《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
$uDgBZA\ 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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G|KA!q i,r:R
g~ 第1章 简介
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= O 1.1 半导体器件
=yZq]g6Q 1.2 半导体工艺技术
Bh2l3J4X 总结
rhbz|Uq 参考史献
iW(LD1~7 第1部分 半导体物理
"H[K3 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
yiQ ?p:DM 2.1 半导体捌料
wpM2{NTP 2.2 基本晶体
结构 zp;!HP;/= 2.3 基本晶体生长技术
UgGa]b[9A 2.4 共价健
xj;:B( i 2.5 能带
IS&qFi}W|W 2.6 本征载流子浓度
(l^7EpNs 2.7 施主与受主
{\D&* 总结
0fXMY-$I 参考文献
|-}.Y(y 习题
o13jd NQ- 第3章 载流子输运现象
>|A,rE^Ojt 3.1 载流子漂移
isL
zgN% 3.2 载流子扩散
~^' ,4<K-} 3.3 产生与复合过程
t<Yi!6 3.4 连续性方程斌
GLtd<M" 3.5 热电子发射过程
)~wKRyQff 3.6 隧穿过程
1OMXg=Y 3.7 强电场效应
=WT$\KYGv
总结
=|z:wlOs 参考文献
T<pG$4_ 习题
Sc[#]2 } 第2部分 半导体器件
X6G{.Vh" 第4章 p-n结
xKSQz 4.1 基本工艺步骤
-p_5T*R 4.2 热平衡状态
ML905n u 4.3 耗尽区
~r.R|f]IQ 4.4 耗尽层势垒电容
&|Duc} t 4.5 电流-电压特性
kP%hgZ 4.6 电荷储存与暂态响应
*I(6hB 4.7 结击穿
"5V;~}=S 4.8 异质结
7?=^0?a 总结
\~hrS/$[$ 参考文献
89LD:+p/ 习题
pr#%VM[':R 第5章 双极型晶体管及相关器件
JPqd}:u3 5.1 晶体管的工作原理
r&
a[? 5.2 双极型晶体管的静态特性
.Z[4:TS 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
w.k9{f 5.4 异质结双极型晶体管
]!/U9"_e"B 5.5 可控砟器件及相关功率器件
e%JIqKS 总结
9Y,JYc# 参考文献
RJWO h 习题
M4C8K{} 第6章 M0SFET及相关器件
?.VKVTX^ 6.1 MOS二极管
F<I*?${[ 6.2 MOSFET基本原理
e3;& 6.3 MOSFET按比例缩小
XvaIOt>A 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
H]/~
#a 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
(I}owr 5: 6.6 MOS存储器结构
$z%(He 6.7 功率M05FET
!vgY3S0?rq 总结
DU%E883 参号文献
/^.S
nqk 习题
AabQ)23R2 第7章 MEsFET及相关器件
e-ta 7R4 7.1 金属-半导体接触
f=l/Fp}4UH 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
[Y](Y3 /.N 7.3 调制摻杂场效应晶体管
H[~ D]RG}' 总结
h:8P9WhWF 参考文献
d-~V. 习题
6j|Ncv 第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
g{]6*`/Z 8.1 基奉微波技术
Z`tmuu 8.2 隧道二极管
oPmz$]_Z 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
YcobK#c ……
0DicrnH8 第9章 光电器件
o`S``?`^)^ 第3部分 半导体工艺
))=6g@( 第10章 晶体长生外延
M~2Us{ ` 第11章
薄膜淀积
S&!(h
{O 第12章 图形曝光与刻蚀
i&:SWH= 第13章 杂质掺杂
NuQ!huh 第14章 集成器件
7
XxZF43 附表
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