《先进
光学制造工程与技术
原理》(作者程灏波、谭汉元)共11章。第1章介绍了光学仪器及
光电仪器、先进光学制造技术的发展等内容。第2章主要介绍了光学零件的基础理论,包括数学描述、零件
材料、抛光机理、质量评价等内容。第3章至第6章详细介绍了计算机控制小工具头技术、磁流变抛光技术、电流变技术、磁射流技术等光学非球面制造技术。第7章综述了其他先进光学制造新技术。第8章至第11章介绍了光学非球面检测技术,包括轮廓检测技术、干涉检测技术、子孔径拼接技术、亚表面损伤检测技术。 本书适用于航空航天、天文和信息技术等领域的从事光学制造检测工作的工程技术人员,以及大专院校相关专业的学生和科研人员。
w NlC2is T\VKNEBo -rSpgk0wL ?H\K];
+,&8U&~` VL5GX( 目录
3: 'eZcM 第1章 先进光学制造工程概述
6\7bE$K §1.1 光学及光电仪器概述
v"VpE`z1# §1.2 光学制造技术概述
~.?,*q7 §1.3 先进光学制造的发展趋势
[eebIJs 第2章 光学零件及其基础理论
Z6eM~$Y §2.1 光学零件概述
fD<9k §2.2 光学零件的材料
?8AchbK;N §2.3 非球面光学零件基础理论
]Z?y\L*M- §2.4 抛光机理学说
qU(,q/l §2.5 光学零件质量评价
;by`[) 参考文献
7{%_6b" 第3章 计算机控制小工具技术
]o18oY( §3.1 计算机控制小工具技术发展概述
rz%8Vigb §3.2 计算机控制小工具加工原理及数学
模型 7JvBzD42 §3.3 计算机控制小工具设计与在线测量
系统 6ge,2[PU §3.4 计算机控制小工具加工工艺研究
+>b~nK>M §3.5 固着磨料在计算机控制小工具技术中的应用
e5/f%4YX 参考文献
nKI]f`P7 第4章 磁流变抛光技术
=]k0*\PS §4.1 磁流变抛光技术概述
q#RUL!WF7U §4.2 磁流变效应
1 !N+hf §4.3 磁流变抛光工具设计及分析
3mI(5~4A]? §4.4 磁路设计及磁性微粒场致微观
结构 9K]Li\ §4.5 磁流变抛光去除函数模型
f;AQw_{ §4.6磁流变抛光技术工艺规律
Ah5`Cnv 参考文献
]}t6V]`Q 第5章 电流变抛光技术
wldv^n hM §5.1 电流变效应
y:t@X~ §5.2 电流变抛光液
l`S2bb6uMR §5.3 电流变抛光机理及模型
PE $sF]/ §5.4 电流变抛光工具设计与研究
N`3q54_$ §5.5 工艺实验结果
1>I4=mj 参考文献
5f;6BP 第6章 磁射流抛光技术
b.mcP@ §6.1 磁射流技术概述
|\/`YRg> §6.2 流体动力学基础
*3.K; Ic; §6.3 磁射流工作原理
RLy(Wz3% §6.4 磁射流抛光去除函数模型分析与特性
z TYHwx §6.5 磁射流抛光工具设计
&PQhJ#YG §6.6 磁射流抛光工艺研究
K/xn4N_UX §6.7 磁射流加工实例
0 &M~lJ 参考文献
,X+LJe$ 第7章 其他先进光学加工技术
{)V!wSi §7.1 电磁流变抛光技术
S#h-X(4 §7.2 应力盘研抛技术
*0vq+C §7.3 离子束抛光技术
>6Y@8 ) §7.4 等离子体辅助抛光
bSa%?laS §7.5 应力变形法
cQg:yoF §7.6 光学
玻璃非球面
透镜模压成形技术
f4%Z~3P §7.7 光学塑料非球面零件注射成形技术
k
P]' §7.8 非球面真空
镀膜法
+D7>$&BD §7.9 非球面复制成形法
|/^ KFY" 参考文献
5;WESk 第8章 光学非球面轮廓测量技术
2IfcdYG §8.1 非球面轮廓测量技术概述
@c;XwU]2t §8.2 数据处理
l k~VvRq §8.3 轮廓测量精度分析与误差补偿
{}.M(nPtv; §8.4 非球面检测路径
QZwUv<* §8.5 点云曲率和法矢计算方法分析
^/6LVB * §8.6 非球面轮廓测量实例
` nd/N# 参考文献
o >wty3l: 第9章 非球面干涉测量技术
wh Hp}r §9.1 光学非球面检测方法
8dPDs#Zl §9.2 干涉检测波前拟合技术
]|m?pt §9.3 非球面补偿检测技术
+56N}MAs §9.4 计算机辅助检测
91f{qq=#J{ §9.5 离轴非球面检测校正技术
ke2zxX2f §9.6 大口径平面检测技术
s9# WkDR 参考文献
"A(D}~i 第10章 子孔径拼接干涉检测技术
lJHU1
gu §10.1 概述
h(~@
nd{ §10.2 基础理论
;AH8/M B9 §10.3 子孔径划分方法
Y0z)5),[U: §10.4 子孔径拼接测量实验
v(0IQ 参考文献
_xWX/1DY 第11章 亚表面损伤检测技术
$?Km3N\?v §11.1 亚表面损伤概述
7MbV|gM} §11.2 亚表面损伤产生机理
KPi_<LuK §11.3 亚表面损伤检测技术
b6%[?k §11.4 磁流变斜面抛光法测量亚表面损伤深度
K#%@4]jO3 参考文献
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