《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
>&K1+FSmyJ 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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'&/"_ 1LTl=tS# 第1章 简介
@\,WJmW 1.1 半导体器件
q' };.tv 1.2 半导体工艺技术
{'W\~GnZ 总结
Jsi [,|G 参考史献
H\tz"<*`` 第1部分 半导体物理
}(AgXvRq 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
+kF$I7LN 2.1 半导体捌料
Las4ux[_ 2.2 基本晶体
结构 Dp
0
2.3 基本晶体生长技术
9Wng(ef6G 2.4 共价健
`3!ERQU 2.5 能带
eWvL(2`T x 2.6 本征载流子浓度
m2[q*k]AtS 2.7 施主与受主
d[+ xLa 总结
}-H<wQ&x 参考文献
|I7-7d-;/ 习题
e[fzy0 第3章 载流子输运现象
k>
I;mEV 3.1 载流子漂移
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