上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 Qd4T?5 vG  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 =|%T E   
网址:www.sci-soft.com ] zY  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. p,8Z{mLn  
A)    薄膜测量/测试 软件 w1_Ux<RF  
R,bcE4WR"  
一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) &Kp+8D*  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 `x VA]GR4c  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) E}=,"i  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) @#tSx  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 6 {Z\cwP)c  
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B) 薄膜测量 仪器 5w1[KO#K|  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ ex+AT;o  
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ 1F,_L}=o1s  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b B^?XE(.  
Standard Spectral Range标准光谱范围F (`+Z'Y  
Reflection反射测量, ACYn87tq  
Transmission透射测量5wIBS\ 1W[(+TZ&s  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY w0Y%}7  
Power Spectral Density功率谱密度测量a ;/T-rVND  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y :a@z53X@M  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] <pUou  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% #Vigu,zY  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F h,'+w  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n 6S[D"Q94  
Composition成分测量c*'nh) Dg+d=I?  
Crystallinity晶状测量DTE; Gnt!!1_8L  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF "%t`I)  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" & }}WP:U  
etc. 等等 tlgvBRH>  
np^<HfYV  
Typical  applications典型应用:P 8k^y.B  
J6ShI
Pc  
OLED有机发光二级管薄膜 .boizW1+  
Flat panel display平板显示器薄膜 \=_q{  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 MwqT`;lb  
Computer disks计算机磁盘薄膜 a&"*UJk<?  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 f {Z%:H  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 ><R.z(4%  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 rI+w1'
;C1  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` HbfB[%  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 B!ibE<7,  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC =Fy8rTdk6r  
etc. 等等 GTe:k  
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