《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
YcE:KRy 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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*>rpcS<l
Y>Q9?>}Q yd5r]6ej 第1章 简介
=UA-&x@ 1.1 半导体器件
{'G@- +K 1.2 半导体工艺技术
/ 78gXHv 总结
VcIsAK".4[ 参考史献
T=:&W3 第1部分 半导体物理
x_{ua0BLDf 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
MzYTEe&-L 2.1 半导体捌料
N!m-gymmF 2.2 基本晶体
结构 vG#|CO9 2.3 基本晶体生长技术
]"q[hF*PM 2.4 共价健
~;#J&V@D 2.5 能带
z~+_sTu 2.6 本征载流子浓度
UZMo(rG.]{ 2.7 施主与受主
EaFd1 总结
@^}
%
o-: 参考文献
b_cnVlN[ 习题
_WtX8 第3章 载流子输运现象
4fw>(d(2 3.1 载流子漂移
&M=12>ah] 3.2 载流子扩散
o+`W 3.3 产生与复合过程
l/[@1(F 3.4 连续性方程斌
U2/H,D 3.5 热电子发射过程
-N^}1^gA 3.6 隧穿过程
8qp!S1Qnv 3.7 强电场效应
(qlIQC 总结
~-lIOQ.v 参考文献
ST)l0c+Y> 习题
z|F>+6l"Y7 第2部分 半导体器件
b*qkox;j 第4章 p-n结
)-|A|1Uo 4.1 基本工艺步骤
NWNH)O@ 4.2 热平衡状态
Bo.x 4.3 耗尽区
Wra*lQb/B 4.4 耗尽层势垒电容
[yL%+I 4.5 电流-电压特性
#B"ki{Se* 4.6 电荷储存与暂态响应
Y1+4ppZ 4.7 结击穿
fo&q/;l\ 4.8 异质结
^2|gQ'7< 总结
,ZV<o!\ 参考文献
6(B0gBCId 习题
uf\Hh -+p 第5章 双极型晶体管及相关器件
gl:vJD 5.1 晶体管的工作原理
XJ?|\=] 5.2 双极型晶体管的静态特性
e'(n ^_$nl 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
?,]%V1(@V` 5.4 异质结双极型晶体管
-]~U_J] 5.5 可控砟器件及相关功率器件
;5ugnVXu 总结
5&v'aiWK 参考文献
)NRY9\H 习题
{}N* e"<O 第6章 M0SFET及相关器件
})g|r9= 6.1 MOS二极管
jWiZ!dtUZ 6.2 MOSFET基本原理
(<s7X$(]e 6.3 MOSFET按比例缩小
l Vo](#W 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
1Ls@| 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
)9##mUt'} 6.6 MOS存储器结构
Vm_y,;/(-R 6.7 功率M05FET
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<r G4 总结
f,d @*E 参号文献
\yNjsG@, 习题
!w]!\H 第7章 MEsFET及相关器件
WTA0S}pT 7.1 金属-半导体接触
:IV4]` 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
D(Zux8l 7.3 调制摻杂场效应晶体管
?JzLn,& 总结
]2QZ47 参考文献
PkF
B. 习题
63UAN0K% 第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
>wej1#\3 8.1 基奉微波技术
?(*KQ#d 8.2 隧道二极管
hZY+dHa] 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
'|':W6m, ……
Ko\m8\3?fK 第9章 光电器件
Ooc,R( 第3部分 半导体工艺
tNjb{(eO\h 第10章 晶体长生外延
YUfuS3sX} 第11章
薄膜淀积
=R:3J"ly0 第12章 图形曝光与刻蚀
7SoxsT) 第13章 杂质掺杂
!ceuljd] 第14章 集成器件
9Vxsv*OR, 附表
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