京东方“自动光学检测系统及缺陷检测方法”专利公布

发布:cyqdesign 2024-11-02 20:40 阅读:106

近日,国家知识产权局信息显示,京东方科技集团股份有限公司申请一项名为“自动光学检测系统缺陷检测方法”的专利,公开号 CN 118883578 A,申请日期为2023年4月。

专利摘要显示,本申请实施例提供一种自动光学检测系统及缺陷检测方法。所述自动光学检测系统包括成像系统和图像分析装置;成像系统包括遮光罩、棱镜以及相机,所述遮光罩设有空腔以及与所述空腔相连通的检测入口;所述棱镜位于所述空腔内,所述相机位于所述棱镜远离所述检测入口的一侧,所述相机被配置为对处于所述检测入口的待检测产品在所述棱镜上的成像进行拍照;所述图像分析装置与所述相机电连接,且被配置为根据所述相机所发送的图像对所述待检测产品的缺陷进行识别,降低了检测产品换型时结构调整的复杂性,且可缩短产品的检测周期,提高对产品缺陷的检测效率。

分享到:

最新评论

我要发表 我要评论
限 50000 字节
关于我们
网站介绍
免责声明
加入我们
赞助我们
服务项目
稿件投递
广告投放
人才招聘
团购天下
帮助中心
新手入门
发帖回帖
充值VIP
其它功能
站内工具
清除Cookies
无图版
手机浏览
网站统计
交流方式
联系邮箱:商务合作 站务处理
微信公众号:opticsky 微信号:cyqdesign
新浪微博:光行天下OPTICSKY
QQ号:9652202
主办方:成都光行天下科技有限公司
Copyright © 2005-2024 光行天下 蜀ICP备06003254号-1