《
半导体薄膜技术与
物理》全面
系统地介绍了半导体薄膜的各种制备技术及其相关的物理基础。全书共分十章。第一章概述了真空技术,第二至第八章分别介绍了蒸发、溅射、化学气相沉积、脉冲
激光沉积、分子束外延、液相外延、湿化学合成等各种半导体薄膜的沉积技术,第九章介绍了半导体超晶格、量子阱的基本概念和理论,第十章介绍了典型薄膜半导体器件的制备技术。
c{4R*|^ 《半导体薄膜技术与物理》文字叙述上力求做到深入浅出,内容上深度和宽度相结合,理论和实践相结合,以半导体薄膜技术为重点,结合半导体
材料和器件的性能介绍,同时还介绍了半导体薄膜技术与物理领域的新概念、新进展、新成果和新技术。《半导体薄膜技术与物理》具有内容翔实、概念清楚、图文并茂的特点。
N,|r1u 9X# 《半导体薄膜技术与物理》读者对象广泛,可作为高等院校材料、物理、
电子、化学等学科的研究生或高年级本科生的半导体薄膜技术课程的教材,也可作为从事半导体材料、薄膜材料、光电器件等领域的科研人员、工程技术人员的参考书籍。
Ag6uR(uI 叶志镇,男,1955年5月生于浙江温州。1987年获浙江大学光仪系工学博士学位;毕业后留校工作,1990~1992年留学美国麻省理工学院(MIT);1994年晋升为教授;1996年选为博导。现为浙江大学材料与化学工程学院副院长、浙江大学纳米中心主任。 1988年进入浙江大学材料系,在硅材料国家重点实验室一直从事半导体薄膜教学科研工作,主要研究方向:Zn0薄膜材料制备、物性调控及光电应用;纳米薄层材料高真空CVD技术研发及应用。现兼任国家自然科学基金委信息科学部评审组成员,全国电子材料专委副主任,全国半导体与集成技术、半导体材料和半导体物理专委委员等。
%Rarr 《半导体薄膜技术与物理》共分十章,以叶志镇教授“半导体薄膜技术物理”讲义为基础编撰而成。第一章叙述了真空技术的基本知识;第二章至第八章是《半导体薄膜技术与物理》的核心内容,结合各种半导体材料,详细介绍了蒸发、溅射、化学气相沉积、脉冲激光沉积、分子束外延、液相沉积和湿化学合成等半导体薄膜技术与物理;第九章介绍了超晶格的相关知识,超晶格、量子阱是现代新型半导体器件的基础和关键;第十章介绍了典型薄膜半导体器件的制备技术,包括发光二极管、薄膜晶体管和紫外探测器。
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4U{m7[ K'Spbn!nC 第1章 真空技术
&h(g$-l?[ 1.1 真空的基本概念
50Ad,mn< 1.1.1 真空的定义
LS6ry,D"7 1.1.2 真空度单位
JO}?.4B 1.1.3 真空区域划分
+>#e=nH 1.2 真空的获得
jCQho-1QN 1.3 真空度测量
_-TOeP8#94 1.3.1 热传导真空计
L$hc, 1.3.2 热阴极电离真空计
h[Mdr 1.3.3 冷阴极电离真空计
DxfMqH[vs 1.4 真空度对薄膜工艺的影响
7Ud'd< 参考文献
]]/lC }p{;^B 第2章 蒸发技术
4swKjN
& 2.1 发展历史与简介
W>$BF[x!{ 2.2 蒸发的种类
s OQcx\dK 2.2.1 电阻热蒸发
RH~sbnZ)F 2.2.2 电子束蒸发
[%~^kq=| 2.2.3 高频感应蒸发
O9e.=l 2.2.4 激
光束蒸发
@woC8X 2.2.5 反应蒸发
OL9]*G?F 2.3 蒸发的应用实例
gn.Ol/6D 2.3.1 Cu(In,Ga)Se2薄膜
MD4\QNUa)* 2.3.2 ITO薄膜
@\PpA9ebg% 参考文献
!tBeuemN% 4>k
I^ 第3章 溅射技术
2d~LNy 3.1 溅射基本
原理 )&z4_l8`= 3.2 溅射主要
参数 Azn:_4O 3.2.1 溅射闽和溅射产额
tBv3~Of. 3.2.2 溅射粒子的能量和速度
KII ym9% 3.2.3 溅射速率和淀积速率
^IgS 3.3 溅射装置及工艺
B1+ZFQo 3.3.1 阴极溅射
Lzz)n%y5 3.3.2 三极溅射和四极溅射
\u8,!) 4i 3.3.3 射频溅射
l5HWZs^ 3.3.4 磁控溅射
_[JkJwPTx 3.3.5 反应溅射
T.2ZBG~|[ 3.4 离子成膜技术
9[sG1eP! 3.4.1 离子镀成膜
S+pP!YX 3.4.2 离子束成膜
}{mG/(LX8 3.5 溅射技术的应用
7}o6_i 3.5.1 溅射生长过程
x~Agm_Tu+' 3.5.2 溅射生长Zno薄膜的性能
_.=`>%, 参考文献
`j:M)2:*y ph#efY`a: 第4章 化学气相沉积
cAibB&`~ 4.1 概述
Cya5*U0= 4.2 硅化学气相沉积
<soj&f+ 4.2.1 CVD反应类型
6l[G1KkV 4.2.2 CVD热力学分析
r{Z[xWIX 4.2.3 CVD动力学分析
[Auc*@ 4.2.4 不同硅源的外延生长
c _mq 4.2.5 成核
I+~bCcgPi 4.2.6 掺杂
AsAFUuI 4.2.7 外延层质量
H/`G 4.2.8 生长工艺
1MV@5j 4.3 CVD技术的种类
J 8q 4.3.1 常压CVD
agW9Go_F[ 4.3.2 低压CVD
`#U ]iwW! 4.3.3 超高真空CVD
8nsZ+,@+[ 4.4 能量增强CVD技术
phS>T 4.4.1 等离子增强CVD
!
]\2A.b[ 4.4.2 光增强CVD
^]7,1dH}M 4.5 卤素输运法
(Y )!"_| 4.5.1 氯化物法
gD1+]am 4.5.2 氢化物法
~v\hIm3=m 4.6 MOCVD技术
48k7/w\ 4.6.1 MOCVD简介
RpAiU 4.6.2 MOCVD生长GaAs
EZ{/]gCK 4.6.3 MOCVD生长GaN
/Zx8nx'{V 4.6.4 MOCVD生长ZnO
8 ?" Ze( 4.7 特色CVD技术
'%ebcL 4.7.1 选择外延CVD技术
pI5_Hg 4.7.2 原子层外延
X(b1/lzA 参考文献
6}STp_x 8sWr\&! 第5章 脉冲激光沉积
|K)p]i+ 5.1 脉冲激光沉积概述
u?Z
<n: 5.2 PLD的基本原理
m r2S! 5.2.1 激光与靶的相互作用
_ .!aBy%xf 5.2.2 烧蚀物的传输
Oj-r;Tt_G} 5.2.3 烧蚀粒子在衬底上的沉积
}1F6?do3& 5.3 颗粒物的抑制
5}7ISNP;f 5.4 PLD在Ⅱ-Ⅵ族化合物薄膜中的应用
,02w@we5 5.4.1 ZnO薄膜的PLD生长
hk.yR1Y| 5.4.2 其他Ⅱ-Ⅵ族化合物的PLD生长
/4-}k 参考文献
yXrd2?Rq@ B5
&YL 第6章 分子束外延
}+_9"YQ: 6.1 引言
+0dT^Jkqg 6.2 分子束外延的原理和特点
(:l(_-O 6.3 外延生长设备
*.3y2m,bZ 6.4 分子束外延生长硅
:t%)5:@A 6.4.1 表面制备
"4RQ`.SR 6.4.2 外延生长
tJz^DXqAc 6.4.3 掺杂
[n!x&f8Xh 6.4.4 外延膜的质量诊断
sNf
+ lga0 6.5 分子束外延生长Ⅲ-V族化合物半导体材料和
结构 AygvJeM_W 6.5.1 MBE生长GaAs
*73AAA5LKa 6.5.2 MBE生长InAs/GaAs
kJ__:rS(T_ 6.5.3 MBE生长GaN
*V -ds8AQ 6.6 分子束外延生长Ⅱ一Ⅵ族化合物半导体材料和结构
`yx56 6.6.1 HgCdTe材料
?eVj8 $BQo 6.6.2 CdTe/Si的外延生长
/vy?L\`)# 6.6.3 HgCdTe/Si的外延生长
)\"I*Jwir 6.6.4 ZnSe、ZnTe
8UYJye8 6.6.5 ZnO薄膜
4a?r` ' 6.7 分子束外延生长其他半导体材料和结构
s_v}=C^ 6.7.1 SiC:材料
s|E%~j[9 6.7.2 生长小尺寸Ge/Si量子点
@ce3%`c_ 6.7.3 生长有机半导体薄膜
9GE]<v,_[ 参考文献
pW7kj&a_. `^zQ$au'u 第7章 液相外延
5)8. 7.1 液相外延生长的原理
W%WC(/hor 7.1.1 液相外延基本概况
6$DG.p 7.1.2 硅液相外延生长的原理
aTX]+tBoe 7.2 液相外延生长方法和设备
G_0)oC@Jl: 7.3 液相外延生长的特点
Uqr{,-]5v 7.4 液相外延的应用实例
d _uFY: 7.4.1 硅材料
rX:1_q`xA 7.4.2 Ⅲ-V族化合物半导体材料
ff[C' 7.4.3 碲镉汞(Hgl-rCdrTe)材料
YY\Rua/nG 7.4.4 SiC材料
9[Y*k^.! 参考文献
cT I,1U (]}XLMi,|! 第8章 湿化学制备方法
=:;YTie 8.1 溶胶-凝胶技术
T*8_FR < &62`Wr 0C 第9章 半导体超晶格和量子阱
[C2kK *JZ 第10章 半导体器件制备技术
7Y)s#FJ 参考文献
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