上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 }#Kl6x  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 -Y>QKS  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. 2=n,{rkmj%  
A)    薄膜测量/测试 软件 fTi5Ej*/?)  
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) CmtDfE  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 n?v$C:jLN  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) rpL
]5e!  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) 0E^S!A7  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 p7,dl*'  
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B) 薄膜测量 仪器 *>jJ<8!  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~  YS>VQl  
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ j"vL$h  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b nO8e'&|  
Standard Spectral Range标准光谱范围F C=DC g  
Reflection反射测量, W;.LN<bx
 
Transmission透射测量5wIBS\ %5<X
a  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY Bv^5L>JZ/  
Power Spectral Density功率谱密度测量a 69zMWuY  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y ynZfO2kf  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] `q7X(x  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% ^x}k1F3  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F #6 M3BF  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n o AM)<#U>  
Composition成分测量c*'nh) ?rQIUP{D7  
Crystallinity晶状测量DTE; 5:SS2>~g  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF A7zL\
U4
 
Surface Roughness表面粗糙度测量L" *NoixV1>  
etc. 等等 Z':w X  
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Typical  applications典型应用:P R-1C#
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OLED有机发光二级管薄膜 ?GeMD /]  
Flat panel display平板显示器薄膜 x+W,P  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 t+A9nvj)  
Computer disks计算机磁盘薄膜 r!/<%\S  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 Si-Q'*Y=  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 *Jg&:(#}<J  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 B;J8^esypD  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` Tvd: P^C  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 Qv1cf  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC I"HA( +G  
etc. 等等 #?7g_  
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