上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 [rqe;00]  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 etf ft8  
网址:www.sci-soft.com ($(6]?J(?7  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. ~l!(I-'?g  
A)    薄膜测量/测试 软件 !mBsDn(J  
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) ]6OrL TmP  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 a#H=dIj  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) *F:]mgg  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) Wy#`*h,  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 Ga f/0/|  
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B) 薄膜测量 仪器
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ ;t%L(J  
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ ,2JqX>On>Y  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b ;0E"4(S.q1  
Standard Spectral Range标准光谱范围F /iif@5lw{  
Reflection反射测量, p@i U}SUaE  
Transmission透射测量5wIBS\ a2/r$Tgm  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY 4\pA^%73  
Power Spectral Density功率谱密度测量a 7g ]]>  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y UTA0B&aB  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] 7i{Rn K6*  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% ZC"6B(d  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F B0p>'O2  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n W/oRt<:E  
Composition成分测量c*'nh) 3FPy"[[  
Crystallinity晶状测量DTE;
 %W"\  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF {\|? {8f  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" ORQGay  
etc. 等等 b("CvD8  
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Typical  applications典型应用:P zQ{ Q>"-  
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OLED有机发光二级管薄膜 #a#~YSnG  
Flat panel display平板显示器薄膜 Ccz:NpK+  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 lNsPwyCoj  
Computer disks计算机磁盘薄膜 /
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Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 -D:J$d 6R<  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 H'gPGOd  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 *XH?|SV  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` 4L!{U@'  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 Jr17pu(t  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC DP^{T/G  
etc. 等等 KXw \N!  
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