射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 ;-OnCLr  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 @Y~R*^n"}  
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技术参数  b* QRd  

波长范围 Z]1=nSv	5-20 z g@,s"`>	10-60 (&w'"-`	25-80 9'qU4I
光源距离（m） oPX `/X#	y}fF<qih'>	0.4-0.6 ^&AhWm7\	0.5-1.5 ]y4(WG;:
平场尺寸（mm） &?],uHB?d	25.4 Xm|Uz`A;	50 ii.L]#3y	50 eYER"E
色散(nm/mm) -`iXAyr)m	0.5-0.7 92@/8, [	0.7-1.1 Wz}8O]#/.	0.9-1.3 uB(16|W>S
光谱分辨率（nm） ad\?@>[I	0.06 NhI& wl	0.09 +h64idM{U	0.11 _f~(g1sE
?P+n0S!	YF+hN\	fpjy[$8	s`j QX\{
升级波长范围 fn%Gu s~	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) WjyuaAWY
探测器选择 |H:JwxH	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 LvWl*:z
光栅台 jV(\]g"/=	电控 56;(mbW
工作环境 }(g`l)OX	<10-6mbar 6GxQ<
操作性 [DW}z	极易安装使用，用户自己即可安装使用 uS9:cdH

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技术优势介绍： FmfPi .;1  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 1E(~x;*)  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 "[`.I*WNo  
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-平场成像技术 64Ot
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我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 ]dXHjOpA  
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紧凑/模块化 kzA%.bP|  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） s\c*ibxM,  
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结实耐用无需准直 vYh_<Rp5  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 bYr;~ ^  
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- 定制化 E,Q>jH  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 m6%csh-N1  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 SZOcFmC?  
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典型客户： >U~B"'!xV  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) f%LzWXA  
   
2. Los Alamos >Z#=<  
   
3. Max Planck Institute S~
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详细信息，请联系sales@advacedlight.cn或致电021-60450828