X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 [u\E*8  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 tn!z^W  
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技术参数 }mQ7N&cC  

波长范围 Qfx(+=|	5-20 E/z^~;KA	10-60 vn<z\wVbf	25-80 I}a`11xb`
光源距离（m） U/'"w v1y	d7s? c	0.4-0.6 p.^glz>B	0.5-1.5 Qz/o-W;
平场尺寸（mm） S~fURn	25.4 KL D)h,]	50 7.)e4	50 _|qJ)gD[
色散(nm/mm) j ]th6	0.5-0.7 aC:Sy^Tf	0.7-1.1 \cmt'b	0.9-1.3 #T:#!MKa
光谱分辨率（nm） %B+W#Q`	0.06 t=M:L[bis;	0.09 N"Y)	0.11 \|9@*]6:
({JXv	+k|t [N	vW,dJ[N6jm	Tbv", b
升级波长范围 1xN6V-qk	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) 6\>S%S2:
探测器选择 tSX<^VER7	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 Pqiw[+a$
光栅台 x_Zi^]	电控 0G`_dMN
工作环境 2@K D '^(	<10-6mbar `B6~KZ
操作性 e~C5{XEE	极易安装使用，用户自己即可安装使用 A;~lG3j4

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技术优势介绍： wG;#L7%  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 9qc<m'MZ  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 a+A^njk  
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-平场成像技术 [>+R|;ln  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 VN!`@
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紧凑/模块化 PwP;+R};|  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） al>^}:  
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结实耐用无需准直 DM {r<?V  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 p!qV!:  
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- 定制化 `x=W)o }  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 "f^s*I  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 K.3)m]dCl  
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典型客户： B#RBR<MFC  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) n8W+q~sW%  
   
2. < >Los Alamos kA3nhBH  
   
3. Max Planck Institute

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