上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 oY
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薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 @}G|R\2P  
网址:www.sci-soft.com M,L@k  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. O<a3DyUa;  
A)    薄膜测量/测试 软件 kGj]i@(PA4  
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) Y\>\[*.v  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 r!M#7FDs(  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) !pS~'E&q  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) )]]|d  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 ={xqNRVd  
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B) 薄膜测量 仪器 *cy.*@d  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ f<=^ 4a  
G,/Gq+WX  
Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ 4I1K vN<A  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b Zr R+QV  
Standard Spectral Range标准光谱范围F V*kznm  
Reflection反射测量, >";%2u1  
Transmission透射测量5wIBS\ :b,o B==%  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY _"v~"k 90^  
Power Spectral Density功率谱密度测量a FP@A;/c  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y vF+YgQ1H  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] zCM^r <Kr  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% x/[8Wi,yB  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F Lo5Jb6nm  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n l^BEFk;  
Composition成分测量c*'nh) -|$*l Q  
Crystallinity晶状测量DTE; ev*c4^z:
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Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF ,iohfZz  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" 5A;"jp^ Z  
etc. 等等 [5-!d!a|st  
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Typical  applications典型应用:P {!g?d<*  
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OLED有机发光二级管薄膜 i~ROQMN1  
Flat panel display平板显示器薄膜 *+&z|Pwv[^  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 w8U2y/:>  
Computer disks计算机磁盘薄膜 I@+lFG  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 7ia"
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Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 4g S[D  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 NywB3  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` U=M#41J  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 lt
P
  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC Bac?'ypm  
etc. 等等 *(>Jd|C  
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