激光探针台测试内容

探针台主要应用于半导体行业、光电行业。针对集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。 *t-A6)2  
hm} :Me$[)  
探针台应用范围：8寸以内Wafer，IC测试，IC设计等 k2,oyUT=S  
`0WA!(W  
$6x:aG*F  
激光探针台测试内容： ~9'4w-Sy  
1. 微小连接点信号引出 Ch&]<#E>`  
2. 失效分析失效确认 7(+ZfY~w"  
3. FIB电路修改后电学特性确认 3usA  
4. 晶圆可靠性验证 :W<,iqSCm  
5. 激光打标 x]01j4HJ  
6. 表层修复线路 H?bsK~  
7. 驱除短路点 tJF~Xv2L!  
8. 激光断线 Z.OrHg1  
9. 干扰芯片测试