X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 kE_@5t7O{  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 \8*,&ak%  
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技术参数 aT1CpY=T|.  

波长范围 7#9'2dI	5-20 rZ.a>'T4	10-60 6Sb'Otw.	25-80 B~!G lT
光源距离（m） rF'^w56	*lerPY3 q	0.4-0.6 'hlB;z|T	0.5-1.5 F%.9fUo
平场尺寸（mm） L_gsG|xX	25.4 2rj/wakd	50 E7yf[/it	50 a0?iR5\
色散(nm/mm) siRnH(^J	0.5-0.7 EK8 E	0.7-1.1 2u~c/JryN	0.9-1.3 V^ fGRA
光谱分辨率（nm） LN.Bd,	0.06 11B{gUv.]	0.09 {wpMg	0.11 V8nz-DL{
6t_ 3%{	uq|vNLW26	r% TLv	AY&9JSu6
升级波长范围 $&=4.7Yt	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) y#Mc4?
探测器选择 AJ>BF.>	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 npO@Haw
光栅台 d(X\B{	电控 #Z|%0r_~
工作环境 yp[<9%Fi	<10-6mbar zL)1^[%O9
操作性 zj9bSDVL(	极易安装使用，用户自己即可安装使用 Q$?7)yyu+

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技术优势介绍： -[zdX}x.:  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 Ms:KM{T0  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 3yHb!}F  
0NCOz(L/  
-平场成像技术 -
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我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 {WYu0J@  
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紧凑/模块化 tA! M  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） &547`
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结实耐用无需准直 XlPK3^'N)h  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 &TP:yA[  
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- 定制化 Tn4W\?R  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 !paN`Fz\a  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 ZL4l (&"  
[Krm .)  
典型客户： wO
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1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) KjFZ  
   
2. < >Los Alamos BKE\SWu  
   
3. Max Planck Institute

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