X射线(X-ray)检测

发布:探针台 2019-06-03 09:16 阅读:1904
X射线(X-ray)检测是在不损坏被检物品的前提下使用低能量X 光,快速检测出被检物。 DWmViuZmL  
利用高电压撞击靶材产生X射线穿透来检测电子器件半导体封装产品内部结构构造品质、以及SMT各类型焊点焊接质量等[1] 。 [z> Ya-uz7  
型号:XD7500NT 3Ued>8Gv  
`R@b`3*%v  
6o=Q;Mezl  
O]%Vh l  
参考标准:《IPC-A-610E电子组装件的验收标准》、《GB/T 17359-1998电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析方法通则》 2Wp)CI<\D  
%Q y9X+N:  
测试项目: [a!*m<  
< +X,oxg  
F,/yK-9  
1、集成电路的封装工艺检测:层剥离、开裂、空洞和打线工艺; $4u8"ne)  
2、印刷电路板制造工艺检测:焊线偏移,桥接,开路; P{%R*hb]  
3、表面贴装工艺焊接性检测:焊点空洞的检测和测量; 9ELRn@5.  
4、连接线路检查:开路,短路,异常或不良连接的缺陷; |Wz`#<t  
5、锡球数组封装及覆芯片封装中锡球的完整性检验; PCZ%<>v  
6、高密度的塑料材质破裂或金属材质检验; ]m@p? A$  
7、芯片尺寸量测,打线线弧量测,组件吃锡面积比例量测。
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