上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 LZtO Q__B)  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 t|urvoz  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. F/SYmNp  
A)    薄膜测量/测试 软件 R$h B9BK  
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) >,x&L[3  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 l{I.l  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) jl>jy6T  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) P5KpFL`B  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 1%$t;R  
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B) 薄膜测量 仪器 }}qY,@eeX  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ r^7eK
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D&o~4Qvc]  
Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ HvR5-?qQ  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b ?o1QjDG  
Standard Spectral Range标准光谱范围F A("\m>g$b  
Reflection反射测量, o2D;EUsNX  
Transmission透射测量5wIBS\ e'yw
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Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY wpWZn[j  
Power Spectral Density功率谱密度测量a K=! C\T"I%  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y NR,R.N^[  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] oI5^.Dr FW  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% 8d?%9# p-)  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F \9fJ)*-  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n ;m=k FZ?  
Composition成分测量c*'nh) n8E3w:A-  
Crystallinity晶状测量DTE; @Q7^caG  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF }hE!0q~MfM  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" ;qO3m-(d  
etc. 等等 Mp QsM-iW  
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Typical  applications典型应用:P 'rNLh3  
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OLED有机发光二级管薄膜 7z_ZD0PxPc  
Flat panel display平板显示器薄膜 6?ky~C
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Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 _?]W%R|  
Computer disks计算机磁盘薄膜 xS(VgP&YGO  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 i[4!% FxB  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 Py?e+[cN  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 /2''EF';  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` VnqcpJ  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 Y
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Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC U'^ G-@  
etc. 等等 r0wAh/J|  
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电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生 *kTj,&x[  
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