射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 ;N+$2w  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 NW$H"}+o  
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技术参数 (A k\Lm  

波长范围 [~5p>'	5-20 KYJ1}5n	10-60 Gtv,Izt	25-80 NQTnhiM7$
光源距离（m） ~KjJ\b)R	ske@uzAz	0.4-0.6 hVoNw6fE	0.5-1.5 R U"/2i
平场尺寸（mm） .W\ve>;	25.4 $*MCUnl	50 Ar9nBJ`	50 *a}(6Cx
色散(nm/mm) xc 1A$EY	0.5-0.7 Q.-*7h8	0.7-1.1 V+MK'<#B	0.9-1.3 \L!uHAE2a
光谱分辨率（nm） `%K`gYhG1	0.06 ux2013C_	0.09 :LJ7ru2	0.11 yFIy`9R
-*VKlZ8-	={(j`VSUX0	XaI;2fMGI	O0l^*nZ46t
升级波长范围 rp! LP#*	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅)  aA*9,
探测器选择 i`U:gw	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 c|p,/L09L
光栅台 uq7T{7~<	电控 ,+/zH'U}
工作环境 #5CI)4x0!	<10-6mbar eBB:~,C^q.
操作性 _]#klL	极易安装使用，用户自己即可安装使用 =fLL|

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技术优势介绍： *DeTqO65  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 oVkq2  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 </oY4$l'  
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-平场成像技术 6k0^x Q  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 r((Tavn  
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紧凑/模块化 B+VuUt{S  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） "X1vZwK8N  
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结实耐用无需准直 mMw;0/n  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 97~K!'/^+y  
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- 定制化 <bmLy_":  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 q=c/B(II!  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 a0_(eO-S  
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典型客户： <&#+E%E4  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) *K!++k!Ixa  
   
2. Los Alamos ~uaP$*B[  
   
3. Max Planck Institute \P?ToTTV  
   

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