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Core K@hw.Xq" 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 3sZ\0P} uM6+?A9@l m`r(p" t\ewHZG" 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 wLr_-vJ N ZSSg2TX# du^J2m{f *c+ (- 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。
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+Hd 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” !%0 *z ,zY$8y] i
K? w6 W5MTD]J 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 f&
' 优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 4HA<P6L 12LL48bi ?6Y?a2 |
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#$lP {/:x5l8 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 M =r)I~ }vM("v|M v_-dx IO-Ow! 当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 }`~+]9< 在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 &.?'i1! ?5
7Sk+ <UQbt N-B\ S^ \Vgi(
04=c-~&q +; AZ+w]ZF Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 :20W\P<O!A BF{Y"8u$
,01"SWE 0:Ol7 Runsheet ) hfpwdQ “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 L/G6Fjg^ /s}}&u/ W:L
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R Q$@I"V&G. Function y_lU=(%Jd YcpoL@ab 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 'SF<_aS( 81Z) eO# g7W" 7O-x<P; 如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 dNeVo|Y~h N[
Og43Y 讯技光电科技(上海)有限公司 ;hN!s`vq 电话:86-21-64860708 v
z '&%( 传真:86-21-64860709 PxDh7{ 课程:course@infotek.com.cn kL"2=7m; 业务:sales@infotek.com.cn fS78>*K 技术:support@infotek.com.cn 'AH0ww_)n
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