本书作者是国际
镀膜界的权威专家。本书
系统论述了
薄膜光学滤波器的基本理论及相关技术,既介绍了最新成果,又提供了大量详实的图表及数据;既有系统的理论分析、数据计算结果,又有实用器件的结构
参数。内容具体包括增透膜、中性平面镜和分束镜、复合高反射率涂层、边缘滤波器、带通滤波器、斜涂层、光学涂层的颜色、膜的均匀度和厚度监测、滤波器的规格和环境影响、系统考虑、滤波器和涂层的应用等。
GJ `UO g/#~N~& JT)k 出版社: 科学出版社; 第1版 (2016年3月1日)
~C|,b" 外文书名: Thin-Film Optical Filters(Fourth Edition)
s@~/x5jwCs 丛书名: 国外信息科学与技术优秀图书系列
/cfHYvnz 平装: 561页
HN68!v}C| 语种: 简体中文
TKOP;[1h 开本: 16
ZMdW2_*F ISBN: 9787030473929, 7030473922
6m+W#]^ 条形码: 9787030473929
JNBT^=x 商品尺寸: 25.6 x 18.6 x 2.8 cm
.S!-e$EJ 商品重量: 1 Kg
!
=WcF5 品牌: 科学出版社
Ea]T>4 ASIN: B01DKW70FW
b[srG6{ & TatMf;?h&
X$V|+lTk KjOi(YUnq7 目录
6m[9b*s7 序
X+iK<F$ 译者序
tS<h8g_ 中译本序
%S`ik!K"I 第四版前言
Hf%_}Du /` 符号和缩写
C[8Kl D 第1章引言
{ma;G[! 1.1早期的历史
t$ZkdF 1.2光学薄膜
_|<BF 参考文献
j Nc<~{/ 第2章基本理论
Qh-4vy=r 2.1麦克斯韦方程和平面电磁波
/^2CGcT( 2.1.1坡印亭矢量
y5u\j{?Te 2.2简单边界
HO5d%85 2.2.1垂直入射
ET-Vm >] 2.2.2倾斜入射
8lwM{?k$ 2.2.3倾斜入射的光学导纳
4RQ5(YTTuR 2.2.4吸收介质中的垂直入射
o56kp3b)b 2.25吸收介质中的倾斜入射
d>!p=O`>{q 2.3单层薄膜的反射率
w>vH8f 2.4多层膜系的反射率
/DO'IHC.o 2.5反射率、透射率和吸收率
4ht\&2&: 2.6单位
C9jbv/c 2.7重要结果总结
*jF#^= 2.8可能透射率
+< KNY 2.9膜系透射率定理
}V]eg,.BJ 2.10相干性
R1'`F{56 2.11两个或多个表面的非相干反射
1;Xgc@ 参考文献
$]*d#`Sy{% 第3章光学薄膜计算与设计的一些方法
A5XR3$5P 3.1λ/4和λ/2光学厚度
({M?Q>s 3.2导纳轨迹
[5Y<7DS 3.3导纳图中的电场和损耗
a)S7}0|R 3.4矢量法
GuO`jz F 3.5赫平折射率
=M<z8R 3.6膜系计算的迭代方法
)ooWQ-%P 3.7多层膜设计的史密斯方法
9=$!gC) 3.8史密斯圆图
;+`uER 3.9反射率圆图
gX,9Gh 参考文献
U9#WN.noG 第4章减反射膜
,%hj cGX11 4.1高折射率基底上的减反射膜
%&<W(|U1< 4.1.1单层减反射膜
>Z\BfH 4.1.2双层减反射膜
DB@EVH 4.1.3多层膜
>}SRSqJu 4.2低折射率基底上的减反射膜
X/+OF'po 4.2.1单层减反射膜
;fGx;D 4.2.2双层减反射膜
c3k|G<C2 4.2.3多层减反射膜
sX:lE^)-z 4.3等效膜层
h\y-L~2E 4.4具有两个零点的减反射膜
/ L~u02? 4.5可见光及红外区的减反射膜
bGv4.:) 4.6非均匀层
8Rxc&`_X 4.7更多信息
]W)
jmw'mo 参考文献
Hr
}k5' 第5章中性反射镜和分光镜
Z@J.1SaB 5.1高反射薄膜
9$O@`P\ 51.1金属膜反射镜
.wc
= ] 5.1.2金属膜的保护
#D)x}#V\ 5.1.3总系统性能与增加金属膜反射率
%j{.0H 5.1.4紫外反射膜
)^
<3\e 5.2中性分光镜
>;nS8{2o 5.2.1金属膜分光镜
K{b-TT
4 5.2.2介质膜分光镜
>.LKct*5K 5.3中性滤光片
C5n?0I9 参考文献
d
4O 第6章多层高反射膜
N[k<@Q?*a 6.1法布里—珀罗干涉仪
)+Y&4Qu 6.2多层介质膜
^ vbWRG~ 6.2.1宽高反射区的多层全介质膜
OD+5q(!"a 6.22薄膜均匀性的要求
TnE+[.Qu 6.3损耗
nGrVw& 参考文献
L2|aHI1'l 第7章截止滤光片
6^YJ] w 7.1薄膜型吸收滤光片
ZBc|438[ 7.2干涉截止滤光片
#WufZ18# 7.2.1λ/4多层膜
P*G+eqX 7.2.2对称多层膜和赫平折射率
Q$=*aUU%G 7.2.3性能计算
V(mnyI 参考文献
X+ f9q0 第8章带通滤光片
XDLEVSly7 8.1宽带滤光片
JSW&rn 8.2窄带滤光片
2QayM?k8 8.21金属—介质单腔滤光片
2)\vj5<~$ 8.2.2全介质单腔滤光片
MF.[8Zb 8.2.3固体标准具滤光片
59!)j>f 8.2.4入射角变化的影响
h&'=F)5 8.2.5边带阻隔
F2>%KuM 8.3多腔滤光片
{}\CL#~y 8.3.1Thelen分析法
`Q%NSU? 8.4多腔滤光片更高的性能
,Y!zORv<7 8.4.1倾斜的影响
BaL]mIx 8.4.2多腔滤光片的损耗
Z> 74.r 8.4.3补充
材料 PXEKV0y 8.5相位色散滤光片
;^-:b(E 8.6多腔金属—介质滤光片
J22r v( 8.6.1诱导透射滤光片
c8ZCs? 8.6.2滤光片设计实例
,w`~K:b. 8.7滤光片的实测性能
G5c7:iGm/c 参考文献
NWKi
()nA% 第9章倾斜入射薄膜
(9GbG" 9.1修正导纳和倾斜导纳图
ULl_\5s2 9.2导纳图的应用
iBvOJs 9.3偏振器
I;j3*lV_ 9.3.1布儒斯特角偏振分束器
E`AYee%l 9.3.2偏振片
e@jfIF0=} 933偏振分光棱镜
;~/4d- 9.4无偏振薄膜
4lz{G*u 9.4.1中等入射角的截止滤光片
-JTG?JOd] 9.4.2大入射角时的反射膜
Y';>O ` 9.4.3大入射角时的截止滤光片
zj20;5o>U& 9.5减反射膜
<t}? $1 9.5.1仅p偏振的情形
qrDcL>Hrn 9.5.2仅s偏振的情形
S< x:t( 9.5.3s偏振和p偏振同时存在的情形
yJ/#"z=h? 9.6相位延迟器
8:{q8xZ=k 9.6.1椭圆偏光参数和相对相位延迟
.~`Y)PON 9.6.2多个表面镀膜的椭圆偏光参数和相对相位延迟
J}@GKNm 9.6.3相位延迟器
}ND'0*# 9.6.4简单的相位延迟器
RvW.@#EH0 9.6.5单
波长多层膜相位延迟器
4v qNule 9.6.6多波长多层膜相位延迟器
{L9yhYw 9.7光学隧穿滤光片
4}-#mBV]/ 参考文献
/DU*M, 第10章光学薄膜色度学
`P.CNYR<J 10.1颜色的定义
&r@H(}$1\ 10.21964补充标准色度观察者
`C'}e 10.3同色异谱
p>p'.#M 10.4其他颜色空间
-,GEv%6c 10.5色调和色度
E5{n?e 10.6亮度和最佳刺激
SDc"
4g` 10.7彩色条纹
3*WS"bt 参考文献
:]c=pH 第11章镀膜工艺及薄膜材料
x/ I;nMY 11.1薄膜的镀制
H#+xKYrp 11.1.1热蒸发
]{Ek[Av 11.1.2高能沉积过程
YMu) 11.1.3其他沉积过程
}m_t$aaUc1 11.1.4烘烤
kF-TG3 11.2光学性质的测量
hTTfJDF 11.3机械特性的测量
,so4Lb(vG 11.4毒性
Wc;+2Hl[@ 11.5常见材料的特性
8]C1K
Zs 参考文献
kCp)!hVQ 第12章影响薄膜性能的因素
/=ylQn3
* 12.1微观结构和薄膜的性能
p7UTqKi 12.2对污染物的敏感度
_?b;0{93u 参考文献
$L&BT 0 第13章膜厚均匀性与厚度监控
f)^t') 13.1均匀性
evOb 13.1.1平面夹具
+/q0Y`v 13.1.2球面夹具
/*P7<5n0 13.1.3旋转基底
qLRE}$P 13.1.4掩膜的用途
b *9-}g: 13.2基底准备
DV,DB\P$ 13.3膜层厚度监控和控制
a: IwA9!L 13.3.1光学监控技术
b42QBTeg 13.3.2石英晶体监控
RbAt3k;y 13.33通过沉积时间监控
/q*KO\L 13.4厚度容差
IMaYEO[ 参考文献
Wp4K6x 第14章滤光片规格与环境影响
d*%Mv[X:<