《先进
光学制造工程与技术
原理》(作者程灏波、谭汉元)共11章。第1章介绍了光学仪器及
光电仪器、先进光学制造技术的发展等内容。第2章主要介绍了光学零件的基础理论,包括数学描述、零件
材料、抛光机理、质量评价等内容。第3章至第6章详细介绍了计算机控制小工具头技术、磁流变抛光技术、电流变技术、磁射流技术等光学非球面制造技术。第7章综述了其他先进光学制造新技术。第8章至第11章介绍了光学非球面检测技术,包括轮廓检测技术、干涉检测技术、子孔径拼接技术、亚表面损伤检测技术。 本书适用于航空航天、天文和信息技术等领域的从事光学制造检测工作的工程技术人员,以及大专院校相关专业的学生和科研人员。
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6BT o% bL>J0LWQ 目录
a!ao{8# 第1章 先进光学制造工程概述
x O`#a= §1.1 光学及光电仪器概述
Ik_u34U §1.2 光学制造技术概述
P~Cx#`#(V §1.3 先进光学制造的发展趋势
Q)}_S@v|% 第2章 光学零件及其基础理论
9Yg=4>#$ §2.1 光学零件概述
<4!SQgL §2.2 光学零件的材料
e)I-|Q4^% §2.3 非球面光学零件基础理论
-z"=d<@ §2.4 抛光机理学说
;E? Z<3{ §2.5 光学零件质量评价
f=%k9Y*) 参考文献
~3YN;St- 第3章 计算机控制小工具技术
Y0`=h"g §3.1 计算机控制小工具技术发展概述
R{zAs?j §3.2 计算机控制小工具加工原理及数学
模型 RtZK2 §3.3 计算机控制小工具设计与在线测量
系统 ^(5Up=.EA §3.4 计算机控制小工具加工工艺研究
v`i9LD0( §3.5 固着磨料在计算机控制小工具技术中的应用
[wS~. 参考文献
4N&4TUIM 第4章 磁流变抛光技术
+
k1|+zzS §4.1 磁流变抛光技术概述
rv/O^aL`Y §4.2 磁流变效应
W10=SM} §4.3 磁流变抛光工具设计及分析
tE"aNA#= §4.4 磁路设计及磁性微粒场致微观
结构 @"[xX}xK; §4.5 磁流变抛光去除函数模型
)@"iWQ3K §4.6磁流变抛光技术工艺规律
$f`\TKlN 参考文献
xE+Nz5F 第5章 电流变抛光技术
1&_93 §5.1 电流变效应
;{xk[fm= §5.2 电流变抛光液
M~ =Bln5 §5.3 电流变抛光机理及模型
(+Ia:D §5.4 电流变抛光工具设计与研究
")%)e ;V3 §5.5 工艺实验结果
W-9?|ei 参考文献
hdZ{8 rP 第6章 磁射流抛光技术
}*4K{<02 §6.1 磁射流技术概述
6ybpPls §6.2 流体动力学基础
ESdjDg$[u §6.3 磁射流工作原理
\nQV{J §6.4 磁射流抛光去除函数模型分析与特性
/Yk4%ZJ{ §6.5 磁射流抛光工具设计
q cYF& §6.6 磁射流抛光工艺研究
2, bo §6.7 磁射流加工实例
*`]LbS 参考文献
`Mj>t( 第7章 其他先进光学加工技术
? OrRTRW §7.1 电磁流变抛光技术
:Osw4u]JXd §7.2 应力盘研抛技术
`?Wy;5- §7.3 离子束抛光技术
nt$VH §7.4 等离子体辅助抛光
7GN>o@ t §7.5 应力变形法
:G+8%pUX] §7.6 光学
玻璃非球面
透镜模压成形技术
y#%*aV}|B §7.7 光学塑料非球面零件注射成形技术
9b
K K §7.8 非球面真空
镀膜法
[ 0?*J<d §7.9 非球面复制成形法
RLuA^ONI 参考文献
w}*2Hz&Q! 第8章 光学非球面轮廓测量技术
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!9O §8.1 非球面轮廓测量技术概述
|etA2"r& §8.2 数据处理
ZH]n&%@j §8.3 轮廓测量精度分析与误差补偿
//9M~qHa" §8.4 非球面检测路径
<[7
bUB §8.5 点云曲率和法矢计算方法分析
4.?tP7UE §8.6 非球面轮廓测量实例
3LT[?C]H$ 参考文献
_T,X z_ 第9章 非球面干涉测量技术
O3Jp:.ps §9.1 光学非球面检测方法
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§9.2 干涉检测波前拟合技术
07L
>@Gf §9.3 非球面补偿检测技术
CxyL'k §9.4 计算机辅助检测
=uM2l §9.5 离轴非球面检测校正技术
OMaG*fb= §9.6 大口径平面检测技术
AF-4b*oB 参考文献
xiv1y4(% 第10章 子孔径拼接干涉检测技术
-)S(eqq1 §10.1 概述
1: cD\ §10.2 基础理论
9
U6cM-p? §10.3 子孔径划分方法
Q};g~b3 §10.4 子孔径拼接测量实验
!3Xu#^Xxj 参考文献
JA .J~3 第11章 亚表面损伤检测技术
sj@B0R=Qo §11.1 亚表面损伤概述
J|vriI; §11.2 亚表面损伤产生机理
xj/Iq<'R*O §11.3 亚表面损伤检测技术
0(+3w\_! §11.4 磁流变斜面抛光法测量亚表面损伤深度
|VlQ0{
参考文献
$JH_ s,KE,$5F