射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 {6H%4n  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 Sc!]M 5  
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技术参数 M]9oSi  

波长范围 PL vz1}ts	5-20 Pf,S`Uw;	10-60 5'iJN$7	25-80 /tIR}qK
光源距离（m） $p_FrN{	&XG k	0.4-0.6 { a2Y7\C/	0.5-1.5 WOqAVd\
平场尺寸（mm） QY14N{]T\p	25.4 P(iZGOKUs=	50 rb 8c^u#r	50 o=/Cje
色散(nm/mm) X( Q*(_	0.5-0.7 jvfVB'Tmr	0.7-1.1 &qR1fbw"	0.9-1.3 iV+'p->/
光谱分辨率（nm） gFO|)I N	0.06 nT7{`aaQl	0.09 ?t;>]Wo;	0.11 "F_o%!l
$E=t6WvA	*Nfn6lVB	t:A,p T3	E>_?9~8Mf
升级波长范围 9a.r(W[9	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) O_}ZSB8"
探测器选择 7lP3\7wD@9	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 1\v$8pP+
光栅台 wLa^pI4p ^	电控 w8~J5XS
工作环境 $`nKq4Y 	<10-6mbar y&y(<
操作性 B@ab[dm280	极易安装使用，用户自己即可安装使用 re.%$D@

• TmN}TMhZ  
技术优势介绍： WZ.d"EE"  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 6k#H>zY,  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 $}[Tj0+:  
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-平场成像技术 *q5'~)W<  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 !*46@sb:  
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紧凑/模块化 'pE %'8R  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） E)(`Z0  
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结实耐用无需准直 nMU#g])y)  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 JOj\#!\>k0  
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- 定制化 /Vpd*obMB  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 !g? ~<`  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 "Y&+J@]  
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典型客户： {$iJYS\  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) M mg#Vy~  
   
2. Los Alamos Df_W>QC  
   
3. Max Planck Institute  FNZB M  
   

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