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探针测试probe应用 Probe探针台主要应用于半导体行业以及光电行业的测试。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。 应用范围： 1.利用探针（软针、硬针、pico probe针）测试芯片pad信号对fib 引出的十字pad进行电性测量。 2.液晶发-漏电分析，利用夜景感测到IC漏电出分子排列重组，在显微镜下呈现出不同于其他区域的斑状影像，找寻在实际分析中设计人员困扰的漏电区域（超过10mA之故障点） 分享到：
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探针测试probe应用Probe探针台主要应用于半导体行业以及光电行业的测试。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。 应用范围： 1.利用探针（软针、硬针、pico probe针）测试芯片pad信号对fib 引出的十字pad进行电性测量。 2.液晶发-漏电分析，利用夜景感测到IC漏电出分子排列重组，在显微镜下呈现出不同于其他区域的斑状影像，找寻在实际分析中设计人员困扰的漏电区域（超过10mA之故障点） 分享到：
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