射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 c^vPd]Ed  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 LnIln[g:  
mZ 39 s  
技术参数 YO7Y1(`  

波长范围 )z-)S	5-20 0UZ>y/ C)=	10-60 Kk1591'	25-80 lP& 7 U
光源距离（m） ,/AwR?m	$2qZds[	0.4-0.6 P:h ;"	0.5-1.5 m7wD#?lm
平场尺寸（mm） tFt56/4	25.4 1S9(Zn[2,	50 t-Rfy`I3	50 ^;jJVYx-PP
色散(nm/mm) B*7Y5_N	0.5-0.7 73B,I 0U	0.7-1.1 .gTla	0.9-1.3 3~Od2nk(x
光谱分辨率（nm） L;zwqdI	0.06 *,<A[XP	0.09 b"n8~Vd	0.11 x8k7y:
,?k[<C	W_l/Jpv!W	G n"]<8yl~	\MBbZB9@
升级波长范围 *I 6z;.#	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) )3#gpM
探测器选择 Z-|.j^n	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 {T4F0fu[eR
光栅台 |f), dC	电控 85CH% I#
工作环境 !z">aIj\6	<10-6mbar k7JE{(Ok
操作性 O O?e8OU	极易安装使用，用户自己即可安装使用 eKjmU| H

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技术优势介绍： %@tKcQ  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 #HFB*>  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 ;6S,|rC]  
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-平场成像技术 >qj.!npQD  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 wKOljE6d  
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紧凑/模块化 G8=2=/ !  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） MU6|>{  
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结实耐用无需准直 YXCltME  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 _M'WTe  
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- 定制化 ?;84M@  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 <vMna< /d  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 ql"&E{u?  
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典型客户： :})(@.H  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) %Aaf86pkp  
   
2. Los Alamos <Sds5 d  
   
3. Max Planck Institute MK
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