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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core LX<c(i  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 7lpd$Y  
    t;+6>sTu  
    4+mawyM  
    nbYkr*: "t  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 Fi{~UOZg  
    xh> /bU!>  
    ;??wLNdf-  
    uh`@qmu)  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 hoASrj{s  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” n5_r 3{  
    JH!qGV1  
    ;% *e}w0  
    v>Il #  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 9/w'4bd  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 <p(&8P  
    :=04_5 z  
    9frx60  
    uK]@! gz  
    @18@[ :d"  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 Yfy6o6*:  
    |0w'+HaE~N  
    R~b9)  
    sZ-]yr\E"  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 @M4~,O6-  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 ;?;D(%L  
    uMF\3T(x4  
    K G~](4JE(  
    h~elF1dG  
    $X5~9s1Wl  
     L}AR{  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 !U]V?Jpi"  
    ,$3  
    `<t{NJ&f  
    sXTt )J  
    Runsheet 4:cbasy  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 L4sN)EI  
    o<-%)#e  
    +nd'Uf   
    d8M"vd  
    Function :=~%&  
    W<2%J)N<  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 cFUYT$8>  
    h. i&[RnX  
    `ea$`2  
    0s0[U  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 Nl_!%k:  
    q30WUO;  
    讯技光电科技(上海)有限公司 ,-CDF)~G=3  
    电话:86-21-64860708 fY=iQ?{/[  
    传真:86-21-64860709 |[K7oa~#  
    课程:course@infotek.com.cn `P/*x[?  
    业务:sales@infotek.com.cn j`BF k>  
    技术:support@infotek.com.cn kRiWNEw  
     
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    只看该作者 1楼 发表于: 10-01
    好全面