《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
tsVQXvo 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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@GDe{GG+ B38_1X7 第1章 简介
xy)Y)yp 1.1 半导体器件
CG*eo!Nw 1.2 半导体工艺技术
kW0|\ 总结
92!1I$zi 参考史献
Kmc*z (Q 第1部分 半导体物理
7nM]E_ 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
va F^[/
(g 2.1 半导体捌料
u>o<ua
p 2.2 基本晶体
结构 0h/gqlTK1 2.3 基本晶体生长技术
`T7gfb%1-3 2.4 共价健
R_ymTB}<t( 2.5 能带
F^.w:ad9< 2.6 本征载流子浓度
(jd)sf6Tj[ 2.7 施主与受主
MkgeECMf 总结
,e$]jC<sv2 参考文献
)'3(=F$+l 习题
]Q1?Ox:' 第3章 载流子输运现象
<wWZ]P2] 3.1 载流子漂移
-9TNU7^ 3.2 载流子扩散
^kJ(bBY 3.3 产生与复合过程
#$7d1bx 3.4 连续性方程斌
11t+
a,fM 3.5 热电子发射过程
'X_8j` ]# 3.6 隧穿过程
is}6cR 3.7 强电场效应
`>KB8SY:qK 总结
PDQC^2Z 参考文献
3Kuu9<0 习题
V'?bZcRr~ 第2部分 半导体器件
|s[kY 第4章 p-n结
Gu[G_^> 4.1 基本工艺步骤
&XAG|
# 4.2 热平衡状态
;D.a |(Q 4.3 耗尽区
WO$9Svh8 4.4 耗尽层势垒电容
~2u~}v5m7 4.5 电流-电压特性
D=Ia$O0. 4.6 电荷储存与暂态响应
<%w)EQf4m 4.7 结击穿
uc;1{[5`1q 4.8 异质结
r+%:rFeX 总结
JLgk? 参考文献
Wy1#K)LRb 习题
_~~:@fy 第5章 双极型晶体管及相关器件
=nPIGI72VO 5.1 晶体管的工作原理
7Nx5n< 5.2 双极型晶体管的静态特性
KglL@V7 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
eaLR-+vEB 5.4 异质结双极型晶体管
S}L$-7Ct 5.5 可控砟器件及相关功率器件
OBrbWXp@ 总结
z }?*1c 参考文献
;#-yyU 习题
tuH8!. 第6章 M0SFET及相关器件
/zxLnT;
5 6.1 MOS二极管
NqyKR&; 6.2 MOSFET基本原理
CB V(H$d 6.3 MOSFET按比例缩小
-Pds7}F8 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
K+2k}Hx6J 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
R\DdU-k 6.6 MOS存储器结构
@c3GJ'"X 6.7 功率M05FET
U`YPzZp_ 总结
Cg{V"B: 参号文献
uu0"k<Tp 习题
2?vjj:P+h 第7章 MEsFET及相关器件
NQBa+N 7.1 金属-半导体接触
F3d: W:^_ 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
EFpV 7.3 调制摻杂场效应晶体管
%#5\^4$z|N 总结
"rxhS;
R1> 参考文献
H}v.0R 习题
hF m_`J&" 第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
z}Y23W&sX 8.1 基奉微波技术
hd+(M[C<9 8.2 隧道二极管
bogw /)1 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
KmF"Ccc ……
>i&"{GZ 第9章 光电器件
t<8vgdD 第3部分 半导体工艺
RWyDX_z#< 第10章 晶体长生外延
ZiR },F/ 第11章
薄膜淀积
K|n%8hRy 第12章 图形曝光与刻蚀
f3r\X 第13章 杂质掺杂
]0[Gc
\h} 第14章 集成器件
0}LBnV 附表
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