上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 )O$S3ojZ  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 *~*"p)`<  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. (ip3{d{CT]  
A)    薄膜测量/测试 软件 ,U+>Q!$`\^  
U!K#g_}  
一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) z]LVq k  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 ep Dp*  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) 
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三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) CC'N"Xb  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 M'oZK  
{x[C\vZsi]  
B) 薄膜测量 仪器 m(EVC}Y  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ L/%{,7l<^?  
Fg}t{e]3a  
Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ T&bB8tQk  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b OsVz[wN  
Standard Spectral Range标准光谱范围F J4z&J SY  
Reflection反射测量, s8qpK; O  
Transmission透射测量5wIBS\ :f7vGO"t  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY qPJSVo  
Power Spectral Density功率谱密度测量a +Jn\`4/J:  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y ,S@B[+VZ  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] zwP*7u$CH  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% \q24E3zS&  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F fA[T5<66  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n |z&7KoYK'  
Composition成分测量c*'nh) &%k_BdlkQ  
Crystallinity晶状测量DTE; PI,2b(`h_  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF >Rb jdM5K4  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" T!pZj_ h=  
etc. 等等 FL&Y/5  
8]O#L}"  
Typical  applications典型应用:P #e[r0f?U  
aSJD'u4w.a  
OLED有机发光二级管薄膜 78<fbN5}r  
Flat panel display平板显示器薄膜 /OMgj7olD  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 ~x@V"rxGw  
Computer disks计算机磁盘薄膜 y&\t72C$Fi  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 H`Zg-j`  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 PlgpH'z4$  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 c?GV  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` TC@F*B;  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 N+H[Y4c?F&  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC 6Bexwf<u  
etc. 等等 JRE\R&>g  

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