上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 U] -@yx  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 4Xk;Qd  
网址:www.sci-soft.com 00a<(sS;  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. {}&f\6OI%  
A)    薄膜测量/测试 软件 EiP&Y,vT  
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) *Ne2l`!1m  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 lv_%  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) 3l(;Pt-yI  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) Y_>-p(IH  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 %aE7id>v6  
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B) 薄膜测量 仪器 bTy)0ta>AF  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ &t|V:_?/x  
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ \I
f!5N  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b ;6 6_G Sjz  
Standard Spectral Range标准光谱范围F )/T$H|  
Reflection反射测量, * r4/|.l  
Transmission透射测量5wIBS\ 9iddanQA  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY xc<eU`-'b  
Power Spectral Density功率谱密度测量a )F#<)Evw  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y /Q>{YsRRB  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] FoD/
Q  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o%  )P9{47  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F h*%0@  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n imCl{vt(kj  
Composition成分测量c*'nh) fy=C!N&/  
Crystallinity晶状测量DTE; |U$de2LF  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF IL2Gsj)M  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" 0H&U=9'YT
 
etc. 等等 |
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Typical  applications典型应用:P X)iWb(@k"7  
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OLED有机发光二级管薄膜 5
az 4NT  
Flat panel display平板显示器薄膜 Re,$<9V  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 ZR-s{2sl  
Computer disks计算机磁盘薄膜 {F6dSF`  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 U>_\  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 +b,31  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 e]*=sp!T  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` 6:@
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Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 90h1e7Zc
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Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC fov=Yd!  
etc. 等等 kGuk -P  
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电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生 8}?Y;>
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