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Core { P&l` 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 Wm7Dy7#l #7/_Usso 8~u#?xs6 Ir_K83VM 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 ?Xx,[Z& kViX FPW 6dt]$ e3yBB*@ 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 eZ(<hE> 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” YJ'h=!p}G hp@giu7 9P#E^;L #e((F,1z 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 >c|u|^3zt 优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 2a3hm8%U S2HGf~rE AhZ8B'Ee BHy#g>KUF Q
*![u5# 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 8&7LF !i&^H, lUJ/ nG0l [k ZvBd 当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 4=9To|U* 在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 %fGS< W; %K@D{)r_^ cE
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n4h@{Xg 0C#1/o)o Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 ,[71,zs %=xR$<D {0+gPTp c^S^"M| Runsheet +R@5e+auQ. “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 HeZ! "^w -ve{O-; -o#HO_9 AF g* Function JV=d!Gi[C *y9 iuJ} 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 XO~xbG7>gZ 3@kiUbq7Eu o>mZ$ ;aExEgTq 如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 |kyxa2F{
O;h ] 讯技光电科技(上海)有限公司 M:z)uLDw 电话:86-21-64860708 n8DWA`[ib 传真:86-21-64860709 ]1>U@oK 课程:course@infotek.com.cn IT5AB?bxH 业务:sales@infotek.com.cn 4#MvOjA5[ 技术:support@infotek.com.cn 7d*SZmD
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