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Core 3/ sKRU 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取，为了能使用椭偏数据，从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 ]W,K}~! F 8 *e  {0(:7IY,
\Y'#}J"dh 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 - w41Bvz0 H nvE\t9`  c*nH =
EZvB#cuL- 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 u rGk_ .f 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ；对于Differential Evolution会显示 “<DE>” CbK &.a *SkUkqP9z  $YDZtS&h
}qUNXE@ 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 z G z^T 优化目标增加了平均值的计算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 2N]u!S ;d /a7tg+: [BS3y`c
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)"7hyW 5 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面，此分布可选定reference文件（作为角度的函数）。 />fP )56* UA4Q9<>~  mT57NP
OHnHSb'?\ 当有新数据导入到光学常数工具中，它会清理已经计算的结果。 D
.3Q0a6 在注册菜单中增加了email按钮，授权表格可以非常容易的创建key请求。 %hK?\Pg3=E V43pZ]YZ>  rl)(4ad=
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 oF/5mh__(K *[*E|by Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 dfB#+wh
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 7 q<UJIf .vRLK Runsheet STgl{# “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中， NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 02X ~' To" Xu#\CYk  _>HX Q6Hw -B2> ~#L Function w<_.T# OVO0Emv 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 hC O*gtA)M p$}iBk0B(z  iV#JJ-OBq
9vL`|`Vau 如果您遇到任何问题，可通过如下方式联系我们。 6 w K= HzB&+c? Z 讯技光电科技（上海）有限公司 ToJV .AdfT 电话：86-21-64860708 L>{E8qv>w 传真：86-21-64860709 CAY^ `K! 课程：course@infotek.com.cn h$ M+Yo+ 业务：sales@infotek.com.cn zMX7 #, 技术：support@infotek.com.cn ,_`\c7@
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