《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
S<Xf>-8w 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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Gk6iIK ep{FpB 第1章 简介
_oeS Uzq. 1.1 半导体器件
G4"F+%. 1.2 半导体工艺技术
|yPu!pfl 总结
sfl<qD+? 参考史献
xJ.M;SF4 第1部分 半导体物理
nU7[c| = 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
=T7.~W 2.1 半导体捌料
_H@DLhH|= 2.2 基本晶体
结构 m)v&v6 2.3 基本晶体生长技术
7@W>E;go 2.4 共价健
;aVZ"~a+\ 2.5 能带
l.M0`Cn-% 2.6 本征载流子浓度
JB<t6+"rD 2.7 施主与受主
dSHDWu& 总结
El8,,E 参考文献
1?l1:}^L 习题
3ckclO\|> 第3章 载流子输运现象
KMax$ 3.1 载流子漂移
\s\?l(ooq" 3.2 载流子扩散
;!Fn1|) 3.3 产生与复合过程
5|)W.*Q 3.4 连续性方程斌
=Dj#gV 3.5 热电子发射过程
%8v\FS 3.6 隧穿过程
6_B]MN!( 3.7 强电场效应
B%68\ 总结
]6j{@z?{ 参考文献
o)/ 0a 习题
j1<Yg,_.p 第2部分 半导体器件
)boE/4 第4章 p-n结
J<lW<:!3] 4.1 基本工艺步骤
Kc\fu3Q
4.2 热平衡状态
RxQ * 4.3 耗尽区
xoME9u0x4 4.4 耗尽层势垒电容
Q+{n-? : 4.5 电流-电压特性
&H+xzN 4.6 电荷储存与暂态响应
{n=|Db~S 4.7 结击穿
BnY&f 4.8 异质结
#O&8A 总结
-yg7;ff 参考文献
19#\+LWA 习题
|N] XJ)? 第5章 双极型晶体管及相关器件
* v#o 5.1 晶体管的工作原理
4skD(au8 5.2 双极型晶体管的静态特性
s>c=c-SP. 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
_Z\G5x 5.4 异质结双极型晶体管
P$,Ke< 5.5 可控砟器件及相关功率器件
vP,n(reM 总结
0n'_{\yz 参考文献
;9#KeA _ 习题
0"SU_jQzv 第6章 M0SFET及相关器件
fV~[;e;U. 6.1 MOS二极管
h2QmQ>y" 6.2 MOSFET基本原理
fN2lLn9/u 6.3 MOSFET按比例缩小
G!yPw:X 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
$:^td/p J 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
8FhdN 6.6 MOS存储器结构
2Khv>#l
6.7 功率M05FET
W@esITr 总结
xyxy`qR A 参号文献
%
AgUUn&k 习题
}QmqoCAE~m 第7章 MEsFET及相关器件
rmOj 7.1 金属-半导体接触
1 -b_~DF 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
`GLx#=Q 7.3 调制摻杂场效应晶体管
eJX#@`K 总结
SS2%qv 参考文献
@}ZVtrz 习题
'<uq3?5 第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
y)<q/ 8.1 基奉微波技术
(tO\)aS= 8.2 隧道二极管
phz&zlD 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
(V@HR9?W) ……
_VXN#@y 第9章 光电器件
yDh6KUK 第3部分 半导体工艺
2Z%O7V~u 第10章 晶体长生外延
WY]s |2a 第11章
薄膜淀积
Ea=P2:3* 第12章 图形曝光与刻蚀
," ql5Q4 第13章 杂质掺杂
q cno^8R 第14章 集成器件
@%SQFu@FJ 附表
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