世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek

世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品，厂商：美国SCI 公司 EV#MQM  
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可测参数： JXG"M#{  
1）单层或多层薄膜(可达50层)，厚度 （<1Å to 250 um) CycUeT  
2）反射率R和透射率T
@D-AO_  
3）折射率n和吸收系数k scuHmY0  
4）能带间隙 IKMeJ(:S  
5）表面粗糙度和损伤度 id<:p*  
6）成份和结晶程度 +X`V|E,no  
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适用于高精度的薄膜量测，广泛应用于OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等。 ^_5L"F]sP  
IX: 25CEI2  
联系方式：中电网EMD(半导体设备与材料部) 上海办 mNf8kwr  
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emdservice@chinaecnet.com 和电话021-61021225