射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 a^_W}gzzd  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 d:>'c=y  
nB5\ocJ  
技术参数 Gqc6]{  

波长范围 w!v^6[!	5-20 kFY2VPP~	10-60 |)" y	25-80 cruBJZr*
光源距离（m） hdcB*j?4	HV-;?5	0.4-0.6 /#SfgcDt	0.5-1.5 UNwjx7usD
平场尺寸（mm） 1]5k lJ	25.4 %<+uJ'pj	50 '+ZJf&Ox	50 g|->W]q@;
色散(nm/mm) x?lRObHK	0.5-0.7 oU @!R	0.7-1.1 kB=B?V~#	0.9-1.3 k;`1Ia
光谱分辨率（nm） tm1&OY	0.06 e`H>}O/ai	0.09 r_T"b	0.11 _9H]:]1QH
.-![ ra	db8vm4	(n~fe-?}8	@: =vK?8L
升级波长范围 ~piE$"]&	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) *?~"Jw
探测器选择 !lL `L\	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 K(lSR
光栅台 oNw=O>v	电控 ]0 = |?n$7
工作环境 {r$Ewc$Yb7	<10-6mbar d$x vEm
操作性 "crp/Bj?	极易安装使用，用户自己即可安装使用 FG{,l=Z0

• zVf79UrK  
技术优势介绍： Z<^EZX3N  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 1KGf @u%-1  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 tKcC{  
MBw;+'93qf  
-平场成像技术 C'y2!Q/"  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 <2%9O;bV[  
L(cKyg[R  
紧凑/模块化 hcRe,}wJ  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） "4Q_F3?_`  
koS?UYF`  
结实耐用无需准直 @_$$'XA7  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 b=\chCRJJ  
42tZBz&  
- 定制化 _deEs5i  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 ,%N[FZ`|  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 nK+ke)'Zv=  
vzbGLap#  
典型客户： Sy1O;RTn`  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) \,X)!%6kZ  
   
2. Los Alamos 60$;Q,]o  
   
3. Max Planck Institute !X$19"  
   

R) dP=W*  
详细信息，请联系sales@advacedlight.cn或致电021-60450828