《
半导体薄膜技术与
物理》全面
系统地介绍了半导体薄膜的各种制备技术及其相关的物理基础。全书共分十章。第一章概述了真空技术,第二至第八章分别介绍了蒸发、溅射、化学气相沉积、脉冲
激光沉积、分子束外延、液相外延、湿化学合成等各种半导体薄膜的沉积技术,第九章介绍了半导体超晶格、量子阱的基本概念和理论,第十章介绍了典型薄膜半导体器件的制备技术。
*)T7DN8 《半导体薄膜技术与物理》文字叙述上力求做到深入浅出,内容上深度和宽度相结合,理论和实践相结合,以半导体薄膜技术为重点,结合半导体
材料和器件的性能介绍,同时还介绍了半导体薄膜技术与物理领域的新概念、新进展、新成果和新技术。《半导体薄膜技术与物理》具有内容翔实、概念清楚、图文并茂的特点。
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qivJ 《半导体薄膜技术与物理》读者对象广泛,可作为高等院校材料、物理、
电子、化学等学科的研究生或高年级本科生的半导体薄膜技术课程的教材,也可作为从事半导体材料、薄膜材料、光电器件等领域的科研人员、工程技术人员的参考书籍。
70A* !v 叶志镇,男,1955年5月生于浙江温州。1987年获浙江大学光仪系工学博士学位;毕业后留校工作,1990~1992年留学美国麻省理工学院(MIT);1994年晋升为教授;1996年选为博导。现为浙江大学材料与化学工程学院副院长、浙江大学纳米中心主任。 1988年进入浙江大学材料系,在硅材料国家重点实验室一直从事半导体薄膜教学科研工作,主要研究方向:Zn0薄膜材料制备、物性调控及光电应用;纳米薄层材料高真空CVD技术研发及应用。现兼任国家自然科学基金委信息科学部评审组成员,全国电子材料专委副主任,全国半导体与集成技术、半导体材料和半导体物理专委委员等。
kI^Pu 《半导体薄膜技术与物理》共分十章,以叶志镇教授“半导体薄膜技术物理”讲义为基础编撰而成。第一章叙述了真空技术的基本知识;第二章至第八章是《半导体薄膜技术与物理》的核心内容,结合各种半导体材料,详细介绍了蒸发、溅射、化学气相沉积、脉冲激光沉积、分子束外延、液相沉积和湿化学合成等半导体薄膜技术与物理;第九章介绍了超晶格的相关知识,超晶格、量子阱是现代新型半导体器件的基础和关键;第十章介绍了典型薄膜半导体器件的制备技术,包括发光二极管、薄膜晶体管和紫外探测器。
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Y-v6M3$ RAoY`AWI 第1章 真空技术
WHR6/H 1.1 真空的基本概念
LHusy;<E[ 1.1.1 真空的定义
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D 1.1.2 真空度单位
^%RIz!} 1.1.3 真空区域划分
)#Id=c 1.2 真空的获得
eq4Yc*|9 1.3 真空度测量
d?jzh1 1.3.1 热传导真空计
`6Yk-5 1.3.2 热阴极电离真空计
z#srgyLt 1.3.3 冷阴极电离真空计
_sqV@ J 1.4 真空度对薄膜工艺的影响
iRI7x)^0"z 参考文献
4^K<RSYs +Y440Tz 第2章 蒸发技术
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(-o 2.1 发展历史与简介
~J1UzUxX2 2.2 蒸发的种类
4u]>$?X1_ 2.2.1 电阻热蒸发
>^adxXw.o 2.2.2 电子束蒸发
0?,%B?A8O 2.2.3 高频感应蒸发
KiMEd373- 2.2.4 激
光束蒸发
6z1>(Za7> 2.2.5 反应蒸发
+`~kt4W 2.3 蒸发的应用实例
O.'\GM 2.3.1 Cu(In,Ga)Se2薄膜
[_3L 2.3.2 ITO薄膜
T@on
ue7 参考文献
:cE~\BS& B&z~}lL 第3章 溅射技术
lm(k[]@ 3.1 溅射基本
原理 Eh.NJI( 3.2 溅射主要
参数 z5IdYF? 3.2.1 溅射闽和溅射产额
w7Vl,pN, 3.2.2 溅射粒子的能量和速度
hdy
N
3.2.3 溅射速率和淀积速率
j%Z%_{6Ds* 3.3 溅射装置及工艺
!WQ S.& 3.3.1 阴极溅射
8i?:aN[.1b 3.3.2 三极溅射和四极溅射
+IbQVU~/ 3.3.3 射频溅射
mI3
\n 3.3.4 磁控溅射
7\Wq :<JL 3.3.5 反应溅射
sEEyN3 N 3.4 离子成膜技术
yxL(mt8 3.4.1 离子镀成膜
3W"l}.&ZJ" 3.4.2 离子束成膜
*ta?7uSiT 3.5 溅射技术的应用
P~ODd( 3.5.1 溅射生长过程
S2"H E` 3.5.2 溅射生长Zno薄膜的性能
@LR :^>&* 参考文献
$g]'$PB g+/m:(7[s| 第4章 化学气相沉积
6%fF6 4.1 概述
FKk.BA957h 4.2 硅化学气相沉积
~Jx0#+z9V 4.2.1 CVD反应类型
4Y4QR[>IU3 4.2.2 CVD热力学分析
iCh,7I,m 4.2.3 CVD动力学分析
@hj5j;NHK 4.2.4 不同硅源的外延生长
'(yjq< 4.2.5 成核
J(=io_\bO 4.2.6 掺杂
NmZowh$M 4.2.7 外延层质量
Gq9pJ 4.2.8 生长工艺
geSH3I
4.3 CVD技术的种类
+|TFxaVz 4.3.1 常压CVD
PuGc{kt 4.3.2 低压CVD
>):^Zs 4.3.3 超高真空CVD
2H2Yxe7? - 4.4 能量增强CVD技术
pn-`QB:{h 4.4.1 等离子增强CVD
qfl #ki`, 4.4.2 光增强CVD
5 p! rZ 4.5 卤素输运法
[mA\,ny9 4.5.1 氯化物法
y8CH=U[ 4.5.2 氢化物法
"vN~7% 4.6 MOCVD技术
p1B~F 4.6.1 MOCVD简介
MtKM#@ 4.6.2 MOCVD生长GaAs
D:vX/mf;7 4.6.3 MOCVD生长GaN
C`r{B.t`GT 4.6.4 MOCVD生长ZnO
TjLW<D(i> 4.7 特色CVD技术
Y>Tok|PV 4.7.1 选择外延CVD技术
U6yZKK 4.7.2 原子层外延
="__*J#nze 参考文献
"6
\_/l Eu1t*>ZL 第5章 脉冲激光沉积
GLE"[!s]f 5.1 脉冲激光沉积概述
F%^)oQT+c 5.2 PLD的基本原理
iFkXt<_A 5.2.1 激光与靶的相互作用
V"DilV$v 5.2.2 烧蚀物的传输
Uy5G,! 5.2.3 烧蚀粒子在衬底上的沉积
9@yi
UX 5.3 颗粒物的抑制
kP,^c{ 5.4 PLD在Ⅱ-Ⅵ族化合物薄膜中的应用
IJ#+"(?7,u 5.4.1 ZnO薄膜的PLD生长
v2;'F 5.4.2 其他Ⅱ-Ⅵ族化合物的PLD生长
qM8"* dL 参考文献
SVJt= M RgTrj 第6章 分子束外延
q>Kzl/~c.P 6.1 引言
t?;\' 6.2 分子束外延的原理和特点
gvu1 6.3 外延生长设备
'4]_~?&x 6.4 分子束外延生长硅
)0N^rw kW 6.4.1 表面制备
zyPc<\HoK 6.4.2 外延生长
\zx$]|AQ 6.4.3 掺杂
ds;c\x 6.4.4 外延膜的质量诊断
g8L{xwx< 6.5 分子束外延生长Ⅲ-V族化合物半导体材料和
结构 c01i!XS 6.5.1 MBE生长GaAs
y`8bx94jB 6.5.2 MBE生长InAs/GaAs
w$4*/D}Y 6.5.3 MBE生长GaN
hG8<@ 6.6 分子束外延生长Ⅱ一Ⅵ族化合物半导体材料和结构
EUjA-L( 6.6.1 HgCdTe材料
?{rpzrc!* 6.6.2 CdTe/Si的外延生长
wjc&