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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core %P0  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 jB?SX  
    fmuh 9Z  
    A]|w1nq  
    }%u #TwZ  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 n*7^lAa2  
    /2Wg=&H  
    =>;&M)+q  
    /"Vd( K2Z  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 Ah2 {kK  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” ?9\D(V  
     V;%ug'j  
    N\PdX$  
    r'*$'QY-N  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 ,'s }g,L  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 SI!A?34  
    gQPw+0w  
    %hSQ\T<8[o  
    sE[`x^1'8  
    <Z%=lwtX  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 h+W$\T)  
    @[g7\d  
    M@xU59$@  
    vIRT$W' O}  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 =cEsv&i  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 p*b_ "aF1  
    6B?jc/V.R  
    =Dq&lm,n  
    relt7sK  
    8ao-]QoMZ  
    5_;-Qw  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 6M >@DRZ'|  
    &[[r|  
    FoetP`   
    X)KCk2Ax  
    Runsheet ,>-jZtm  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 *a Z1 4  
    9ngxkOGx  
     8oJl ]  
    9vV==A#  
    Function e#*3X4<\K  
    bG]0|  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 inaO{ny y  
    n<C] 6H  
    ["D!IqI :  
    N6._J b  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 Z[nHo'  
    n[Q(q[ULV  
    讯技光电科技(上海)有限公司 +0&^.N  
    电话:86-21-64860708 G%I .u  
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