X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 ? eI)m  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 jqj}j2 9  
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技术参数 QD^=;!  

波长范围 N;P /$	5-20 _C1u}1hW#	10-60 ^-s7>F`jx	25-80 &WAU[{4W
光源距离（m） U v>^ Z2	Ekrpg^3qp"	0.4-0.6 ]v@ng8	0.5-1.5 yGWl8\,j0
平场尺寸（mm） ^iWGGnGS	25.4 +kxk z"fP	50 SI%J+Y7	50 Sjwwc6_c
色散(nm/mm) <?8cVLW}O	0.5-0.7 C'l\4ij)7	0.7-1.1 0L"uU3	0.9-1.3 s/E9$*0
光谱分辨率（nm） ;YQ6X>	0.06 jL4"FTcE]3	0.09 _uJ6Vy	0.11 GbMu;CA
W0U|XX!&	em^2\*sxpA	Ssa/;O2	n Zx^ej\
升级波长范围 uF|[MWcy0#	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) 1ATH$x
探测器选择 e*Nm[*@UW	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 q4"^G:
光栅台 p"cY/2w:j	电控 V)`Q0}
工作环境 \[+':o`LH	<10-6mbar *x2u
操作性 \4 t;{ _	极易安装使用，用户自己即可安装使用 [ CU8%%7

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Ai)Q(]  
技术优势介绍： x5U;i  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 .&^M Z8  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 p<@+0Uw2  
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-平场成像技术 H0.&~!,*  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 J(XK%e[8  
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紧凑/模块化 G jrN1+9=  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） 4HXNu,T'  
4=* ml}RP  
结实耐用无需准直 Uf[Gs/!NV  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 Pc~)4>X<  
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- 定制化 @ eP[*Q  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 )GC[xo4bg  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 6XVJ/q
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典型客户： :J5CmU$  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) $~A\l@xAG  
   
2. < >Los Alamos *nUa0Zg4q6  
   
3. Max Planck Institute

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