激光探针台测试内容
探针台主要应用于半导体行业、光电行业。针对集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发,旨在确保质量及可靠性,并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。
探针台应用范围:8寸以内Wafer,IC测试,IC设计等 激光探针台测试内容: 1. 微小连接点信号引出 2. 失效分析失效确认 3. FIB电路修改后电学特性确认 4. 晶圆可靠性验证 5. 激光打标 6. 表层修复线路 7. 驱除短路点 8. 激光断线 9. 干扰芯片测试 分享到:
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激光探针台测试内容
探针台主要应用于半导体行业、光电行业。针对集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发,旨在确保质量及可靠性,并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。
探针台应用范围:8寸以内Wafer,IC测试,IC设计等 激光探针台测试内容: 1. 微小连接点信号引出 2. 失效分析失效确认 3. FIB电路修改后电学特性确认 4. 晶圆可靠性验证 5. 激光打标 6. 表层修复线路 7. 驱除短路点 8. 激光断线 9. 干扰芯片测试 分享到:
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