《
半导体薄膜技术与
物理》全面
系统地介绍了半导体薄膜的各种制备技术及其相关的物理基础。全书共分十章。第一章概述了真空技术,第二至第八章分别介绍了蒸发、溅射、化学气相沉积、脉冲
激光沉积、分子束外延、液相外延、湿化学合成等各种半导体薄膜的沉积技术,第九章介绍了半导体超晶格、量子阱的基本概念和理论,第十章介绍了典型薄膜半导体器件的制备技术。
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*]`t@q 《半导体薄膜技术与物理》文字叙述上力求做到深入浅出,内容上深度和宽度相结合,理论和实践相结合,以半导体薄膜技术为重点,结合半导体
材料和器件的性能介绍,同时还介绍了半导体薄膜技术与物理领域的新概念、新进展、新成果和新技术。《半导体薄膜技术与物理》具有内容翔实、概念清楚、图文并茂的特点。
8TZA T%4 《半导体薄膜技术与物理》读者对象广泛,可作为高等院校材料、物理、
电子、化学等学科的研究生或高年级本科生的半导体薄膜技术课程的教材,也可作为从事半导体材料、薄膜材料、光电器件等领域的科研人员、工程技术人员的参考书籍。
T[h}A"yK; 叶志镇,男,1955年5月生于浙江温州。1987年获浙江大学光仪系工学博士学位;毕业后留校工作,1990~1992年留学美国麻省理工学院(MIT);1994年晋升为教授;1996年选为博导。现为浙江大学材料与化学工程学院副院长、浙江大学纳米中心主任。 1988年进入浙江大学材料系,在硅材料国家重点实验室一直从事半导体薄膜教学科研工作,主要研究方向:Zn0薄膜材料制备、物性调控及光电应用;纳米薄层材料高真空CVD技术研发及应用。现兼任国家自然科学基金委信息科学部评审组成员,全国电子材料专委副主任,全国半导体与集成技术、半导体材料和半导体物理专委委员等。
K#UA M. 《半导体薄膜技术与物理》共分十章,以叶志镇教授“半导体薄膜技术物理”讲义为基础编撰而成。第一章叙述了真空技术的基本知识;第二章至第八章是《半导体薄膜技术与物理》的核心内容,结合各种半导体材料,详细介绍了蒸发、溅射、化学气相沉积、脉冲激光沉积、分子束外延、液相沉积和湿化学合成等半导体薄膜技术与物理;第九章介绍了超晶格的相关知识,超晶格、量子阱是现代新型半导体器件的基础和关键;第十章介绍了典型薄膜半导体器件的制备技术,包括发光二极管、薄膜晶体管和紫外探测器。
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kDnta qH%L"J 第1章 真空技术
SKSAriS~ 1.1 真空的基本概念
`s83rhs`! 1.1.1 真空的定义
n5k^v$' 1.1.2 真空度单位
z]l-?>Zbg 1.1.3 真空区域划分
@@/'b' 1.2 真空的获得
4zqE?$HM' 1.3 真空度测量
+%}5{lu_e 1.3.1 热传导真空计
O\?5#. 1.3.2 热阴极电离真空计
ONN{4&7@< 1.3.3 冷阴极电离真空计
3TiXYH 1.4 真空度对薄膜工艺的影响
&lh_-@Xz 参考文献
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WWp? J4Z<Yt/ 第2章 蒸发技术
Rhv".epz 2.1 发展历史与简介
j+13H+dN 2.2 蒸发的种类
M,\|V3s 2.2.1 电阻热蒸发
oyN+pFVB:$ 2.2.2 电子束蒸发
lv\F+?]a 2.2.3 高频感应蒸发
<Xs@ \ 2.2.4 激
光束蒸发
[wy3Ld 2.2.5 反应蒸发
;h-G3>Il 2.3 蒸发的应用实例
0J:U\S 2.3.1 Cu(In,Ga)Se2薄膜
<S8I"8{Mb 2.3.2 ITO薄膜
fb0T/JTw 参考文献
TFJ{fLG bm tJU3Rm 第3章 溅射技术
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ph' 3.1 溅射基本
原理 C`)^~C_]`3 3.2 溅射主要
参数 cB|Cy{% 3.2.1 溅射闽和溅射产额
G{:af:5Fo 3.2.2 溅射粒子的能量和速度
C*{15!d:G 3.2.3 溅射速率和淀积速率
D)*_{
3.3 溅射装置及工艺
h2/dhp 3.3.1 阴极溅射
Ng."+& 3.3.2 三极溅射和四极溅射
J"D&q 3.3.3 射频溅射
\}u7T[R=` 3.3.4 磁控溅射
3d#9Wyxs 3.3.5 反应溅射
PK-}Ldj
3.4 离子成膜技术
c;b[u:>~- 3.4.1 离子镀成膜
e<L 9k}c 3.4.2 离子束成膜
|%:qhs, 3.5 溅射技术的应用
S&
, Ju% 3.5.1 溅射生长过程
Gh$y#0qr 3.5.2 溅射生长Zno薄膜的性能
3Y1TQ;i,wQ 参考文献
u]1-h6 $LxG>db 第4章 化学气相沉积
PtRj9TT 4.1 概述
1F3QI| 4.2 硅化学气相沉积
xS
H6n 4.2.1 CVD反应类型
W;OYO 4.2.2 CVD热力学分析
5S|}:~7T 4.2.3 CVD动力学分析
, `[Z`SUk` 4.2.4 不同硅源的外延生长
I*+LJy;j 4.2.5 成核
H;TOPtt2 4.2.6 掺杂
.`p<hA)%[C 4.2.7 外延层质量
2rR@2Vsw2 4.2.8 生长工艺
RR~sEUCo{ 4.3 CVD技术的种类
;Xfd1 4.3.1 常压CVD
0,1L e$)6 4.3.2 低压CVD
fXF=F,!t 4.3.3 超高真空CVD
_ bXVg3oDt 4.4 能量增强CVD技术
E !Oz|q 4.4.1 等离子增强CVD
#|{BGVp 4.4.2 光增强CVD
vk4C_8m 4.5 卤素输运法
3ZW/$KP/ 4.5.1 氯化物法
'uP'P# 4.5.2 氢化物法
j{Yt70Wv 4.6 MOCVD技术
NSMjr_ 4.6.1 MOCVD简介
{dy`
%It 4.6.2 MOCVD生长GaAs
"%.|n| 4.6.3 MOCVD生长GaN
fB;&n 4.6.4 MOCVD生长ZnO
d{iu+=NXz 4.7 特色CVD技术
f"ZqA'KB# 4.7.1 选择外延CVD技术
R\9>2*w 4.7.2 原子层外延
CU#L *kz 参考文献
~4MtDf (B>yaM#5 第5章 脉冲激光沉积
$n=W2WJ6f 5.1 脉冲激光沉积概述
Vr&el 5.2 PLD的基本原理
h"VpQhi 5.2.1 激光与靶的相互作用
T =eT^?v 5.2.2 烧蚀物的传输
S 0R8'Y 5.2.3 烧蚀粒子在衬底上的沉积
mC*W2#1pF 5.3 颗粒物的抑制
%K&+~CJE 5.4 PLD在Ⅱ-Ⅵ族化合物薄膜中的应用
M(;y~|e 5.4.1 ZnO薄膜的PLD生长
Kf:2%_DB 5.4.2 其他Ⅱ-Ⅵ族化合物的PLD生长
lF;ziF 参考文献
tl{]gz yM (_P0 第6章 分子束外延
;x!,g5q"q 6.1 引言
l1-4n*fU 6.2 分子束外延的原理和特点
Ap
F*a$), 6.3 外延生长设备
O tXw/ 6.4 分子束外延生长硅
im_w+h%^ 6.4.1 表面制备
' +)6#/* 6.4.2 外延生长
NDB*BmG 6.4.3 掺杂
3n.+_ jQ>s 6.4.4 外延膜的质量诊断
v?Z'[l 6.5 分子束外延生长Ⅲ-V族化合物半导体材料和
结构 2k.S[?) 6.5.1 MBE生长GaAs
D 7Gd% 6.5.2 MBE生长InAs/GaAs
+l2e[P+qA 6.5.3 MBE生长GaN
lEO?kn.:z 6.6 分子束外延生长Ⅱ一Ⅵ族化合物半导体材料和结构
;el]LnV!O 6.6.1 HgCdTe材料
iyA*JCD 6.6.2 CdTe/Si的外延生长
~hS .\h 6.6.3 HgCdTe/Si的外延生长
w"fCI13 6.6.4 ZnSe、ZnTe
[=XZza.z 6.6.5 ZnO薄膜
u~#%P&3_W 6.7 分子束外延生长其他半导体材料和结构
pj!k|F9 6.7.1 SiC:材料
+ 6x"trC 6.7.2 生长小尺寸Ge/Si量子点
IT8B~I\OY 6.7.3 生长有机半导体薄膜
2LCc 参考文献
_Ct}%-,4 QDIsC 第7章 液相外延
/- DKV~ 7.1 液相外延生长的原理
O"@?U 7.1.1 液相外延基本概况
.LX?VD 7.1.2 硅液相外延生长的原理
B*9 7.2 液相外延生长方法和设备
aj&\CJ 7.3 液相外延生长的特点
K&j'c 7.4 液相外延的应用实例
,$HHaoog 7.4.1 硅材料
UqD5
A~w 7.4.2 Ⅲ-V族化合物半导体材料
1t0bUf;(M 7.4.3 碲镉汞(Hgl-rCdrTe)材料
re7!p(W?, 7.4.4 SiC材料
V[#6yMU @ 参考文献
Vil@?Y" EwTS!gL 第8章 湿化学制备方法
cNdu.c[@ 8.1 溶胶-凝胶技术
]a78tTi a^@+%?X 第9章 半导体超晶格和量子阱
eA`]KalH 第10章 半导体器件制备技术
]MC/t5vC u 参考文献
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