上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 E!Hq%L!/  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 c a_N76o!  
网址:www.sci-soft.com 3/:O8H  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. +-'qI_xo  
A)    薄膜测量/测试 软件 [{N i94:d  
KpC)A5u6  
一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) 64s+ 0}  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 COFs?L.`  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) =nFT0];  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) 66D<Up'K  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 p\:_E+lsU  
i2.y)K)  
B) 薄膜测量 仪器 xj{X#[q):  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ y4VCehdJ  
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ 52m^jT Sx  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b yt>Pf<AI  
Standard Spectral Range标准光谱范围F g}Hk4+  
Reflection反射测量, jp8=>mk  
Transmission透射测量5wIBS\ BArsj  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY \qQ5x  
Power Spectral Density功率谱密度测量a 2F!K }aw  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y 7;;W{W%  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] k(=\&T  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% jCW>=1:JGY  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F fj0+a0h  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n qt/syF&s  
Composition成分测量c*'nh) =/6.4;8  
Crystallinity晶状测量DTE; Z/q%%(fh 0  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF 90sMS]a  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" B_hob  
etc. 等等 Qu!\Cx@  
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Typical  applications典型应用:P X]cB`?vR  
M42Zpb].  
OLED有机发光二级管薄膜 X$/3  
Flat panel display平板显示器薄膜 {tOuKnnS  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 7b+
OIZB  
Computer disks计算机磁盘薄膜 ~Zl`Ap  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 Cb=r8C  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 Q)#<T]~=  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 *Q!b%DIa$  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` 6$ IXER  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 ~(aq3ngo.  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC  c
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etc. 等等 wrqdQ}@(  
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