上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 !l'nX  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 J n.7W5v  
网址:www.sci-soft.com lJK]S=cd  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. K"!rj.Da  
A)    薄膜测量/测试 软件 aq?bI:>8  
tiK M+ ;C  
一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) b^W&-Hh  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 b<u\THy#  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) gfL:SP8  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) P y'BMk  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 5U
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O1}P  
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B) 薄膜测量 仪器 =D(a~8&,  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ 9wL2NC31Q  
x?Sx cQP  
Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ {\$S585  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b #/qcp|m  
Standard Spectral Range标准光谱范围F )q$[uS_1[  
Reflection反射测量, @fd<  
Transmission透射测量5wIBS\ +Nn >*sz  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY BValU  
Power Spectral Density功率谱密度测量a ^A ]4  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y ~A0AB `7  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] 2f(`HSC'  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% +wQ5m8E  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F N<JI^%HBgP  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n SqAz((  
Composition成分测量c*'nh) I"]E}nd)  
Crystallinity晶状测量DTE; \%r#>8c8  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF 6C$+D  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" gc4o |x  
etc. 等等 -l=C7e  
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Typical  applications典型应用:P LNL}R[1(  
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OLED有机发光二级管薄膜 N<#J!0w  
Flat panel display平板显示器薄膜 xbiprhdv  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 :lu!%p<$  
Computer disks计算机磁盘薄膜 2[w9#6ly  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 UB@(r86d  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 c<1$zQY!  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 RrLiH>  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` i7H([b<_m  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 Nr@,In|JS  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC (0`rfYv5.R  
etc. 等等 thPAD+u.3  
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： 3g7]$}  
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