上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 BbZ-dXC<  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 YH^_d3A;  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. 5j`"@C5;O  
A)    薄膜测量/测试 软件 +~=>72/r  
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) L1`^~m|  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 Q;{yIa$ $  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) N~ljU;wo-9  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) ?6B)Ek,'X?  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 n<Z;Xh~F  
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B) 薄膜测量 仪器 y-}lz#N  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ K;G1cFFyG  
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ .G1NY1\  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b !,Wd$UK  
Standard Spectral Range标准光谱范围F "OF
YVK\]i  
Reflection反射测量, Giz9jzF\  
Transmission透射测量5wIBS\ }nYm^Yh  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY 88h-.\%Z  
Power Spectral Density功率谱密度测量a iwCnW7:  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y "j3Yu4_ks  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] @y->4`N  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% BgD;"GD*W  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F TclZdk]%T  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n 8nQlmWpJ  
Composition成分测量c*'nh) Gp$[u4-6M6  
Crystallinity晶状测量DTE; ~*Ve>4  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF eg)=^b  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" C;wN>HE  
etc. 等等 `8\pihww  
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Typical  applications典型应用:P W<yh{u&,  
ZP*Hx %U  
OLED有机发光二级管薄膜 tQ'E"u1  
Flat panel display平板显示器薄膜 Pf6rr9  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 l},*^Sn<5  
Computer disks计算机磁盘薄膜 88d0`6K-9  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 ag14omM-  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 J7emoD[  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜  }Q`Kg8L  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` LcE!e%3  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 2#@S6zc  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC 6=90 wu3  
etc. 等等 <|Bh;;  
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