上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 $i;m9_16  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品
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网址:www.sci-soft.com !$pnE:K  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. }P\J?8  
A)    薄膜测量/测试 软件 1<D^+FC4b,  
&hu3A)%  
一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) EV[ BB;eb  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 HyYol*  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) d A>6  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) 2ut)m\)/)  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 `b*x}HP$  
8;y\Ln?B  
B) 薄膜测量 仪器 fM!@cph(8  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ TH>7XK<90M  
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ u3C0!{v  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b /
WMJ#IE  
Standard Spectral Range标准光谱范围F MmH(
dp+  
Reflection反射测量, _jM+;=f
 
Transmission透射测量5wIBS\ @pN6uDD}R  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY WXFCe@  
Power Spectral Density功率谱密度测量a :V~ AjV  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y hka`STK{  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] hh8U/dVk*  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% D:0?u_[W  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F siz:YRur  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n 3U4h>T@s|  
Composition成分测量c*'nh) (nAg ~i  
Crystallinity晶状测量DTE; ks7id[~&iY  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF Rja>N)MzBf  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" @m+FAdA 0  
etc. 等等 (V<pz
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Typical  applications典型应用:P >uR;^B5m  
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OLED有机发光二级管薄膜 :RDQP  
Flat panel display平板显示器薄膜 iJb-F*_y  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 %9b TfX"  
Computer disks计算机磁盘薄膜 C *]XQ1F4  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 `teaE7^Wm  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 oH1]-Nl$  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 JlE b  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` ?
P"j5  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 ?7dV:]%~2  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC PBb'`PV  
etc. 等等 rnQ9uNAu  
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