《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
u~pBMg
, 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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qr@<'wp/ s~p(59 第1章 简介
SSQB1c 1.1 半导体器件
y2`}, 1.2 半导体工艺技术
c0ue[tb 总结
<5 )F9.$ 参考史献
@sdHB./ 第1部分 半导体物理
dZWO6k9[H 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
N^Hj%5 2.1 半导体捌料
` n#Db 2.2 基本晶体
结构 pw.K,?kYr 2.3 基本晶体生长技术
I/B *iW^ 2.4 共价健
cM_!_8o 2.5 能带
+RBX2$kB 2.6 本征载流子浓度
*|4/XHi 2.7 施主与受主
vojXo|c 总结
Oq9E$0JW 参考文献
I7
= 4%)A 习题
Tlm::S
第3章 载流子输运现象
11iV{ h 3.1 载流子漂移
1/3<u:: 3.2 载流子扩散
p]eVby" 3.3 产生与复合过程
LrH"d 3.4 连续性方程斌
Y@y"bjK \ 3.5 热电子发射过程
Di"Tv<RlQ 3.6 隧穿过程
ucYweXsO3 3.7 强电场效应
Ie]k/qw+ Y 总结
O))YJh"'_ 参考文献
r_hs_n!6 习题
j Gp&P 第2部分 半导体器件
]iYO}JuX 第4章 p-n结
QJy1j~9x 4.1 基本工艺步骤
Al1}Ir 4.2 热平衡状态
3}}8ukq 4.3 耗尽区
k`((6 4.4 耗尽层势垒电容
2Krh& 4.5 电流-电压特性
xj[v$HP 4.6 电荷储存与暂态响应
X`20=x 4.7 结击穿
FnPn#Cv>* 4.8 异质结
w `nm}4M 总结
dczq,evp 参考文献
~p`[z~| 习题
R > [2*o" 第5章 双极型晶体管及相关器件
cTBUj 5.1 晶体管的工作原理
G1a56TIN~ 5.2 双极型晶体管的静态特性
gHtflS 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
L0)w~F
?m 5.4 异质结双极型晶体管
2YQ;Kh"S
5.5 可控砟器件及相关功率器件
`>- 56 % 总结
PjP6^" 参考文献
Y?6}r;< 习题
ti^=aB
第6章 M0SFET及相关器件
TbD
$lx3> 6.1 MOS二极管
QM24cm
T 6.2 MOSFET基本原理
H]}mg='kI 6.3 MOSFET按比例缩小
t2Px?S? 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
kni{1Gr 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
cGyR_8:2cv 6.6 MOS存储器结构
\fsNI T/ 6.7 功率M05FET
PLJDRp 2o 总结
u2S8DuJ 参号文献
*nK4XgD 习题
UX'q64F! 第7章 MEsFET及相关器件
mM r$~^P: 7.1 金属-半导体接触
?kK3%uJy& 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
8!{
}WLwb 7.3 调制摻杂场效应晶体管
_^g4/G#13c 总结
"A*;V 参考文献
q|}O-A*wa 习题
z(u,$vZ_ 第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
-,Js2+QZ# 8.1 基奉微波技术
nsM.`s@V 8.2 隧道二极管
0 ;].q*|# 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
D~FIv ……
CkRilS< 第9章 光电器件
l cM 第3部分 半导体工艺
kRr/x-" 第10章 晶体长生外延
9C8 G(r 第11章
薄膜淀积
_f~$iY 第12章 图形曝光与刻蚀
JAM]neKiX 第13章 杂质掺杂
*&tTiv{^ 第14章 集成器件
3mHP=) 附表
Vry*=X&Q 索引
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