上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 PG51+#  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 !Dc|g~km\  
网址:www.sci-soft.com *VP-fyJp  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. ?j'Nx_RoX  
A)    薄膜测量/测试 软件 PU& v{gn  
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) hggP9I:s,  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 7I#<w[l>k  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) t9QnEP'  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) )
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FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 )o=ipm[  
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B) 薄膜测量 仪器 bXiOf#:''  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ nq/SGo[c  
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ Y&![2o.Q  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b 9"g!J|+  
Standard Spectral Range标准光谱范围F g,k} nkIT  
Reflection反射测量, jmE\+yz  
Transmission透射测量5wIBS\ 1M={8}3  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY &E/0jxM1  
Power Spectral Density功率谱密度测量a d~|/LR5  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y S;I>W&U  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] o/J2BZ<_<  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% $2
kZM4  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F (#)-IdXXO<  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n |/YwMBi  
Composition成分测量c*'nh) ,f[`C-\Q%  
Crystallinity晶状测量DTE; \]Nt-3|`0  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF ~MpcVI_K  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" 3g{T+c*  
etc. 等等
(O(X k+L  
((AsZ$[S  
Typical  applications典型应用:P rGqT[~{t  
VoGyjGt&  
OLED有机发光二级管薄膜 J ,s9,("  
Flat panel display平板显示器薄膜 r8wip\[  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 I'%\ E,  
Computer disks计算机磁盘薄膜 f|r+qe  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 OL2 b  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 e,X{.NS  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 jE#&u DfI  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` bCSgdK  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 6?(Z f  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC N t-8[J  
etc. 等等 CKu
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