射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 O`Qke
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像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 J0vQqTaT  
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技术参数 ?f9M59(l  

波长范围 EZ>(}	5-20 v6DjNyg<x	10-60 F3vywN1$,	25-80 '4d4i
光源距离（m） S@!_{da	> dVhIbG	0.4-0.6 .Y2H d$rs	0.5-1.5 &x B^
平场尺寸（mm） )?OdD7gd	25.4 e}-fGtFx	50 ;F- mt(Y	50 "6IZf>N@#
色散(nm/mm) b&@]f2/	0.5-0.7 \:F$7 *Ne	0.7-1.1 m+8:_0x "	0.9-1.3 [;aM8N
光谱分辨率（nm） b 1.S21	0.06 LN(\B:wAY	0.09 ";`jS&"=	0.11 WJ-.? 
h}'Hst	*tT}N@<%	doTbol?+	$?!]?{K
升级波长范围 \>*.+?97	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) )uAY_()/
探测器选择 _vb'3~'S	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 ts ( u7CJd
光栅台 bBc<p{ 	电控 *w.":\P]
工作环境 'Q=)-	<10-6mbar "9^b1UH<
操作性 ^HR8.9^[1u	极易安装使用，用户自己即可安装使用 b{-"GqMO

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技术优势介绍： -1B.A  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 AfhJ6cSIE  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 8pA<1H%  
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-平场成像技术 Eo^m; p5  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 fsK=]~<g  
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紧凑/模块化 LKI\(%ba#  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） ^S;{;c+'  
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结实耐用无需准直 {T^D&i# o  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 E0VAhN3G\  
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- 定制化 !pRu?5  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 P
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这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 Iv3yDL;  
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典型客户： F4-rPv  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) f^hJAZ  
   
2. Los Alamos [G|
   
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3. Max Planck Institute 3B%7SX  
   

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