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Core r}1.=a 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 '>wr_
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#4 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 FKX+
z o<Esh;;*nm ODbEL/ ZJ$nHS?ra 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 r?w^#V 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” 7H+IW4Ma ^{IF2_h" 'K L"i * 7<{Xbsj^ 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 907N;r 优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 &7i o/d\/ /*zngp@ S^Lu RF]F aw\\oN*
vG{+}o# 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 n7J6YtUwP C
V{kP8# <?Z [X{ m ll-cp 当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 ?YeUA =[MC 在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 s#8mD!T| IpJMq^Z $j+RUelFY ji|+E`Nii [eWZ^Eh"I VP7g::Ab Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 wb#ZRmx} k3HPY}- R;G"LT lR[]A Runsheet Ke*tLnO “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 M/O
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"eL lBpy0lo# 2ncD,@ij ^Uj\s / Function _5t~g_(1OK uPmK:9]3R 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 yobcAV` KWq&<X5 ;ewqGDe'3 DV8b<) 如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 ty W5k(> ^n @dC? 讯技光电科技(上海)有限公司 >-%}'iz+ 电话:86-21-64860708 i40'U?eG~6 传真:86-21-64860709 61[ 8I},V 课程:course@infotek.com.cn YQH=]5r 业务:sales@infotek.com.cn DL t "cAW 技术:support@infotek.com.cn
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