X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 jdG2u p  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 <@(\z   
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技术参数 6"G(Iq'2t3  

波长范围 5%\K	5-20 3R<r[3WP	10-60 %U{sn\V	25-80 I%r7L
光源距离（m） C{/U;Ie-b	TNqL ')f	0.4-0.6 k*;U?C!	0.5-1.5 ;>Z+b#C[
平场尺寸（mm） s U`#hL6;	25.4 RL4|!Hz R	50 Z0Sqw	50 B0b|+5WhR
色散(nm/mm) _m?i$5	0.5-0.7 d~QKZ&jf	0.7-1.1 NOs00H	0.9-1.3 I*TTD]e'X
光谱分辨率（nm） ]\fHc"/	0.06 o(e(|k {	0.09 (Z>?\iNJ	0.11 ;g?PK5rB(
(nLzWvN	Fxa{ 9 '99	RjVUm+<	1sg:8AA
升级波长范围 E'{:HX	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) {D8opepO)
探测器选择 ~s&r.6DW	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 <7`k[~)VB
光栅台 %R4 \[e	电控 !QVhP+l'H
工作环境 VE]TT><	<10-6mbar !q$VnqFk
操作性 w%`S>+kX&	极易安装使用，用户自己即可安装使用 /F.<Gz;w

• Os[z>H?  
技术优势介绍： 3_wR2AU~  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 3L==p`   
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 ;V~x[J|x  
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-平场成像技术 Q3i\`-kbb  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 . h)VR 5?j  
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紧凑/模块化 '['%b  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） TqN@l\  
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结实耐用无需准直 r ts2Jk7f  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 1:<n(?5JI  
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- 定制化 pFd{Tdh  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 S^~"#  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 ASEKP(]v  
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典型客户： V"8Go;[
 

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) W"s/8;  
   
2. < >Los Alamos umuj>  
   
3. Max Planck Institute

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