《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
#pnI\ 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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H*PSR WvY?
+JXJ 第1章 简介
{ttysQ- 1.1 半导体器件
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d7I&$ 1.2 半导体工艺技术
JkbQyn 总结
do>wwgr 参考史献
.[ICx 第1部分 半导体物理
Hquc
o 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
R\!2l|_ 2.1 半导体捌料
W:pIPDx1=! 2.2 基本晶体
结构 #cI{Fe0h 2.3 基本晶体生长技术
,s"^kFl 2.4 共价健
_9F9W{' 2.5 能带
vg32y /l]S 2.6 本征载流子浓度
M /"I2m
2.7 施主与受主
rX2.i7i, 总结
{8W'%\!=
参考文献
n-tgX?1' 习题
Jdj2~pTq 第3章 载流子输运现象
Pd_U7&w,5 3.1 载流子漂移
L 0TFo_ 3.2 载流子扩散
ivJ@=pd)B 3.3 产生与复合过程
fHx*e'eA 3.4 连续性方程斌
qm/22:&v5 3.5 热电子发射过程
-&zZtDd F 3.6 隧穿过程
Sw ig;` 3.7 强电场效应
;DfY#- 总结
YJT&{jYi 参考文献
j8^I z 习题
L>Fa^jq5 第2部分 半导体器件
nAsh:6${ 第4章 p-n结
n FHUy9q 4.1 基本工艺步骤
8e1UmM[ 4.2 热平衡状态
rZ}:Z'` 4.3 耗尽区
&5B'nk" 4.4 耗尽层势垒电容
3u+T~g0^ 4.5 电流-电压特性
y51e%n$ 4.6 电荷储存与暂态响应
/
*#r`A 4.7 结击穿
z]_wjYn Z 4.8 异质结
^ @s1Z7 总结
*av<E 参考文献
iL-(O;n 习题
*&^Pj%DX 第5章 双极型晶体管及相关器件
R'as0 u\ 5.1 晶体管的工作原理
l<58A7 5.2 双极型晶体管的静态特性
0d)M\lG 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
FrGgga$ 5.4 异质结双极型晶体管
Bu~]ey1 5.5 可控砟器件及相关功率器件
2*;~S44 总结
HdUQCugxx: 参考文献
gwuI-d^ 习题
q 376m-+ 第6章 M0SFET及相关器件
pP&7rRhw 6.1 MOS二极管
[
)Iv^ U9 6.2 MOSFET基本原理
/K@XzwM 6.3 MOSFET按比例缩小
'uSn}hm 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
-A^ _{4X 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
5y.WMNNv{ 6.6 MOS存储器结构
uP)'FI 6.7 功率M05FET
u&Yz[)+b=g 总结
dd %6t 参号文献
@e.C"@G 习题
'urafE4M 第7章 MEsFET及相关器件
we//|fA< 7.1 金属-半导体接触
v!~fs)cdE| 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
U`(ee*}o 7.3 调制摻杂场效应晶体管
i
&nSh ]KK 总结
f643#1 参考文献
y&$A+peJ1 习题
_}Ac n$ 第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
mp1@|*Sn 8.1 基奉微波技术
,wb:dj- 8.2 隧道二极管
EH J.T~X 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
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^0@86 ……
hR?{3d#x2 第9章 光电器件
2~)`N>@ 第3部分 半导体工艺
I3L<[-ZE 第10章 晶体长生外延
2`K=Hby 第11章
薄膜淀积
<44G]eb 第12章 图形曝光与刻蚀
BA:VPTZq 第13章 杂质掺杂
SwGx?U 第14章 集成器件
Z"xvh81P 附表
Di6 ?[(8 索引
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