世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek

世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品，厂商：美国SCI 公司 @5*$yi 'Cp  
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可测参数： }sW%i#CV  
1）单层或多层薄膜(可达50层)，厚度 （<1Å to 250 um) ^_\%?K_u  
2）反射率R和透射率T sff4N>XAl<  
3）折射率n和吸收系数k dnCurWjdk  
4）能带间隙 ?
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5）表面粗糙度和损伤度 Pd;Gc@'~  
6）成份和结晶程度 K aNO&%qX  
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适用于高精度的薄膜量测，广泛应用于OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等。 tYCVVs`?  
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联系方式：中电网EMD(半导体设备与材料部) 上海办 |Ju d*z  
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emdservice@chinaecnet.com 和电话021-61021225