X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 '|':W6m,  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 Of7j~kdh83  
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技术参数 g}{Rk>
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波长范围 8?W\kf$	5-20 '1~mnmiP	10-60 TmH#	25-80 LDBxw
光源距离（m） Ik>sd@X*|	,COSpq]6	0.4-0.6 ^TVica	0.5-1.5 =:P9 $
平场尺寸（mm） $V]D7kDph*	25.4 9Wb9g/L	50 @NlnZfMu	50 ~d/Doi
色散(nm/mm) }!pC}m	0.5-0.7 Os*,@N3t	0.7-1.1 @,CCwiF'q	0.9-1.3 )+RGXVp
光谱分辨率（nm） QJTGeJ Y	0.06 r9%4q4D?>9	0.09 _T6WA&;8	0.11 McNj TD
P}~6yX	28d:	<6mXlK3N0	0+P_z(93?
升级波长范围 1oFU4+{ 4	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) QVL92"
探测器选择 702&E(rx,	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 nFzhj%Pt;
光栅台 y,DK@X	电控 ~ I]kY%
工作环境 !Lb9KD k	<10-6mbar >9esZ A^';
操作性 uWG'AmK_#E	极易安装使用，用户自己即可安装使用 tU!"CX

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技术优势介绍： r}WV"/]p  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 5L42'gJ  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 fH`P8?](x  
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-平场成像技术 O#H`/z  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 qK:
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紧凑/模块化 gA2Il8K  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） *=MC+4E  
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结实耐用无需准直 +'=^/!  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 LdU, 32  
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- 定制化 'ujtw:Z:  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 :?RooJ~#  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 &Km?(%?  
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典型客户： XsQ<yeun  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) NqkRR$O  
   
2. < >Los Alamos f>\?\!  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息请联系：sales@@advacedlight.cn， 或致电021-60450828