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正业科技“一种X射线无损检测光学成像系统及检测设备”专利公布 据国家知识产权局公告，正业科技取得一项名为“一种X射线无损检测光学成像系统及检测设备”，授权公告号CN220525686U，申请日期为2023年3月。 专利摘要显示，本实用新型涉及X射线检测的技术领域，公开了一种X射线无损检测光学成像系统及检测设备。所述X射线无损检测光学成像系统包括一个X射线源及多个探测器；所述X射线源用于发射X射线，所述X射线向远离所述X射线源的方向逐渐向外锥形发散；多个所述探测器均布置于所述X射线覆盖的范围内，多个所述探测器与所述待检测物体上的多个待检测位置为一一对应的关系，各所述探测器与所述X射线源的连线经过所述待检测物体上对应的一个待检测位置，所述探测器用于接收所述X射线并将光信号转化为电子信号。本申请主要解决现有的X射线检测设备在提高检测效率时存在成本较高的技术问题。  分享到：
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