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Core pDLu + }@ 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取，为了能使用椭偏数据，从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 Oz4,Y+[# XgwMppacw  *" |VNnB
lWu9/r 1 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 w>`h3;,2 ]7 XkijNb  >N+bU{s
M<SbVP|V " 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 ``2QOu 1 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ；对于Differential Evolution会显示 “<DE>” }}4 sh5z u7<qaOzs?  vF*^xhh
xA[W b ' 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 BR&Qw'O % 优化目标增加了平均值的计算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 = )JVT$]w s2(w#n) pmow[e
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=Do3#Xe2V 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面，此分布可选定reference文件（作为角度的函数）。 }skRlC 6b#:H~ <  1_33;gP
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当有新数据导入到光学常数工具中，它会清理已经计算的结果。 d'lr:=GQ 在注册菜单中增加了email按钮，授权表格可以非常容易的创建key请求。 'XZI{q2i IF36K^K  yL.PGF1(
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 >m2<Nl } ^LEmi1L Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 /P?|4D}<
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 #Vn>ue+? `PQ?8z| Runsheet (. @p4q Q- “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中， NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 }ZM*[ j 'Ec:l(2Ec  M<# )D 3gPD(r1g Function St~ SiTJU AihL>a% 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。
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mD ^qx0o< 如果您遇到任何问题，可通过如下方式联系我们。 -hU>1ux&V *1o+o$hY2 讯技光电科技（上海）有限公司 D_
Bx>G9 电话：86-21-64860708 aCYm$6LmA 传真：86-21-64860709 V ~J2s 课程：course@infotek.com.cn ?5r2j3mqgv 业务：sales@infotek.com.cn \AtwO 技术：support@infotek.com.cn evg 7d
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