《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
!;Yg/'vD- 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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e6R}0w~G
C*)3e*T* A&.WH?p 第1章 简介
n'wU;!W9 1.1 半导体器件
,Ys %:>? 1.2 半导体工艺技术
+%T\`6 总结
=9'RM>
参考史献
Bu<M\w?7Y 第1部分 半导体物理
ww\CQ6/h 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
W>Y@^U&x` 2.1 半导体捌料
]HKQDc' 2.2 基本晶体
结构 =9y[1t 2.3 基本晶体生长技术
E4`N-3 2.4 共价健
"CSsCA$/ 2.5 能带
ddJQC|xR} 2.6 本征载流子浓度
!;&p"E|b# 2.7 施主与受主
Zd^rNHhA 总结
cs,N <| 参考文献
twL3\
}N/B 习题
dpAjR 第3章 载流子输运现象
q8X feoUV 3.1 载流子漂移
@|
M|+k3 3.2 载流子扩散
A -H& 3.3 产生与复合过程
mXRB7k 3.4 连续性方程斌
[-65PC4aN 3.5 热电子发射过程
W98i[Q9A7 3.6 隧穿过程
<r.)hT"0 3.7 强电场效应
\rx3aJl 总结
{@H6HqD 参考文献
1tEgl\u\ 习题
Fsmycr!R 第2部分 半导体器件
9_# >aOqL 第4章 p-n结
dsb `xw 4.1 基本工艺步骤
6Z>FTz_ 4.2 热平衡状态
@K\~O__ 4.3 耗尽区
^W`<gR 4.4 耗尽层势垒电容
k$R~R-' 4.5 电流-电压特性
yh Yb'GK 4.6 电荷储存与暂态响应
WZ-s--n# 4.7 结击穿
Jj>?GAir 4.8 异质结
iZ#!O*> 总结
q!{y&.&\ 参考文献
oibsh(J3 习题
sv: 9clJ 第5章 双极型晶体管及相关器件
bZnuNYty75 5.1 晶体管的工作原理
T%.8'9 5.2 双极型晶体管的静态特性
;+W#5<i 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
K,Ef9c/+K 5.4 异质结双极型晶体管
`>7;! 5.5 可控砟器件及相关功率器件
opY@RJ] 总结
~+Rc}K 参考文献
Lz`E;k^ 习题
#ZJ _T`l 第6章 M0SFET及相关器件
v6=RY<l"m 6.1 MOS二极管
8qk?E6 6.2 MOSFET基本原理
WQ~;;.v# 6.3 MOSFET按比例缩小
Gy9$wH@8 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
j2Cks_$: 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
j>*R]mr6 6.6 MOS存储器结构
:Ux?, 6.7 功率M05FET
^`*9QjY 总结
u8gS<\ 参号文献
<L mIK 习题
2QD3&Q9 第7章 MEsFET及相关器件
0C =3dnp6 7.1 金属-半导体接触
p31NIf` 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
[=E 7.3 调制摻杂场效应晶体管
x*![fK 总结
4~k\j 参考文献
qIVx9jNN 习题
xAqb\|$^ 第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
E[2m&3& 8.1 基奉微波技术
Keuf9u 8.2 隧道二极管
p6]7&{> 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
Ov};e ……
D2<fw# 第9章 光电器件
C\3y {s 第3部分 半导体工艺
'{a/2
l 第10章 晶体长生外延
vX{J' H]u 第11章
薄膜淀积
w:%o?pKet1 第12章 图形曝光与刻蚀
A'j;\
`1 第13章 杂质掺杂
6 )Hwt_b 第14章 集成器件
aK&b{d 附表
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