激光探针台测试内容

发布:探针台 2020-12-25 10:26 阅读:726
探针台主要应用于半导体行业、光电行业。针对集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发,旨在确保质量及可靠性,并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。 p_AV3   
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探针台应用范围:8寸以内Wafer,IC测试,IC设计等 YiCDV(prT  
\fz j fZ1n  
)mPlB.  
激光探针台测试内容: Ww(_EW  
1. 微小连接点信号引出 lewDR"0Kx  
2. 失效分析失效确认 2$o[  
3. FIB电路修改后电学特性确认 f lB,_  
4. 晶圆可靠性验证 9vbh5xX   
5. 激光打标 hjG1fgEj  
6. 表层修复线路 EC~t 'v  
7. 驱除短路点 l17ZNDzLU  
8. 激光断线 O%&@WrFq  
9. 干扰芯片测试
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