《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
nY) .|\|i 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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A:Rw@B$ 1]/N2& 第1章 简介
$M]%vG 1.1 半导体器件
2Yyb#Ow 1.2 半导体工艺技术
o*7y ax 总结
gB CC 参考史献
hBCR]='] 第1部分 半导体物理
-Q`Cq|s 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
Cals?u#U= 2.1 半导体捌料
.wFU:y4r 2.2 基本晶体
结构 ?2~U2Ir]: 2.3 基本晶体生长技术
oa9)Dv 2.4 共价健
uU+s!C9r 2.5 能带
$ WFhBak8 2.6 本征载流子浓度
@]3*B%t 2.7 施主与受主
l/ V&s< 总结
HRRngk#lV 参考文献
712=rUI%! 习题
E0bFx5e5fu 第3章 载流子输运现象
&y3B)#dIJ 3.1 载流子漂移
E2yz=7sv5 3.2 载流子扩散
FYeEG 3.3 产生与复合过程
;2W2MZ!TF 3.4 连续性方程斌
Rc7.M"wzjX 3.5 热电子发射过程
h2}am:%mC 3.6 隧穿过程
"X?LAo 3.7 强电场效应
A1!:BC 总结
`Wwh`]#"~d 参考文献
],V
kp 习题
p[P[#IeL 第2部分 半导体器件
/2:Q6J 第4章 p-n结
,(hY%M&\ 4.1 基本工艺步骤
CI1m5g [P 4.2 热平衡状态
V9$-twhu 4.3 耗尽区
)9pBu
B 4.4 耗尽层势垒电容
`hF;$ 4.5 电流-电压特性
7+]F^
6 4.6 电荷储存与暂态响应
'?L%F{g/9 4.7 结击穿
F0: &>'} 4.8 异质结
4O Zy&, 总结
xf UhSt 参考文献
@S}|Ccfc_ 习题
&.*T\3UO 第5章 双极型晶体管及相关器件
e6es0D[>5 5.1 晶体管的工作原理
fsb=8>}63} 5.2 双极型晶体管的静态特性
$UmE 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
1(F'~i|5 5.4 异质结双极型晶体管
v7$9QVze 5.5 可控砟器件及相关功率器件
IHfSkFz`j 总结
L3' \r 参考文献
"]9_Fv 习题
'v`~(9'Rcj 第6章 M0SFET及相关器件
R mgxf/ 6.1 MOS二极管
9w$7VW; 6.2 MOSFET基本原理
jM[f[ 6.3 MOSFET按比例缩小
z7$}#)Z7 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
I]UA0[8X 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
0wYiu 6.6 MOS存储器结构
n
K0hTQ 6.7 功率M05FET
iqlVlm>E 总结
a#6,#Q" 参号文献
9M19UP& 习题
|7Yvq%E 第7章 MEsFET及相关器件
kt5YgW 7.1 金属-半导体接触
|<7i|J 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
.k|-Ks|d| 7.3 调制摻杂场效应晶体管
iPJ9Gh7 总结
@YbZ8Uc 参考文献
!}C4{Bgt* 习题
f@#w{W,3 第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
PH{c, 8.1 基奉微波技术
5]Z] j[8Y 8.2 隧道二极管
} pSt@3o, 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
cEtZ}2,j ……
V4qZc0<,H
第9章 光电器件
c[6 zX#{` 第3部分 半导体工艺
iu+zw[f 第10章 晶体长生外延
/G[+E&vj 第11章
薄膜淀积
N_*u5mfQX 第12章 图形曝光与刻蚀
Y#.6d 第13章 杂质掺杂
5!2J;.& 第14章 集成器件
MH2OqiCI 附表
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