X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 S %(R9N|  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 wb6$R};?  
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技术参数 8Og)(BC  

波长范围 ZowPga	5-20 EakS(Q?	10-60 ?sbM=oo	25-80 qD> D
光源距离（m） k6??+b:rE	1#jvr_ ga	0.4-0.6 TmdRB8N	0.5-1.5 B=hJ*;:p
平场尺寸（mm） eo'C)j# U	25.4 N0 &#fXO	50 )q'~<QxI\	50 (N$$N:ac[t
色散(nm/mm) UdX aC= Q	0.5-0.7 ;/ao3Q	0.7-1.1 WyJXT.	0.9-1.3 i ,g<y
光谱分辨率（nm） 0= -D	0.06 }$1Aw%p^	0.09 ?p!+s96	0.11 *,p 16"Q;
8A|i$#.&	21G:!t4/?n	QLAyX*%B	M^~
升级波长范围 XrQS?D`	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) 2`w\<h
探测器选择 oxL4* bqZ	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 ! jb{q bq
光栅台 pd X"M>	电控 -~ycr[}x
工作环境 |h65[9DMP	<10-6mbar Id'@!U:NA
操作性 Is !DiB	极易安装使用，用户自己即可安装使用 od~`q4p1(-

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技术优势介绍： N0
G-/  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 QprzlxB  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 "6%vVi6  
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-平场成像技术 G.c@
4Wz+  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 bNO/CD4  
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紧凑/模块化 Gg9NG`e6I  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） ^,KN@  
JTg0T+  
结实耐用无需准直 "RJf2~(ZX  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 ICgyCsZ,  
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- 定制化 a4M`Bk;mb  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 $MG. I[h  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 $W;IW$  
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典型客户： D;Jb'Be  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) g1`/xJz|  
   
2. < >Los Alamos nNff~u)I  
   
3. Max Planck Institute

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