原厂认证系列~TracePro于杂散光分析与宏语言应用[北京6月]

TracePro 针对各式成像系统提供完整的杂散光分析功能。本课程将完整介绍如何使用 L'1!vu *Rg  
TracePro 正确的仿真分析成像系统中的杂散光现象，并在课程中引入基本的TracePro Macro Ltv!;
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Scheme Language，让您可以藉由撰写Macro Scheme 程序，轻松建立属于您的自动化杂散光分析程序。 OH.lAF4E(  
此训练课程通过Lambda Research Corp.原厂认证，全程采用一人一机、实机操作的方式进行，并会有资深工程师随堂提供及时的协助，帮助您可以快速的了解并使用TracePro 完成杂散光分析。课程中除了介绍如何使用TracePro 完成杂散光分析之外，并授以如何使用TracePro 所提供的宏程序语言完成自动化杂散光分析。本课程全程采用小班教学，互动性佳，轻松学习，同时为您解决使用仿真软件时所遭遇到困难。课程内容精彩丰富，并教材多取自实际案例，相信透过深入浅出的教学方式，必定能让您完全掌握杂散光分析的技巧并且使其自动化进行分析。 eBUexxBY  
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时间

内容

09:00~16:00 ;U+4!N

1.           简介使用 TracePro®分析系统杂散光 l(&3s:Ud   2.           Point Source Transmittance (PST) 分析 (2 nSZRB   3.           杂散光系统之测试光源设定 2H A-q),6   4.           使用重点取样(Importance Sampling)加速杂散光分析 HpbSf1VvAf   5.           自动重点取样(Auto Importance Sampling) W4MU^``    6.           TracePro®之各项分析工具与其参数设定 h2k"iO}   7.           TracePro® 光学材料特性之仿真原理与应用 1Ce7\A   8.           TracePro®杂散光辅助分析工具 Ax"]+pb   9.           杂散光路径分析工具(Ray Path Sorting Tool) & OO0v*@{   10.       简介 TracePro® Macro Language QMO.Bnek   11.       基础 Scheme 语法介绍 eyM<#3\\S   12.       使用 TracePro® 宏指令，撰写自动化程序 z@za9U`6i   13.       撰写自动化杂散光分析程序 @k+&89@G   14.       蒙特卡罗光线追迹之原理与极限蒙特卡罗光线追迹之原理与极限 \kN?7b^

建议对象：已熟悉TracePro 基础操作之相关从业人员 \zCw&#D0Z  
招生名额：10人(请自带notebook) bCa%$  
费用：美国原厂课程,两天价值3,500美元(机票加课程费用) P8&BtA  
现在,您只需付RMB 3,500 (维护期内客户享有8折优惠) ,课后发给TracePro培训zhenhshu及TracePro POLO衫 r6WSX;K  
日期：2011年6月27日~6月28日(星期一~二) <8J_[ S  
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讲师介绍 y$Nqw9  
现任Lambda Research Corporation台湾分公司资深开发工程师
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专长光学设计与优化算法 %P8*Az&]T  
时间：2011年06月27日~06月28日(星期一~二) 09:00~16:00 U# +$N3%  
地点：北京 &\Ze<u  
主办：APIC爱尔发上海分公司‧Lambda Research公司 `jHbA#sO  
报名：请于 6月20日前传真或e-mail报名表并完成汇款,座位有限，额满为止 1
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电话：021-64052328  曹小姐  传真 : 021-64052327  e-mail：candy@apic.com.cn K*!qt(D&  
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报名表请连结下载