《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
{"gyXDE1 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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Je4.9?Ch
xsY>{/C Z CQt1; 第1章 简介
0T{c:m~QXe 1.1 半导体器件
98b9%Z'2f 1.2 半导体工艺技术
OH!$5FEc 总结
j-C42Pfr 参考史献
Dbkuh!R 第1部分 半导体物理
^ T:qT*v 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
^NnU gj 2.1 半导体捌料
K,L> 2.2 基本晶体
结构 !mErt2UJl 2.3 基本晶体生长技术
QU,TAO 2.4 共价健
_/z)&0DO 2.5 能带
;f ;*Q>! 2.6 本征载流子浓度
KHc/x8^9 2.7 施主与受主
#BT6bH08X 总结
Vx7Dl{?{' 参考文献
Ei?9M^w 习题
UVoLHd 第3章 载流子输运现象
hk lO:,` 3.1 载流子漂移
_?(hWC"0 3.2 载流子扩散
\$~oH3m& 3.3 产生与复合过程
S\{^LVXTMd 3.4 连续性方程斌
S'%cf7Z 3.5 热电子发射过程
eB/hyC1 3.6 隧穿过程
tE9_dR^K 3.7 强电场效应
4-}A'fTU8 总结
jFPE>F7-M 参考文献
J:mu%N` 习题
8)q]^ 第2部分 半导体器件
(61twutC 第4章 p-n结
xn x1`|1u 4.1 基本工艺步骤
cJ(zidf_$ 4.2 热平衡状态
2t`9_zqLw 4.3 耗尽区
ixJ20A7 4.4 耗尽层势垒电容
}r<@o3t 4.5 电流-电压特性
s>M~g,xTU 4.6 电荷储存与暂态响应
c[d'1=Qiy 4.7 结击穿
sKG~<8M} 4.8 异质结
X?}GPA4 W 总结
ZTPOD.:# 参考文献
X5oW[ 习题
T.m)c%]^/ 第5章 双极型晶体管及相关器件
p`l[cVQ< 5.1 晶体管的工作原理
6t mNfI34 5.2 双极型晶体管的静态特性
'__3[D 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
tx1m36a" 5.4 异质结双极型晶体管
"JUQ)> !? 5.5 可控砟器件及相关功率器件
o|*| 总结
|<Dx 参考文献
<sWcS; x 习题
6<Pg>Bg 第6章 M0SFET及相关器件
18w^7!F?~u 6.1 MOS二极管
Sc"4%L 6.2 MOSFET基本原理
J&U0y 6.3 MOSFET按比例缩小
luz%FY: 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
uI-76 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
)Fr;'JYC1S 6.6 MOS存储器结构
A7,$y!D 6.7 功率M05FET
`@.s!L(V 总结
*ZSp9g"Z 参号文献
C=_-p"O# 习题
~:b:_ 5" 第7章 MEsFET及相关器件
qxcBj 7.1 金属-半导体接触
[?f.0q 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
=&*QT&e 7.3 调制摻杂场效应晶体管
(#l_YI
- 总结
0qd;'r< 参考文献
gjN!_^_ 习题
zQj%ds: 第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
at(p,+ % 8.1 基奉微波技术
.gkPG'm[ 8.2 隧道二极管
$}nUK~$GSv 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
Rd1ku= ……
%d#)({N 第9章 光电器件
e%v4,8 第3部分 半导体工艺
L9YwOSb. 第10章 晶体长生外延
c+i`Zd.m< 第11章
薄膜淀积
\NQ)Po@z 第12章 图形曝光与刻蚀
2:5gMt 第13章 杂质掺杂
+=H>s;B 第14章 集成器件
sriq(A 附表
1 l*(8!_ 索引
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