射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 L|LTsRIq  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 PS6`o  
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技术参数 TXcKuo=  

波长范围 kg@h R}	5-20 ~\ f^L?m	10-60 w>uZ$/	25-80 0K ?(xB
光源距离（m） EcIQ20Z_-	M;qL)vf	0.4-0.6 : qRT9n$	0.5-1.5 Wi^rnr'Ss
平场尺寸（mm） pm\X*t}L	25.4 l,wN@Nk	50 yU,xcq~l	50 |`wsKr'
色散(nm/mm) I&8m5F?$`	0.5-0.7  c^ s>	0.7-1.1 K/`RZ!	0.9-1.3 @88i/ Z_
光谱分辨率（nm） a}fClI-u	0.06 m7vxzC*	0.09 9 w1ONw8v	0.11 _~Vz+nT
/T)n5X	'*u;:[73	~+C?][T	sdYj'e:N
升级波长范围 u=o"^	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) pm~;:#z7
探测器选择 R Sz[6	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 A(OfG&!
光栅台 Z&jb,eh2	电控 ?K {1S
工作环境 Wxau]uix	<10-6mbar m,C,<I|'d
操作性 S.|kg2	极易安装使用，用户自己即可安装使用 n~u3

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技术优势介绍： o MkY#<Q}  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 F*t_lN5{  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 e>9Z:vY
 
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-平场成像技术 NLZZMr  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 U qw}4C/0  
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紧凑/模块化 ^7bf8 ^`  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） =yX&p:-&  
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结实耐用无需准直 R{uJczu  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 #z!Hb&Qi\  
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- 定制化 RE $3| z  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 L'XdX\5  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 [~c'|E8Q  
D&l,SD  
典型客户： lI_Yb:  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) .um&6Q=2<  
   
2. Los Alamos @ Rx6 >52>  
   
3. Max Planck Institute =lC;^&D-0/  
   

M&/aJRBS  
详细信息，请联系sales@advacedlight.cn或致电021-60450828