X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 j$Nf%V 6Y  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 f^p^Y F+  
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技术参数 aG(hs J)  

波长范围 gfde#T)S	5-20 ]]TqP{H	10-60 ([R")~`(l2	25-80 U\jb"
光源距离（m） q$gz_nVq,b	% <}<'V0	0.4-0.6 *KJB>W%@uM	0.5-1.5 pY o=oI
平场尺寸（mm） XA<ozq'	25.4 7+nm31,<O	50 ET:T7	50 #y1Bx,
色散(nm/mm) V}" g~=	0.5-0.7 I[0!SIqY	0.7-1.1 nPFwPk8=M	0.9-1.3 `G!M>h@
光谱分辨率（nm） ^lj7(	0.06 d'"r("w#	0.09 sw;|'N$:<	0.11 G:IP? z]
`Ye8 Q5v"]	0[T,O,y	Kqg!,Sn|	3mO;JXd
升级波长范围 9QwKakci	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) bsS:"/?>
探测器选择 n~.*1. P	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 0uvzxmN
光栅台 }%TPYc	电控 hyg8wI
工作环境 =0qpVFvU	<10-6mbar Y32 "N[yw
操作性 xQ4%e[/	极易安装使用，用户自己即可安装使用 Hfym30

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技术优势介绍： hK|j6xf.o  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 YA:nOvd@O  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 BU|#e5  
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-平场成像技术 fCWGAO2  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 V~@^`Gd  
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紧凑/模块化 P{Lf5V9# <  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） &;&ho+qD  
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结实耐用无需准直 G\de2Q"d:O  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 N$>^g"6o  
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- 定制化 qOih`dla  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 )3Z ^h<"j  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 RTh`ENCKR  
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典型客户： -i yyn^|  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) f y:,_#  
   
2. < >Los Alamos )G^ KDj"  
   
3. Max Planck Institute

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