《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
/q,vQ[R/ 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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_h+7KK EHy 15RL QJ&]4*>a 第1章 简介
IaZmN.k* 1.1 半导体器件
Lk)I;; 1.2 半导体工艺技术
m%0_fNSJ 总结
5vFM0 参考史献
<6Y|vEo!N 第1部分 半导体物理
%~I&T".iC 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
"cyRzQ6EH 2.1 半导体捌料
_dELVs7OL 2.2 基本晶体
结构 c2t`i 2.3 基本晶体生长技术
#.rkvoB0N 2.4 共价健
&?@[bD'T 2.5 能带
2Z(t/Zp> 2.6 本征载流子浓度
Siq]Ii0F;> 2.7 施主与受主
[[HCP8Wk 总结
MJh.)kd$ 参考文献
m.rV1#AI 习题
DXG`% <ZMn 第3章 载流子输运现象
S{?l/*Il*_ 3.1 载流子漂移
m62Zta 3.2 载流子扩散
>yr;Y4y7K 3.3 产生与复合过程
P4HoKoj2` 3.4 连续性方程斌
`+T 2IPN
3.5 热电子发射过程
[
:)F- 3.6 隧穿过程
Rz&`L8Bz 3.7 强电场效应
i6P}MtC1 总结
Q>\Ho' 参考文献
2Y%7.YX" 习题
wm^1Fn-- 第2部分 半导体器件
_YG@P1 第4章 p-n结
@`)>-k 4.1 基本工艺步骤
tvf5b8(Y- 4.2 热平衡状态
gaQ E'qp> 4.3 耗尽区
g)\ Tex< 4.4 耗尽层势垒电容
Uj\t04 4.5 电流-电压特性
1) K<x 4.6 电荷储存与暂态响应
R<gAxO%8 4.7 结击穿
;~DrsQb 4.8 异质结
M"W#_wY; 总结
Q|P
M6ta 参考文献
/k?l%AH 习题
(1q(6! 第5章 双极型晶体管及相关器件
*J]p/<> { 5.1 晶体管的工作原理
E.;Hm; 5.2 双极型晶体管的静态特性
wEl7mg ! 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
pGD-K41O] 5.4 异质结双极型晶体管
Z2@e~&L 5.5 可控砟器件及相关功率器件
n^$Q^[:Z 总结
N%'(8%; 参考文献
*~4<CP+"0 习题
}"nm3\Df 第6章 M0SFET及相关器件
gx^_bHh 6.1 MOS二极管
(=WbLNBS 6.2 MOSFET基本原理
GIkeZV{4} 6.3 MOSFET按比例缩小
j@#RfVx 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
h5T~dGRlR 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
TD*AFR3Oz 6.6 MOS存储器结构
%-fS:~$ 6.7 功率M05FET
8%?MRRK 总结
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\R 参号文献
4,W,E4 7 习题
G5OGyQp 第7章 MEsFET及相关器件
Z_dL@\#| 7.1 金属-半导体接触
nv+miyvvm 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
%Qb}z@>fJk 7.3 调制摻杂场效应晶体管
0FH.=
总结
6C"zBJcGc 参考文献
c;]^aaQ+> 习题
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p\{ 第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
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GjBt 8.1 基奉微波技术
(4RtoYWW 8.2 隧道二极管
4Ozcs'} 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
eJn_gKWb ……
R=48:XG3/K 第9章 光电器件
Ktt(l-e + 第3部分 半导体工艺
@c"s6h& 第10章 晶体长生外延
lb*;Z7fx<' 第11章
薄膜淀积
fuCt9Kjo< 第12章 图形曝光与刻蚀
}X=c|]6i^ 第13章 杂质掺杂
FqGMHM\J 第14章 集成器件
P*}aeu&lnD 附表
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