X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 <|h
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像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 1U@
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技术参数 /ta-jOcRH&  

波长范围 hP`3Ao	5-20 Z)62/`C)	10-60 -g;iMqh#	25-80 U,[vfSDGr
光源距离（m） :~zK0v"	_s|C0Pt	0.4-0.6 , YTuZS	0.5-1.5 u{ JAC!
平场尺寸（mm） {/XzIOO;b	25.4 Z7K;~*	50 rm+|xvZ4	50 ysGK5kFz
色散(nm/mm) KNQX\-=	0.5-0.7 P9G c)$6{p	0.7-1.1 #&1mc_`/	0.9-1.3 V. =!^0'A
光谱分辨率（nm） 6n	0.06 _+ oX9	0.09 !RFl v	0.11 2e/ JFhA
XlV#)JX	+sQ=Uw#e	$ze%!C	dF5EIPl;J
升级波长范围 a7%5Qg9B;	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) O<Ht-TN&
探测器选择 #=OKY@z/	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 GBHv| GO
光栅台 s34{\/'D+	电控 CS:j->
工作环境 x: `oqbd	<10-6mbar 9=ns.r
操作性 7xO =:*	极易安装使用，用户自己即可安装使用  pzg|?U

• (6^v`SZ  
技术优势介绍： Owo2DsT t  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 :+bQ
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相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 q$(aMO&J  
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-平场成像技术 }XX)U_x  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 l"f.eo0@7  
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紧凑/模块化 1}Tbp_  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） UP58Cln*  
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结实耐用无需准直 E2Q;1Re@  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 K#%L6=t$<  
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- 定制化 D\}^<HW  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 x{*g^f  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 Q]S~H+eRy  
%nSm 32/t3  
典型客户： P%8 Gaa=  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) )iNMjg  
   
2. < >Los Alamos ONH!ms(kb  
   
3. Max Planck Institute

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