透视检测x射线分析无损检测

主要用途 hx!7w}[A  
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利用X光对样品内部的结构特征进行无损检测； p^QZq>v  
CEtR[Cu  
性能参数 :L$4*8@`+  
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a)几何放大倍数2000倍，整体放大倍数10000倍； f(:1yl\a  
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b)2D检测尺寸：310mm ×310mm； *gqSWQ  
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c)3D检测尺寸：210mm ×100mm；样品厚度：100mm； tYe:z:7l?<  
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d)采用数字平板探测器，灰度等级不低于16bit，像素尺寸不少于127um，像素不小于1000 x 1000 Pixel； NPJ.+
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应用范围 1y[B[\  
Y;Y1+jt  
1.检测DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、Flipchip等不同封装的半导体、电阻、电容等电子元器件以及小型PCB印刷电路板； Yp5L+~J[  
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2.检测器件内部芯片大小、数量、叠die、绑线情况； aG27%(@  
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3.检测芯片crack、点胶不均、断线、搭线、内部气泡等封装缺陷，以及焊锡球冷焊、虚焊等焊接缺陷。