《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
O>f*D+A- 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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6_8y Q
LkafB2y $0{h Uex 第1章 简介
_Q\rZ
l 1.1 半导体器件
uFuH/(}K[ 1.2 半导体工艺技术
"AqLR 总结
q}'<[Wg 参考史献
R/B/|x 第1部分 半导体物理
&9Z@P[f 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
kSJ;kz,_ 2.1 半导体捌料
8%; .H- 2.2 基本晶体
结构 dqU)(T=C 2.3 基本晶体生长技术
(0_]=r=q 2.4 共价健
$D^27q:H 2.5 能带
]9<H[5>$R 2.6 本征载流子浓度
g
C8deC8 2.7 施主与受主
BVv-1$ U^ 总结
^eV K. 参考文献
5^qs>k[mN 习题
DjZTr}%q 第3章 载流子输运现象
>)[W7h 3.1 载流子漂移
1)xj 'n 3.2 载流子扩散
hOqNZ66{ 3.3 产生与复合过程
z{NK(oW 3.4 连续性方程斌
RU.MJ
kYQ5 3.5 热电子发射过程
MD0d 3.6 隧穿过程
isnpSN"z 3.7 强电场效应
ev7A;; 总结
iF:NDqc 参考文献
E9.1~
) 习题
PJKxh%J 第2部分 半导体器件
(:+Wc^0 第4章 p-n结
sBxCi~ 4.1 基本工艺步骤
C3<_0eI 4.2 热平衡状态
O" [#g 4.3 耗尽区
kmJ<AnK 4.4 耗尽层势垒电容
L'a s^Od 4.5 电流-电压特性
)C$Ij9<A 4.6 电荷储存与暂态响应
pXNH 4.7 结击穿
ZTGsZ}{5 4.8 异质结
UBuG12U4Y 总结
MqWM!v-M 参考文献
: T4ap_Ycq 习题
{v3@g[:| 第5章 双极型晶体管及相关器件
g1UQ6Oa 5.1 晶体管的工作原理
;$r!eFY; 5.2 双极型晶体管的静态特性
zs-,Y@ZL 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
NUi&x