射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 vE\lp8j+  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 # mT]j""  
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技术参数 1p\Ak  

波长范围 hw,^G5m	5-20 "n?<2 wso	10-60 =I4.Gf"~f	25-80 (aKZ5>>cN
光源距离（m） Ti= 3y497S	S ~|.&0"\	0.4-0.6 i^|@"+	0.5-1.5 xPQL?.
平场尺寸（mm） D s-`	25.4 =MSu3<y,	50 Z;<ep@gy~	50 7kz-V.
色散(nm/mm) LHi6:G"Y(	0.5-0.7 !WKk =ysFS	0.7-1.1 *BOBH;s	0.9-1.3 h5onRa* 7
光谱分辨率（nm） km>o7V&4G	0.06 ~775soN	0.09 0n5UKtB	0.11 -V=arm\#z
c^S&F9/U*	]h@{6N'oNS	Dd/}Ya(Gi	4 X`^{~
升级波长范围 JSjYC0e	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) lgT?{,>RkW
探测器选择 =lrN'$z?%	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 G[6=u|(M
光栅台 F0;1zw	电控 h)o]TV
工作环境 M {xie	<10-6mbar lIq~~cv)
操作性 7Po/_%	极易安装使用，用户自己即可安装使用 <nA3Sd"QfV

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技术优势介绍： "k
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光源可以直接成像/超强信号采集能力 V_]-`?S  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 {HuLuP0t  
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-平场成像技术 %+8  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 E& ]_U$  
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紧凑/模块化 -A@U0=o  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） LW?2}`+  
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结实耐用无需准直 '#f?#(  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 ZOHRUm  
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- 定制化 YHh u^}|jQ  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 r %xB8e9  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 `q1}6U/k  
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典型客户： WFdem/\kX  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) )`RZkCe  
   
2. Los Alamos Ib(,P3  
   
3. Max Planck Institute UJs?9]x>  
   

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