上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 e
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薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 WPBn?vb0<  
网址:www.sci-soft.com EP.nVvuL  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. Q:I2\E  
A)    薄膜测量/测试 软件 NZ(c>r6  
;b=3iT-2"  
一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) `T H0*:aI  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 cd36f26`"w  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) rlEp&"+|M  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) tAfd
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FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 ]UG+<V ,:  
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B) 薄膜测量 仪器 ;=IC.<Q<}  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ jseyT#2  
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ +@]b}W  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b o8+ZgXct  
Standard Spectral Range标准光谱范围F l MCoc'ae  
Reflection反射测量, +.N3kH  
Transmission透射测量5wIBS\ \%nFCK0  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY R u^v!l`!7  
Power Spectral Density功率谱密度测量a [AzQP!gi  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y __p\`3(,'  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] ]C|Zs=5  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% uJz<:/rwZ-  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F YqsN#E3pf  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n ueO&%  
Composition成分测量c*'nh) \Q+9sV 5,[  
Crystallinity晶状测量DTE; 'p=5hsG  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF
w%=GdA=  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" ,?Pn-aC+  
etc. 等等 i"=6n>\  
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Typical  applications典型应用:P v)|[=  
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OLED有机发光二级管薄膜 =M"H~;f]  
Flat panel display平板显示器薄膜 #s JE{Tb  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 L,
*KgLG  
Computer disks计算机磁盘薄膜 v?zA86d_  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 -TKS`,#  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 p F\~T>  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 rzJNHf=FVY  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` ZV}"k_+-  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 1:<=zqh0  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC =[8EQdR  
etc. 等等 jU2Dpxkt  
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