《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
hYb9`0G"2 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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a)S7}0|R
JJ5C}`( O,mip 第1章 简介
7Fl-(Nv` 1.1 半导体器件
l!IGc: 1.2 半导体工艺技术
=.b Y#4 总结
7lU.Nit 参考史献
KzVTkDn, 第1部分 半导体物理
#T \ 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
8i:[:Z 2.1 半导体捌料
@!\K>G >9[ 2.2 基本晶体
结构 z+3 9ee 2.3 基本晶体生长技术
r7I
B{}>- 2.4 共价健
%-j&e44 2.5 能带
nbxR"UH 2.6 本征载流子浓度
'm O2t~n 2.7 施主与受主
8#59iQl 总结
R0<< f] 参考文献
yVS\Q,:J9 习题
de YyaV 第3章 载流子输运现象
s;{K!L@ 3.1 载流子漂移
zj%cQkZ 3.2 载流子扩散
%S#WPD'Y 3.3 产生与复合过程
9#rt:&xo0 3.4 连续性方程斌
H?U't
09 3.5 热电子发射过程
m mw-a0 3.6 隧穿过程
tt4+ m>/T 3.7 强电场效应
7>-yaL{ 总结
>n!ni( 参考文献
k/lFRi-i 习题
cwynd=^nC 第2部分 半导体器件
R]QpMj%o 第4章 p-n结
sR*Nq5F#9 4.1 基本工艺步骤
l4ouZR 4.2 热平衡状态
Vz w PBQ - 4.3 耗尽区
|F!F{d^p 4.4 耗尽层势垒电容
,
Oli 4.5 电流-电压特性
qtzRCA!9(Z 4.6 电荷储存与暂态响应
AS;.sjgk 4.7 结击穿
uD)-V;}P@; 4.8 异质结
/#t&~E_| 总结
#@Y/{[s|@ 参考文献
@Fx@5e 习题
.ECHx Dp 第5章 双极型晶体管及相关器件
nyhMnp#< 5.1 晶体管的工作原理
D,rZ0?R 5.2 双极型晶体管的静态特性
9*}gl3y 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
ek)Xrp:2 5.4 异质结双极型晶体管
XDLEVSly7 5.5 可控砟器件及相关功率器件
JSW&rn 总结
2QayM?k8 参考文献
2)\vj5<~$ 习题
MF.[8Zb 第6章 M0SFET及相关器件
59!)j>f 6.1 MOS二极管
h&'=F)5 6.2 MOSFET基本原理
F2>%KuM 6.3 MOSFET按比例缩小
{}\CL#~y 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
`Q%NSU? 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
,Y!zORv<7 6.6 MOS存储器结构
nGa1a 6.7 功率M05FET
t26ij`V 总结
nl@E[yA9[ 参号文献
WE.Tuo5L 习题
[7\>"v6 第7章 MEsFET及相关器件
'29WscU 7.1 金属-半导体接触
8H
$ #+^lW 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
yJD>ny 7.3 调制摻杂场效应晶体管
~_ P YNY`" 总结
:ba/W&-d 参考文献
./w{L"E 习题
y1C/v:;
第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
ty-
r& 8.1 基奉微波技术
j Z'&0x"U 8.2 隧道二极管
3N<&u 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
v0 ];W| ……
a[C&e,)} 第9章 光电器件
%v4
[{ =fE 第3部分 半导体工艺
frH)_ YJ% 第10章 晶体长生外延
hC>wFC 第11章
薄膜淀积
dDlG!F_= 第12章 图形曝光与刻蚀
)Au&kd-W@( 第13章 杂质掺杂
X8CVY0<o 第14章 集成器件
)%mAZk-*;^ 附表
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