHf  
2.8可能透射率 e6bh,BwgQq  
2.9膜系透射率定理 ><>%;HZ  
2.10相干性 a2ho+TwT  
2.11两个或多个表面的非相干反射 Fn iht<  
参考文献 p&5>j\uJ1&  
第3章光学薄膜计算与设计的一些方法 cD=IFOB*GD  
3.1λ／4和λ／2光学厚度 sOiM/}O]  
3.2导纳轨迹 z+{+Q9j  
3.3导纳图中的电场和损耗 u~2]$ /U  
3.4矢量法 3
~V.  
3.5赫平折射率 1
e7I2g  
3.6膜系计算的迭代方法 IF-y/]  
3.7多层膜设计的史密斯方法 # 5U1F[  
3.8史密斯圆图 O1)\!=& .  
3.9反射率圆图 /HS"{@Z"h  
参考文献 -|f0;Fl  
第4章减反射膜 17,mqXX>  
4.1高折射率基底上的减反射膜 A_WaRYG  
4.1.1单层减反射膜 3"< 0_3?W  
4.1.2双层减反射膜 V"'PA-z3  
4.1.3多层膜 ,hT.Ok={36  
4.2低折射率基底上的减反射膜 yTh%[k  
4.2.1单层减反射膜 X,#~[%h$-=  
4.2.2双层减反射膜 eG8l^[  
4.2.3多层减反射膜 )7[#Ti  
4.3等效膜层 1_A_)l11  
4.4具有两个零点的减反射膜 R&&&RI3{  
4.5可见光及红外区的减反射膜 awvP;F?q|  
4.6非均匀层 GBWL0'COV  
4.7更多信息 nxx/26{  
参考文献 E`V\/`5D  
第5章中性反射镜和分光镜 %[s%H)e)  
5.1高反射薄膜 yN0`JI  
51.1金属膜反射镜 Ej 5_d  
5.1.2金属膜的保护 -{8K/!  
5.1.3总系统性能与增加金属膜反射率 XPD1HN!,LT  
5.1.4紫外反射膜 EApbaS}Up  
5.2中性分光镜 {j;` wN  
5.2.1金属膜分光镜 v3FdlE  
5.2.2介质膜分光镜 ^G(Ee+PN@  
5.3中性滤光片 OG$v"Yf~  
参考文献 u%+k\/Scp.  
第6章多层高反射膜 )7.DF|A  
6.1法布里—珀罗干涉仪 P\<:.8@$S  
6.2多层介质膜 rUmP_  
6.2.1宽高反射区的多层全介质膜 \q4r/SbgW  
6.22薄膜均匀性的要求 noL9@It0  
6.3损耗 !U>WAD9  
参考文献 RLMn&j|?e  
第7章截止滤光片 <F;+A{M)  
7.1薄膜型吸收滤光片 m&gB;g3:  
7.2干涉截止滤光片 Uc'}y!R  
7.2.1λ／4多层膜 0V21_".S  
7.2.2对称多层膜和赫平折射率 7`&ISRU4  
7.2.3性能计算 {7@*cBqN  
参考文献 B(94;,(  
第8章带通滤光片 ^.\O)K {h  
8.1宽带滤光片 d[J_iD{ &  
8.2窄带滤光片 MuQ)F-GSUu  
8.21金属—介质单腔滤光片 PnaiSt9p?r  
8.2.2全介质单腔滤光片 f$:SacF  
8.2.3固体标准具滤光片 *|Er;Thw  
8.2.4入射角变化的影响 H~nZ=`P9&  
8.2.5边带阻隔 P/|1,Sk  
8.3多腔滤光片 \3^ue0  
8.3.1Thelen分析法 e@anX^M;  
8.4多腔滤光片更高的性能 )y;7\-K0  
8.4.1倾斜的影响 htR.p7&Tn  
8.4.2多腔滤光片的损耗 ,!^5w,P:   
8.4.3补充材料 2M'dTXz  
8.5相位色散滤光片 )Hmf=eoc  
8.6多腔金属—介质滤光片 ,NS*`F[O  
8.6.1诱导透射滤光片 FA$32*v  
8.6.2滤光片设计实例 /OzoeIt  
8.7滤光片的实测性能 uW[[8+t|  
参考文献 p^|l ',e  
第9章倾斜入射薄膜 HNv~ZAzBG-  
9.1修正导纳和倾斜导纳图 y^`JWs,  
9.2导纳图的应用 |?2fq&2  
9.3偏振器 9g5h~Ma  
9.3.1布儒斯特角偏振分束器 qx[c
0X!  
9.3.2偏振片 z<vh8dNl  
933偏振分光棱镜 aE9Y |6  
9.4无偏振薄膜 3dj|jw5  
9.4.1中等入射角的截止滤光片 YnU)f@b#  
9.4.2大入射角时的反射膜 !=,Y=5M,  
9.4.3大入射角时的截止滤光片 tOLcnWt   
9.5减反射膜 BB(6[V"SV  
9.5.1仅p偏振的情形 z_fjmqa?  
9.5.2仅s偏振的情形 w"s@q$}]8M  
9.5.3s偏振和p偏振同时存在的情形 79W^;
\3  
9.6相位延迟器 a~$Y;C_#<  
9.6.1椭圆偏光参数和相对相位延迟 Lm2)3;ei  
9.6.2多个表面镀膜的椭圆偏光参数和相对相位延迟 ($[+dR  
9.6.3相位延迟器 ,Q7;(&x~  
9.6.4简单的相位延迟器 @|DQZt  
9.6.5单波长多层膜相位延迟器 e@ZM&iR  
9.6.6多波长多层膜相位延迟器 Tgr,1)T  
9.7光学隧穿滤光片 2icQ (H;  
参考文献 U\tx{CsSz  
第10章光学薄膜色度学 yW=+6@A4  
10.1颜色的定义 WXY'%G  
10.21964补充标准色度观察者 WJnGF3G>  
10.3同色异谱 }QE*-GVv]  
10.4其他颜色空间 X$ZVY2  
10.5色调和色度 7<] EH:9  
10.6亮度和最佳刺激 IUFc_uL@\  
10.7彩色条纹 qGV_oa74  
参考文献 <SI|)M,, 3  
第11章镀膜工艺及薄膜材料 ~EPVu  
11.1薄膜的镀制 yQN{)rv  
11.1.1热蒸发 KddCR&  
11.1.2高能沉积过程 _o$jk8jOjW  
11.1.3其他沉积过程 aY>v  
11.1.4烘烤 2.Qz"YDh =  
11.2光学性质的测量 I1U2wD  
11.3机械特性的测量 =x\`yxsG  
11.4毒性 LD}~]  
11.5常见材料的特性 ]2wx
qglh)  
参考文献 tO3R&"{  
第12章影响薄膜性能的因素 |j`73@6  
12.1微观结构和薄膜的性能 Km8aHc]O~  
12.2对污染物的敏感度 ~I@lsCh  
参考文献 WI/tWj0  
第13章膜厚均匀性与厚度监控 TB!I  
13.1均匀性 4?'vP'  
13.1.1平面夹具 1 &9|~">{C  
13.1.2球面夹具 _xp8*2~-  
13.1.3旋转基底 w31Ox1>s  
13.1.4掩膜的用途 1*TbgxS~W  
13.2基底准备 Z,.Hz\y1D  
13.3膜层厚度监控和控制 ^!&6=rb  
13.3.1光学监控技术 Gs,:$Im  
13.3.2石英晶体监控 c0gVW~I1  
13.33通过沉积时间监控 Kf[d@L  
13.4厚度容差 &xQM!f  
参考文献 +O.-o/  
第14章滤光片规格与环境影响 "0P`=n  
14.1光学特性 kO}&Oi,?  
14.1.1性能指标 q*l4h u%3  
14.1.2制作指标 "%gsGtS  
14.1.3测试指标 56 3mz-  
14.2物理性质 |1~n<=`Z  
14.2.1耐磨性 9
Ux(  
14.2.2黏附性 [X.bR$>  
14.2.3耐环境性 K -U}sW  
参考文献 -)`_w^Ox  
第15章系统考虑：滤光片和薄膜的应用 kt/,& oKI  
15.1干涉滤光片的能量获取 20;9XJmjl  
15.2天文学中的窄带滤光片 (j&:  
15.3大气温度检测 /*mF:40M;  
15.4光栅光谱仪中的级次选择滤光片 $')C&  
15.5眩光抑制滤光片和镀膜 r!mRUw'u  
15.6包含金属层的薄膜 JL1ajlm~  
15.6.1用于肖特基势垒光电二极管的电极薄膜 hJ}i+[~be  
15.6.2用于太阳能光热转换的光谱选择薄膜 '+PKGmRW  
15.6.3热反射金属—介质膜 >.iF,[.[F<  
参考文献 M6)  G_-  
第16章其他主题 j~Aq-8R=  
16.1皱褶滤光片 h+FM?ct6}  
16.2超快薄膜 f2i:I1 p("  
16.3自动设计方法 sS>b}u+v#!  
16.4光学薄膜中的增益 A9$x8x*Lt  
16.4.1倾斜入射 tJ\ $
%  
16.5光子晶体 /,Xl8<~#  
16.5.1什么是光子晶体 >NRppPqL  
16.5.2二维光子晶体 iVXt@[  
16.5.3一维光子晶体 HC%Hbc~S_Q  
参考文献 7zb^Z]  
第17章介质薄膜材料的特性 xh;V4zK@`  
参考文献 g'(bk@<BP  
参考书目 ;o_F<68QP  
中英文对照表 :!%VSem  
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