世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek

世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品，厂商：美国SCI 公司 u_Zm1*'?B  
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可测参数： {Y"8~  
1）单层或多层薄膜(可达50层)，厚度 （<1Å to 250 um) _#(s2.h~J  
2）反射率R和透射率T {9;eH'e  
3）折射率n和吸收系数k q\_DJ)qpn  
4）能带间隙 @#CF".fuN>  
5）表面粗糙度和损伤度 z5ZKks   
6）成份和结晶程度 eaxfn]gV  
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适用于高精度的薄膜量测，广泛应用于OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等。 ,4yG(O$)  
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联系方式：中电网EMD(半导体设备与材料部) 上海办 v,*Q]r0m  
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emdservice@chinaecnet.com 和电话021-61021225