《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
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K^*aX 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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)(: 第1章 简介
J`"1DlH 1.1 半导体器件
2'pxA: 1.2 半导体工艺技术
jq =-Y 总结
fylaH(LER 参考史献
YnI 第1部分 半导体物理
K5w22L^=+ 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
$X\BO& 2.1 半导体捌料
=M(\ R8 2.2 基本晶体
结构 Nw|Lrn*h! 2.3 基本晶体生长技术
EB> RY+\ 2.4 共价健
GXHk{G@TS 2.5 能带
w"l8M0$m 2.6 本征载流子浓度
*><]
[|Y@H 2.7 施主与受主
9:=a FP 总结
ff:&MsA|, 参考文献
EO|
kiC 习题
h+$_:](PC 第3章 载流子输运现象
=,0E3:X^ 3.1 载流子漂移
^kXDEKm 3.2 载流子扩散
<&+l;z 3.3 产生与复合过程
OEAF. 3.4 连续性方程斌
sO(K po9jq 3.5 热电子发射过程
{b#c0>.8- 3.6 隧穿过程
/?_{DMt 3.7 强电场效应
}xdI{E1 q) 总结
H%%#^rb^ 参考文献
M#|TQa N 习题
_<3:vyfdC 第2部分 半导体器件
kbMIMZC/G 第4章 p-n结
U7ajDw 4.1 基本工艺步骤
<o]tW4\(R 4.2 热平衡状态
q_ 5xsTlTR 4.3 耗尽区
Rw.
Uz& 4.4 耗尽层势垒电容
CMF1<A4] 4.5 电流-电压特性
:*oI"U*f 4.6 电荷储存与暂态响应
nFB;! r 4.7 结击穿
XHe= 4.8 异质结
@9c^{x\4 总结
n%?g+@y,^ 参考文献
!'[sV^ds 习题
]1Q\wsB 第5章 双极型晶体管及相关器件
liU=5BL 5.1 晶体管的工作原理
y'zEaL&SI@ 5.2 双极型晶体管的静态特性
%{Ls$Y) 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
-)$)<k 5.4 异质结双极型晶体管
x?j&Jn_@w 5.5 可控砟器件及相关功率器件
3PJ 总结
{+r?g J 参考文献
2ag]p 习题
:V_$?S 第6章 M0SFET及相关器件
s!+?)bB 6.1 MOS二极管
YTGup]d 6.2 MOSFET基本原理
uZQ)A,#n; 6.3 MOSFET按比例缩小
JT:9"lmJz, 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
WQ*$y3% 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
z_Qw's 6.6 MOS存储器结构
p@Qzg
/X 6.7 功率M05FET
Gu%`__ 总结
@FbzKHdV/ 参号文献
|Y])|`_'G 习题
'+}hVfN 第7章 MEsFET及相关器件
Kt^PL&A2 7.1 金属-半导体接触
Qe4 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
}`h}h<B( 7.3 调制摻杂场效应晶体管
=tog<7 总结
Aa1 |{^$:L 参考文献
q,*IR*B:a 习题
}U#S* 第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
h{h=',o1 8.1 基奉微波技术
Y&&Y:+
V 8.2 隧道二极管
fB:M'A' 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
P, Vq/Tt ……
@E==~ b 第9章 光电器件
I5bi^!i 第3部分 半导体工艺
fO:*85%}7 第10章 晶体长生外延
_QErQ^` 第11章
薄膜淀积
<&x_e-;b' 第12章 图形曝光与刻蚀
F.\]Hqq 第13章 杂质掺杂
oF*Y$OEu?c 第14章 集成器件
#Y{"`5> 附表
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