原厂认证系列~TracePro于杂散光分析与宏语言应用[北京6月]

TracePro 针对各式成像系统提供完整的杂散光分析功能。本课程将完整介绍如何使用 LiFR7\z  
TracePro 正确的仿真分析成像系统中的杂散光现象，并在课程中引入基本的TracePro Macro PW%ith1)<  
Scheme Language，让您可以藉由撰写Macro Scheme 程序，轻松建立属于您的自动化杂散光分析程序。 i@6g9\x+  
此训练课程通过Lambda Research Corp.原厂认证，全程采用一人一机、实机操作的方式进行，并会有资深工程师随堂提供及时的协助，帮助您可以快速的了解并使用TracePro 完成杂散光分析。课程中除了介绍如何使用TracePro 完成杂散光分析之外，并授以如何使用TracePro 所提供的宏程序语言完成自动化杂散光分析。本课程全程采用小班教学，互动性佳，轻松学习，同时为您解决使用仿真软件时所遭遇到困难。课程内容精彩丰富，并教材多取自实际案例，相信透过深入浅出的教学方式，必定能让您完全掌握杂散光分析的技巧并且使其自动化进行分析。 cM9>V2:P  
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时间

内容

09:00~16:00 ([a;id

1.           简介使用 TracePro®分析系统杂散光 !7~4`D c6U   2.           Point Source Transmittance (PST) 分析 n(z$u)Y   3.           杂散光系统之测试光源设定 _&q&ID   4.           使用重点取样(Importance Sampling)加速杂散光分析 /QL<>g   5.           自动重点取样(Auto Importance Sampling) J R~s`>2   6.           TracePro®之各项分析工具与其参数设定 tjV63`LD   7.           TracePro® 光学材料特性之仿真原理与应用 tculG|/   8.           TracePro®杂散光辅助分析工具 9\Rk(dd   9.           杂散光路径分析工具(Ray Path Sorting Tool) }Dcpe M?   10.       简介 TracePro® Macro Language ^cW{%R>XY   11.       基础 Scheme 语法介绍 V^D1:9i   12.       使用 TracePro® 宏指令，撰写自动化程序 v(O@~8(I   13.       撰写自动化杂散光分析程序 h\)ual_r[j   14.       蒙特卡罗光线追迹之原理与极限蒙特卡罗光线追迹之原理与极限 N/0Q`cQ-

建议对象：已熟悉TracePro 基础操作之相关从业人员 %^I
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招生名额：10人(请自带notebook) )"P.n-aF  
费用：美国原厂课程,两天价值3,500美元(机票加课程费用) WpI5C,3Z!l  
现在,您只需付RMB 3,500 (维护期内客户享有8折优惠) ,课后发给TracePro培训zhenhshu及TracePro POLO衫 r!>=G%  
日期：2011年6月27日~6月28日(星期一~二) \n#l+
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讲师介绍 =5pwNi_S  
现任Lambda Research Corporation台湾分公司资深开发工程师 9%P$e=Ui#  
专长光学设计与优化算法 =`(\]t"I  
时间：2011年06月27日~06月28日(星期一~二) 09:00~16:00 kc2E4i  
地点：北京 ocp3JR_0  
主办：APIC爱尔发上海分公司‧Lambda Research公司 X~; *zYd5  
报名：请于 6月20日前传真或e-mail报名表并完成汇款,座位有限，额满为止 -Xgup,}?  
电话：021-64052328  曹小姐  传真 : 021-64052327  e-mail：candy@apic.com.cn 9fSX=PVRmQ  
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报名表请连结下载