上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 Z$0+jpG_s  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 xm)s%"6n  
网址:www.sci-soft.com d$3;o&VUNI  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. GwOn&EpY!  
A)    薄膜测量/测试 软件 yzvNv]Z'*  
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) x
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Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 _h% :Tu  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) 9@Iz:!oqb  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) >q'xW=Y j\  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 ^J?ExMu  
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B) 薄膜测量 仪器 yj^LX2x"  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ F-\Swbx+  
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ #Ub"Ii  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b ]x8_f6;D  
Standard Spectral Range标准光谱范围F -8L22t  
Reflection反射测量, A
`=;yD  
Transmission透射测量5wIBS\ 7,i}M  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY o -< 5<  
Power Spectral Density功率谱密度测量a !)jw o=l}J  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y iqzl(9o.D  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] WIytgM  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% O'6zV"<P  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F U4DQ+g(A  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n xbh4j!FD$  
Composition成分测量c*'nh) TZ`@pDi  
Crystallinity晶状测量DTE; nkKiYr  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF ^i"C%8  
Surface Roughness表面粗糙度测量L"
ugtzF  
etc. 等等 yIab3/#`  
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Typical  applications典型应用:P C~do*rnM^  
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OLED有机发光二级管薄膜 h8b*=oq  
Flat panel display平板显示器薄膜 T;cyU9  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 ]!u12^A{  
Computer disks计算机磁盘薄膜 dXkgWLI~  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 -#=y  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 jpL'y1@Ut  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 x=+R0ny  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` "
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Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 A)5-w`1  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC "[`.I*WNo  
etc. 等等 }E01B_T9z  
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： 4_CV.?  
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生 z*Y4t?+  
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