集成电路介绍
失效分析(FA)是一门发展中的新兴学科,近年开始从军工向普通企业普及。它一般根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量,技术开发、改进,产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。其方法分为有损分析,无损分析,物理分析,化学分析等
失效分析的意义:分析机械零器件失效原因,为事故责任认定、侦破刑事犯罪案件、裁定赔偿责任、保险业务、修改产品质量标准等提供科学依据;减少和预防同类机械零器件的失效现象重复发生,保障产品质量,提高产品竞争力;为企业技术开发、技术改造提供信息,增加企业产品技术含量,从而获得更大的经济效益 集成电路(integrated circuit)是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构。实验室主要对集成电路进行相关的检测分析服务。 集成电路的相关产业,如材料学,工程学,物理学等等,集成电路的发展与这些相关产业密不可分,对集成电路展开失效分析相关实验分析时势必要涉及这些相关产业。实验室也可以提供非集成电路样品的微区观测,元素鉴别,样品形貌处理,断层分析等相关服务。 分享到:
|