《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
nK)hv95i_ 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
I&%KOe0
K]'t>:G@ kxLWk%V 市场价:¥55.00
|\U 5m6 q 优惠价:¥44.00 为您节省:11.00元 (80折)
!{?<(6;t
l[6lXR&| <c&Nm_) 第1章 简介
V6bjVd9|Z 1.1 半导体器件
0iV~MQZ( 1.2 半导体工艺技术
%,+&Kl
I 总结
U;=1v:~d 参考史献
_7;D0l 第1部分 半导体物理
4 'DEdx,&f 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
'si{6t| 2.1 半导体捌料
k#n%at.g 2.2 基本晶体
结构 oh7tE$"c 2.3 基本晶体生长技术
eGLB,29g 2.4 共价健
Os/?iGlD*E 2.5 能带
0}"'A[xE 2.6 本征载流子浓度
:rU,7`sE/ 2.7 施主与受主
$=5kn>[_Z% 总结
\b}%A&Ij 参考文献
A[`2Mnj 习题
Ki>XLX,er= 第3章 载流子输运现象
h2y<vO 3.1 载流子漂移
61}eB/;7 3.2 载流子扩散
PVSz%" 3.3 产生与复合过程
MnP+L'| 3.4 连续性方程斌
7$v_#ZE.H 3.5 热电子发射过程
3TRG] 5 3.6 隧穿过程
9/=+2SZ 3.7 强电场效应
WIN3*z7oW 总结
A*{CT> 参考文献
2;x+#D8 习题
Nj.;mr< 第2部分 半导体器件
w8bvqTQ 第4章 p-n结
*#1J 4.1 基本工艺步骤
HLC I 4.2 热平衡状态
{(l,Uhxl"" 4.3 耗尽区
MvTp%d. 4.4 耗尽层势垒电容
V0G[f}tm' 4.5 电流-电压特性
8H,k0~D 4.6 电荷储存与暂态响应
8v)iOPmDC 4.7 结击穿
K,,'{j2#f 4.8 异质结
q7pe\~q 总结
;?v&=Z't. 参考文献
V}ls|B$Y 习题
~sdM~9@
' 第5章 双极型晶体管及相关器件
/i{V21(% 5.1 晶体管的工作原理
[@2$W?0i 5.2 双极型晶体管的静态特性
;u=%Vn"2a 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
!gcea?I 5.4 异质结双极型晶体管
.vie#,la 5.5 可控砟器件及相关功率器件
WtC&Qyuq 总结
R+El/ya:6 参考文献
i]Bu7Fuu 习题
XRTiC#6 第6章 M0SFET及相关器件
?XV3Y3 6.1 MOS二极管
B}J0d 6.2 MOSFET基本原理
fX2OH)6U 6.3 MOSFET按比例缩小
$}fY
B/ 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
ltKMvGEF 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
agq4Zy 6.6 MOS存储器结构
0Bk-)z|V 6.7 功率M05FET
7nsovWp 总结
/6Kx249Dw 参号文献
m
?*h\NaB 习题
!Sl_qL 第7章 MEsFET及相关器件
&