原厂认证系列~TracePro于杂散光分析与宏语言应用[北京6月]

TracePro 针对各式成像系统提供完整的杂散光分析功能。本课程将完整介绍如何使用 ByhOK}u;P4  
TracePro 正确的仿真分析成像系统中的杂散光现象，并在课程中引入基本的TracePro Macro Bn1L?>G  
Scheme Language，让您可以藉由撰写Macro Scheme 程序，轻松建立属于您的自动化杂散光分析程序。 wrQydI  
此训练课程通过Lambda Research Corp.原厂认证，全程采用一人一机、实机操作的方式进行，并会有资深工程师随堂提供及时的协助，帮助您可以快速的了解并使用TracePro 完成杂散光分析。课程中除了介绍如何使用TracePro 完成杂散光分析之外，并授以如何使用TracePro 所提供的宏程序语言完成自动化杂散光分析。本课程全程采用小班教学，互动性佳，轻松学习，同时为您解决使用仿真软件时所遭遇到困难。课程内容精彩丰富，并教材多取自实际案例，相信透过深入浅出的教学方式，必定能让您完全掌握杂散光分析的技巧并且使其自动化进行分析。 K=tx5{V
 
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时间

内容

09:00~16:00 &gWMl`3^*!

1.           简介使用 TracePro®分析系统杂散光 8lOZIbwS   2.           Point Source Transmittance (PST) 分析 U 6juS/   3.           杂散光系统之测试光源设定 >G<\1R   4.           使用重点取样(Importance Sampling)加速杂散光分析 Ehb?CnV#J   5.           自动重点取样(Auto Importance Sampling) $-$5ta{s   6.           TracePro®之各项分析工具与其参数设定 n9kd2[s|   7.           TracePro® 光学材料特性之仿真原理与应用 P?q G   8.           TracePro®杂散光辅助分析工具 hGed/Yr   9.           杂散光路径分析工具(Ray Path Sorting Tool) qSEB}1   10.       简介 TracePro® Macro Language YER:ICQ   11.       基础 Scheme 语法介绍 Ii~; d3.   12.       使用 TracePro® 宏指令，撰写自动化程序 zP:~O   13.       撰写自动化杂散光分析程序 ka2F!   14.       蒙特卡罗光线追迹之原理与极限蒙特卡罗光线追迹之原理与极限 _8[UtZYG

建议对象：已熟悉TracePro 基础操作之相关从业人员 WYwzo V-  
招生名额：10人(请自带notebook) *|];f#^9  
费用：美国原厂课程,两天价值3,500美元(机票加课程费用) $R%+*  
现在,您只需付RMB 3,500 (维护期内客户享有8折优惠) ,课后发给TracePro培训zhenhshu及TracePro POLO衫 ;Ze"<U  
日期：2011年6月27日~6月28日(星期一~二) m\6SG' X  
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讲师介绍 {A]k%74-a  
现任Lambda Research Corporation台湾分公司资深开发工程师 M5']sdR(l  
专长光学设计与优化算法 e1%rVQ(v  
时间：2011年06月27日~06月28日(星期一~二) 09:00~16:00 n> MD\ZS  
地点：北京 6sYV7w,'@  
主办：APIC爱尔发上海分公司‧Lambda Research公司 W[R]^2QAG  
报名：请于 6月20日前传真或e-mail报名表并完成汇款,座位有限，额满为止 Az9X#h.vf  
电话：021-64052328  曹小姐  传真 : 021-64052327  e-mail：candy@apic.com.cn ulH0%`Fi  
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报名表请连结下载