《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
N ~=PecQ 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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;.sYE/ZVi m0ra 第1章 简介
h'&<A_C-7 1.1 半导体器件
z;oia!9z 1.2 半导体工艺技术
5)XUT`;'){ 总结
8e>B>'nH 参考史献
ed',\+.uB 第1部分 半导体物理
_"Ym]y28li 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
.tG3g: 2.1 半导体捌料
i*:QbMb 2.2 基本晶体
结构 )r{Wj*u 2.3 基本晶体生长技术
e`={_R{N 2.4 共价健
1T|")D 2.5 能带
"*<vE7 2.6 本征载流子浓度
=Mwuhk|* 2.7 施主与受主
SJP3mq/^K 总结
%8u9:Cl): 参考文献
XV%R Mr6 习题
iy]L"7&Z2 第3章 载流子输运现象
SF;\*]["f 3.1 载流子漂移
P-2DBNB7 3.2 载流子扩散
Yz0fOX 3.3 产生与复合过程
HoAg8siQ 3.4 连续性方程斌
9;6)b0=$ 3.5 热电子发射过程
<bhGpLh-E 3.6 隧穿过程
%/e'6g< 3.7 强电场效应
SS%Bde&<{ 总结
Xn=yC Pi 参考文献
Q?1.GuF 习题
kJuG haO 第2部分 半导体器件
}(u:K}8 第4章 p-n结
r-$xLe7a 4.1 基本工艺步骤
)C?H m^# 4.2 热平衡状态
eC<RM Q4 4.3 耗尽区
S>T ;`, 4.4 耗尽层势垒电容
({Md({| 4.5 电流-电压特性
;
k.@= 4.6 电荷储存与暂态响应
x1g-@{8]j 4.7 结击穿
)=}qAVO8 4.8 异质结
D>{`I' 总结
;6hoG(3
+ 参考文献
~
i+XVo 习题
~;$QSO\2h 第5章 双极型晶体管及相关器件
o NA ]G] 5.1 晶体管的工作原理
>>J$`0kM* 5.2 双极型晶体管的静态特性
:F"IOPfU5[ 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
DTA$,1JuD 5.4 异质结双极型晶体管
`]l`t"x 5.5 可控砟器件及相关功率器件
YMv}] 总结
6BA$v-VVU 参考文献
=gSc{ i| 习题
i ?pd|J 第6章 M0SFET及相关器件
M}X ` 6.1 MOS二极管
3s%DF, 6.2 MOSFET基本原理
9teP4H}m 6.3 MOSFET按比例缩小
Ig!0A}f 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
*FEJ5x 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
\8ZVI98 6.6 MOS存储器结构
u*%mUh 6.7 功率M05FET
}[|9vF"g.y 总结
|$IL:W6 参号文献
u8JH~b 习题
e^@ZN9qQ 第7章 MEsFET及相关器件
{ly <%Q7j 7.1 金属-半导体接触
I:DAn!N-A* 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
CzreX3i 7.3 调制摻杂场效应晶体管
whw+ 总结
7&P70DO 参考文献
b/oNQQM#Dk 习题
1(T2:N(M-A 第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
Z>R@ 8.1 基奉微波技术
(5Q<xJ 8.2 隧道二极管
Ii}{{1N6 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
9 9:.j= ……
V!. Y M)B 第9章 光电器件
*"_W1}^ 第3部分 半导体工艺
KAE %Wwjr 第10章 晶体长生外延
*wx%jbJo 第11章
薄膜淀积
sd+_NtH 第12章 图形曝光与刻蚀
+<@1)qZ(E 第13章 杂质掺杂
JT<JS6vw# 第14章 集成器件
8*?H~q~ 附表
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