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Core jNyC%$ 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取，为了能使用椭偏数据，从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 MO D4O4z& i]YQq ! B  b9Y pUm7#
}Sh-4:-D 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 >u4e:/ 5] =3T?U_u@  869`jA &7"
bo*q{@Ue 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 O<E0L&4-& 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ；对于Differential Evolution会显示 “<DE>” y H'\<bT |`okIqp  =QC^7T
|4c==7. 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 eeDhTw9 优化目标增加了平均值的计算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 F9<OKc XH wiGwN m3WV<Cbz
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b: 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面，此分布可选定reference文件（作为角度的函数）。 aE %VH ;? s +GF- kJ*  ` u}x:f !
k|_2aQ02 当有新数据导入到光学常数工具中，它会清理已经计算的结果。 Om^ /tp\ 在注册菜单中增加了email按钮，授权表格可以非常容易的创建key请求。 n>4S P_[E7 |]q=D 1/A  WAa?$"U 2
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 [s/@z*,M1 q>[% C5 Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 \PFx#
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 vh HMxOZ; i#lo? \PO> Runsheet J4vKfxEg “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中， NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 uaKB Z]Y4N O;  M BT-L X\x9CA Function .#@D n( d0B+syl&4l 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 W~tOH=9> !7oy%{L  [FL I+;gY
uI2'jEjO 如果您遇到任何问题，可通过如下方式联系我们。 X{
=[q|P s 2v* 讯技光电科技（上海）有限公司 9qDGxW
'1 电话：86-21-64860708 ] KeNC)R 传真：86-21-64860709 ^{s0d+@{ 课程：course@infotek.com.cn =M 5M; 业务：sales@infotek.com.cn wD O5Zew! 技术：support@infotek.com.cn f
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