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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core n72kJ3u.  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 b3ys"Vyn  
    +R_s(2vz  
    <Ira~N  
    ';m;K (g  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 ;(rK^*`fO  
    I%{ 1K+V/  
    Z`#XB2,  
    }}l jVUpC%  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 0./Rdf=-1j  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” 2J (nJT"  
    z'*{V\  
    y(O~=S+<  
    `~D{]'j  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 E)|Bl>  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 -XnOj2  
    nUK;M[  
    %~M#3Ywa  
    'wWuR@e#&  
    [ ~kS)  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 Y?-Ef sK  
    C=bQ2t=Z  
    4>/i,_&K K  
    LP/SblE  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 Sbeq%Iwm.  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 z /nW; ow  
    |E;+j\   
    30<_`  
    6!8uZ>u%Vg  
    \odns  
    `~\8fN  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 R+2~%|{d  
    KL*+gq0k  
    79I"F'  
    mex@~VK  
    Runsheet P<;Puww/  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 ^gkKk&~A5?  
    Htfq?\ FD  
    Io t c>!  
    ,(]k)ym/  
    Function [[xnp;-;  
    h>p,r\X  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 2`> (LH  
    F"QJ)F  
    u68ic1  
    J4s`U/F  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 V;Q@' <w  
    MZqHL4<|  
    讯技光电科技(上海)有限公司 $`R=Q  
    电话:86-21-64860708 gZ-:4G|J  
    传真:86-21-64860709 4G hg~0  
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