芯片失效分析常用方式

芯片失效分析常用方式FIB X光probe；RIE；EMMI；decap；IV `'WY'\|C  
1.OM 显微镜观测，外观分析 si"mM>e  
2.C-SAM（超声波扫描显微镜） ;^H+ |&$>  
（1）材料内部的晶格结构，杂质颗粒，夹杂物，沉淀物， |B
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（2） 内部裂纹。 （3）分层缺陷。（4）空洞，气泡，空隙等。 0z<]\a4  
3. X－Ray 检测IC封装中的各种缺陷如层剥离、爆裂、空洞以及打线的完整性，PCB制程中可能存在的缺陷如对齐不良或桥接，开路、短路或不正常连接的缺陷，封装中的锡球完整性。（这几种是芯片发生失效后首先使用的非破坏性分析手段） VlQwVe  
4.SEM扫描电镜/EDX能量弥散X光仪（材料结构分析/缺陷观察，元素组成常规微区分析，精确测量元器件尺寸） @gVyLefS6g  
5.取die，开封 使用激光开封机和自动酸开封机将被检样品(不适用于陶瓷和金属封装)的封装外壳部分去除，使被检样品内部结构暴露。 \"sSS.'  
6. EMMI微光显微镜/OBIRCH镭射光束诱发阻抗值变化测试/LC 液晶热点侦测（这三者属于常用漏电流路径分析手段，寻找发热点，LC要借助探针台，示波器） q.hc%s2?  
7.切割制样:使用切割制样模块将小样品进行固定，以方便后续实验进行 }FdcbNsP  
8.去层:使用等离子刻蚀机(RIE)去除芯片内部的钝化层，使被检样品下层金属暴露，如需去除金属层观察下层结构，可利用研磨机进行研磨去层。 S|5lx7  
9. FIB做一些电路修改，切点观察 =~2 Uv>YG  
10. Probe Station 探针台/Probing Test 探针测试。 ~ dI&> CL  
11. ESD/Latch-up静电放电/闩锁效用测试（有些客户是在芯片流入客户端之前就进行这两项可靠度测试，有些客户是失效发生后才想到要筛取良片送验）这些已经提到了多数常用手段。 i6\!7D]  
除了常用手段之外还有其他一些失效分析手段，原子力显微镜AFM ，二次离子质谱 SIMS，飞行时间质谱TOF － SIMS ，透射电镜TEM ， 场发射电镜，场发射扫描俄歇探针， X 光电子能谱XPS ，L-I-V测试系统，能量损失 X 光微区分析系统等很多手段，不过这些项目不是很常用。