失效分析流程图

发布:探针台 2020-03-11 17:41 阅读:1819
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无损检测服务流程 7 &O 0  
客户检测要求───快速:办公室人员回复咨询,必要时,组织各科室技术及工程师参与 。 $0[t<4K`yn  
填写申请表───规范:准确填写申请表、签订检测协议,完成检测前准备工作。 /9QC$Z):<  
进行试验检测───准备:严格遵守各科室操作规范对样品进行检测 。 czG]rl\1  
签发检测报告───负责:严格遵守报告审核程序,保证数据的准确。 .I h'&  
存档、留样───服务:对客户建档,针对检测需求,进行持续跟踪,以客户需求为己任。 Q}zd!*  
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失效分析PCB/PCBA失效分析 `J l/@bE=  
金属材料及零部件失效分析 bz'#YM  
电子器件失效分析 @1c[<3xJ T  
高分子材料失效分析 QZZt9rA;  
复合材料失效分析 eN,6p '&  
/镀层 q$iGeE#  
失效分析失效分析简述 /^M|$JRI  
失效分析是一门新兴发展中的学科,在提高产品质量,技术开发、改进,产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。美信检测是一家以失效分析技术服务为重心的第三方实验室,以其在失效分析领域多年的服务,在行业中树立了良好的口碑。其独立的第三方地位,积累的大量案例和数据库使得我们可以为客户提供公正、独立、准确的失效分析报告。 ]K0G!TR<  
开展失效分析的意义: v?O6|0#x  
失效分析对产品的生产和使用都具有重要的意义,失效可能发生在产品寿命周期的各个阶段,涉及产品的研发设计、来料检验、加工组装、测试筛选、客户端使用等各个环节,通过分析工艺废次品、早期失效、试验失效、中试失效以及现场失效的样品,确认失效模式、分析失效机理,明确失效原因,最终给出预防对策,减少或避免失效的再次发生。 59k[A~)~  
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失效分析流程 k]"DsN$  
1)失效背景调查:产品失效现象?失效环境?失效阶段(设计调试、中试、早期失效、中期失效等等)?失效比例?失效历史数据? 8~!9bg6C  
2)非破坏分析:X射线透视检查、超声扫描检查、电性能测试、形貌检查、局部成分分析等。 l $:?82{  
3)破坏性分析:开封检查、剖面分析、探针测试、聚焦离子束分析、热性能测试、体成分测试、机械性能测试等。 T8t_+| ( G  
4)使用条件分析:结构分析、力学分析、热学分析、环境条件、约束条件等综合分析。 HSG7jC'_  
5)模拟验证实验:根据分析所得失效机理设计模拟实验,对失效机理进行验证。 bc3 T8(  
注:失效发生时的现场和样品务必进行细致保护,避免力、热、电等方面因素的二次伤害 =zsA@UM0  
芯片开封实验室介绍,能够依据国际、国内和行业标准实施检测工作,开展从底层芯片到实际产品,从物理到逻辑全面的检测工作,提供芯片预处理、侧信道攻击、光攻击、侵入式攻击、环境、电压毛刺攻击、电磁注入、放射线注入、物理安全、逻辑安全、功能、兼容性和多点激光注入等安全检测服务,同时可开展模拟重现智能产品失效的现象,找出失效原因的失效分析检测服务,主要包括点针工作站(Probe Station)、反应离子刻蚀(RIE)、微漏电侦测系统(EMMI)、X-Ray检测,缺陷切割观察系统(FIB系统)等检测试验。实现对智能产品质量的评估及分析,为智能装备产品的芯片、嵌入式软件以及应用提供质量保证。
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