X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 $G".PW
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像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 3`bQ0-D;  
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技术参数 :W.H#@'(  

波长范围 l7|z]v-	5-20 gXxi; g	10-60 Y4rxnXGw	25-80 BU:;;iV8
光源距离（m） /eV)5`V	!*-|!Vz	0.4-0.6 qYK^S4L	0.5-1.5 KN}#8.'>3
平场尺寸（mm） x3q^}sj%	25.4 RlOy,/-<	50 D0Dz@25-	50 f/)Y {kS6
色散(nm/mm) 5T x4u%g	0.5-0.7 .C'\U[A{	0.7-1.1 Xq?>a+B	0.9-1.3 CD&a_-'z$K
光谱分辨率（nm） Va8 }JD	0.06 S2$66xr#	0.09 P T;{U<5	0.11 \n{#r`T
1#vu)a1+b	o(hUC$vW	"*bLFORkq'	mkSu $c
升级波长范围 Nf| 0O\+%y	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) QLJ \>
探测器选择 T8S&9BM7	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 ]3 "0#Y
光栅台 %p 6Ms	电控 zDvV%+RW)
工作环境 rS [4Pey	<10-6mbar k8s)PN
操作性 evyjHcCx	极易安装使用，用户自己即可安装使用 &]TniQH

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技术优势介绍： WsHDIp  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 m6i ,xn  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 TAYh#T=S  
Ic'D#m  
-平场成像技术 2 5~Z%_?  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 ntIR#fB  
S)EF&S(TC  
紧凑/模块化 jkk%zu  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） nvR%Ub x  
%Xc,l Y1?  
结实耐用无需准直 b$@I(.X:  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 e)}E&D;${  
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- 定制化 Ce+:9}[  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 -53c0g@X  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 ;` L%^WZ;-  
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典型客户： ;Rv WF )  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) q7CLxv &QG  
   
2. < >Los Alamos LH54J;7Y  
   
3. Max Planck Institute

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