X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 IV)
j1  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 0+b1vhQ  
b5n'=doR/I  
技术参数 )@bQu~Y  

波长范围 ;i+#fQO7Q	5-20 x'R`. !g3	10-60 koi^l`B$	25-80 63B?.
光源距离（m） ^pk7"l4Xm	Aq7osU1B	0.4-0.6 ufT`"i	0.5-1.5 r",GC]
平场尺寸（mm） qJUK_6|3	25.4 ` sU/&  P	50 S>1Iky|	50 K@hw.Xq"
色散(nm/mm) S|+o-[e8O	0.5-0.7 FaJ&GOM,	0.7-1.1 xKp4*[}m	0.9-1.3 nzeX[*
光谱分辨率（nm） jRV/A!4	0.06 SasJic2M	0.09 *-p}z@8	0.11 .kfIi^z
_:27]K:	h9W^[6	7D5]G-}x.	IPo?:1x]s
升级波长范围 # >+HlT	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) cYt!n5w~W
探测器选择 q5:N2Jmo?z	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 ?FcAXA/J{
光栅台 czd~8WgOa	电控 E< fVZ,
工作环境 J-hbh	<10-6mbar 4{`{WI{
操作性 5XBH$&Td	极易安装使用，用户自己即可安装使用 V "h +L7T

• J/*`7Pd  
技术优势介绍： c0u^zH<  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 ~/P[J  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 | %Vh`HT  
ea')$gR  
-平场成像技术
I2 P@L?h  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 K(Bf2Mfq  
N?"]  
紧凑/模块化 w+CA1q<  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） _aT5jR=  
:6\qpex  
结实耐用无需准直 9qG6Pb  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 )Z9>$V$j  
e**qF=HCw  
- 定制化 "LTad`]<Ro  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 L/G6Fjg^  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 ,DkNLE  
W:L AP R  
典型客户： Q$@I"V&G.  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) yO~Ig `w  
   
2. < >Los Alamos hQDXlFHT  
   
3. Max Planck Institute

R/z=p_6p7`  
详细信息请联系：sales@@advacedlight.cn， 或致电021-60450828