形貌观察SEM扫描电镜

主要用途 SGXXv  
FDbb/6ku  
观察样品表面微观形貌，进行尺寸及深度进行测量，能谱元素分析。 )iNMjg  
ONH!ms(kb  
性能参数 yS[:C 2v  
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a)二次电子分辨率：1.0nm（加速电压15kV，WD=4mm） xdFm-_
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s )POtJ<  
b)放大倍数 100~800000（照片倍率）； IlVz 5#R  
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            400~2000000（实际显示倍率） $]2srRA^A  
{pH{SRM)B  
应用范围 tSaLR90Y6  
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1.提供表面及横截面微细结构观察及分析； t3|If@T  
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2.对多层结构样品提供精准的膜厚量测及标示； x_pS(O(C  
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3.借由低能量的电子束扫描做被动式影像对比(PVC)对于不良漏电或接触不良的组件损坏可以精准的定位，提供异常分析之判断； #k&"Rv;,  
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4.样品借由层次去除技术(Delayers)，提供SEM做电路自动连拍拼接生成的图文件，可以与光学显微镜生成的图像做纵向连结，提供电路还原逆向工程之参考