《先进
光学制造工程与技术
原理》(作者程灏波、谭汉元)共11章。第1章介绍了光学仪器及
光电仪器、先进光学制造技术的发展等内容。第2章主要介绍了光学零件的基础理论,包括数学描述、零件
材料、抛光机理、质量评价等内容。第3章至第6章详细介绍了计算机控制小工具头技术、磁流变抛光技术、电流变技术、磁射流技术等光学非球面制造技术。第7章综述了其他先进光学制造新技术。第8章至第11章介绍了光学非球面检测技术,包括轮廓检测技术、干涉检测技术、子孔径拼接技术、亚表面损伤检测技术。 本书适用于航空航天、天文和信息技术等领域的从事光学制造检测工作的工程技术人员,以及大专院校相关专业的学生和科研人员。
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- E!{ &=@IzmA
'Vzp2 '1P2$# 目录
?(' wn< 第1章 先进光学制造工程概述
zsEc( §1.1 光学及光电仪器概述
G}9Jg §1.2 光学制造技术概述
.;y.]Z/; §1.3 先进光学制造的发展趋势
m)ky*"( 第2章 光学零件及其基础理论
^b4 9 §2.1 光学零件概述
vjbASFF0= §2.2 光学零件的材料
,8S/t+H §2.3 非球面光学零件基础理论
d\&U*= §2.4 抛光机理学说
Gvt G(u~ §2.5 光学零件质量评价
YFLZ %( 参考文献
SB;&GHq"n 第3章 计算机控制小工具技术
pz!Zs."f) §3.1 计算机控制小工具技术发展概述
rT=rrvV3g §3.2 计算机控制小工具加工原理及数学
模型 j"t(0m §3.3 计算机控制小工具设计与在线测量
系统 n*R])=F@c §3.4 计算机控制小工具加工工艺研究
a5dLQxb §3.5 固着磨料在计算机控制小工具技术中的应用
*<$*"p 参考文献
8l>?Pv 第4章 磁流变抛光技术
6+#Ydii9E §4.1 磁流变抛光技术概述
zq3\}9 §4.2 磁流变效应
JK7G/]j+Ez §4.3 磁流变抛光工具设计及分析
,Q3T
Tno
, §4.4 磁路设计及磁性微粒场致微观
结构 afCW(zHp §4.5 磁流变抛光去除函数模型
A]_7}<<N §4.6磁流变抛光技术工艺规律
~dyTVJ$ 参考文献
70yFaW 第5章 电流变抛光技术
>2Y=*K,: §5.1 电流变效应
paA(C|%{ §5.2 电流变抛光液
poc`q5i+ §5.3 电流变抛光机理及模型
Z\(q@3 C §5.4 电流变抛光工具设计与研究
iQ0KfoG?U §5.5 工艺实验结果
=}<IfNA 参考文献
[$ubNk;!z 第6章 磁射流抛光技术
#>a\>iKQ2q §6.1 磁射流技术概述
bt@<
ut\ §6.2 流体动力学基础
")1:F> §6.3 磁射流工作原理
vSGH[nyCY §6.4 磁射流抛光去除函数模型分析与特性
@JiLgIe` §6.5 磁射流抛光工具设计
H9Gh>u]} §6.6 磁射流抛光工艺研究
PF0_8,@U §6.7 磁射流加工实例
+N]J5Ve-`t 参考文献
/m!BY}4W 第7章 其他先进光学加工技术
.97])E[U §7.1 电磁流变抛光技术
Gf%~{@7=u §7.2 应力盘研抛技术
[>vLf2OID §7.3 离子束抛光技术
.o6Or:L §7.4 等离子体辅助抛光
V%t.l §7.5 应力变形法
8$]1M,$r §7.6 光学
玻璃非球面
透镜模压成形技术
O"+gQXe §7.7 光学塑料非球面零件注射成形技术
5p,RI&nlN §7.8 非球面真空
镀膜法
XMCXQs& §7.9 非球面复制成形法
w$>u b@= 参考文献
PioZIb/{ 第8章 光学非球面轮廓测量技术
K$z2YJ% §8.1 非球面轮廓测量技术概述
#]-SJWf3 §8.2 数据处理
fQ7V/x! §8.3 轮廓测量精度分析与误差补偿
Yz9owe8}[ §8.4 非球面检测路径
mwO6g~@` §8.5 点云曲率和法矢计算方法分析
#QZe,"C9` §8.6 非球面轮廓测量实例
b;L\EB 参考文献
mupT<_Y 第9章 非球面干涉测量技术
:S]\0;8] §9.1 光学非球面检测方法
s `e{}\ §9.2 干涉检测波前拟合技术
}czrj%6 §9.3 非球面补偿检测技术
~\r* §9.4 计算机辅助检测
C;v.S5x §9.5 离轴非球面检测校正技术
&L3M] §9.6 大口径平面检测技术
a1+oj7 参考文献
AI2~Jp 第10章 子孔径拼接干涉检测技术
IM*y|UHt §10.1 概述
_OYasJUMG §10.2 基础理论
m1b?J3 §10.3 子孔径划分方法
??5Q)Erm1 §10.4 子孔径拼接测量实验
g%o(+d 参考文献
pt?bWyKG 第11章 亚表面损伤检测技术
3s*mbk[J §11.1 亚表面损伤概述
UB@Rs|) §11.2 亚表面损伤产生机理
YH$-g §11.3 亚表面损伤检测技术
]IaMp788 §11.4 磁流变斜面抛光法测量亚表面损伤深度
=&6eM2>P 参考文献
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