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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core 0$e]?]X6  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 /Q*cyLv  
    xGVL|/?8  
    dd|/I1  
    {H$m1=S  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 }Pf7YuUZZ  
    69K*]s  
    .>bvI1  
    :"e,& %  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 =h/0k y  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” jm$v0=W9#  
    '@ C\,E  
    o;<oXv  
    f[$9k}.  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 ^"hsbk&Yu  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 6yRxb (  
    1> wt  
    wU= @,K  
    Ne 9R u'B6  
    XkJzt  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 >xa k  
    ecgGl,{  
    S/l?wwD  
    tE>hj:p  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 5Zdxn>  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 Tl ?]K  
    SpG^kI #  
    b6E,u*)"  
    I%q&4L7pj  
    cr_Q,*  
    -A A='s  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 MX.=k>  
    0o+2]`q)Q  
    q>X%MN y  
    }\oy?_8~  
    Runsheet V/jEMJNks  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 {}TR'Y4  
    jSyF]$"  
    _Xn[G>1  
    *0aU(E #  
    Function zFtRsa5 +  
    8}0O @ wq  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 Vgh_F8G!V  
    b-x,`s  
    !pNY`sw}  
    'nFqq:2Xa  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 tE: m& ;I  
    e2v[ma-  
    讯技光电科技(上海)有限公司 3B<$6  
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