射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 "+ 8Y{T  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 =5X(RGK  
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技术参数 %N-f9o8  

波长范围 )3KQ QGi8	5-20 yBxWBW*e	10-60 "':u#UdS	25-80 UZRCJ
光源距离（m） p7Q %)5o	9"mcN3x:\e	0.4-0.6 roG f &	0.5-1.5 0hx EI
平场尺寸（mm） <gc\,P<ru	25.4 M%Dv-D {	50 h;8^vB y	50 h4dT N}
色散(nm/mm) mg7Q~SLL{	0.5-0.7 FYu=e?L	0.7-1.1 T*sB Wn'am	0.9-1.3 X`FFI6pb
光谱分辨率（nm） O E56J-*}x	0.06 ~$3X>?Q	0.09 _3?7iH	0.11 WAt| J2
aI0}E O	~kAen	Z39I*-6F9W	B^u qu
升级波长范围 H+ Y+8	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) -P>f2It
探测器选择 LlfD>cN	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 @`6db
光栅台 2K1odqO#	电控 3d@$iAw1<
工作环境 <n:j@a\up0	<10-6mbar L=w g"$
操作性 qhiO( !jK	极易安装使用，用户自己即可安装使用 tv1Z%Mx?Cp

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技术优势介绍： 406.6jmv  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 tu6Q7CjW8  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 z rV  
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-平场成像技术 | Djgm7$*  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 9e|]H+y  
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紧凑/模块化 H/Fq'FsQB  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） \D37l_  
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结实耐用无需准直
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光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 _DK%-,Spu  
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- 定制化 $m;rOKVU  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 8[|RsM  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 S>o
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典型客户： dm&vLQVS  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH)
   KF"&9nB  
   
2. Los Alamos mqg[2VT
   RP  
   
3. Max Planck Institute 3d2|vQx,K  
   

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