透视检测x射线分析无损检测

主要用途 /<6ywLD  
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利用X光对样品内部的结构特征进行无损检测； Pf{`/UlD  
Esb?U|F4  
性能参数 QTeFR&q8  
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a)几何放大倍数2000倍，整体放大倍数10000倍； )&XnM69~b  
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b)2D检测尺寸：310mm ×310mm； z2.*#xTZn  
w[e0wh`.  
c)3D检测尺寸：210mm ×100mm；样品厚度：100mm； \Oz,Qzr|  
@T5YsX]qb7  
d)采用数字平板探测器，灰度等级不低于16bit，像素尺寸不少于127um，像素不小于1000 x 1000 Pixel； \ibCR~
W4  
C?{D"f`[]  
应用范围 IvFR <n  
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1.检测DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、Flipchip等不同封装的半导体、电阻、电容等电子元器件以及小型PCB印刷电路板； ?_8%h`z  
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2.检测器件内部芯片大小、数量、叠die、绑线情况； s c5\( b  
V;H d)v(j  
3.检测芯片crack、点胶不均、断线、搭线、内部气泡等封装缺陷，以及焊锡球冷焊、虚焊等焊接缺陷。