射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 DV*e.Y>  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 F&lSRL+v  
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技术参数 '?3
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波长范围 |F qujZz	5-20 >]Dn,*R	10-60 7$*x&We	25-80 rV*Ri~Vx
光源距离（m） 6.|[;>Km	3 [O+wVv	0.4-0.6 "K;""]#wg0	0.5-1.5 =t|,6Vp
平场尺寸（mm） \(zUI	25.4 PMQlJ&	50 uOh 	50 o,$K=#Iv
色散(nm/mm) oTTE<Ct[	0.5-0.7 Ac}5,	0.7-1.1 ~Ds3-#mMy	0.9-1.3 dkQP.Tj$i
光谱分辨率（nm） O6">Io5	0.06 8LY^ >.	0.09 9 j0o)]	0.11  / w[Tu
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升级波长范围 L9!\\U	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) KvO5-g
探测器选择 d9l2mJzW	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 ;RMevVw|
光栅台 o,/wE	电控 e`K{
工作环境 0Ld"df*	<10-6mbar 6yC4rX!a
操作性 ROO@EQ#`Z	极易安装使用，用户自己即可安装使用 TrQUhmS/!

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技术优势介绍： [7,q@>:CS  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 NFqGbA|  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 L08lkq,  
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-平场成像技术 lnK#q.]  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 !bCaDTz  
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紧凑/模块化 qTGi9OP6/  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） ~{pds  
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结实耐用无需准直 O-3aU!L  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 {W=5 J7  
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- 定制化 /E:BEm!  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 VL
|Z+3L  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 yl0;Jx?  
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典型客户： /<"ok;Pu7  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) /Zxq-9   
   
2. Los Alamos Q07&7SH_  
   
3. Max Planck Institute d)d0,fi?-  
   

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详细信息，请联系sales@advacedlight.cn或致电021-60450828