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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core Eg3rbqM- 8  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 ,YSQog  
    j+*VP  
    k!xi (l<C  
    #dqZdj@  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 "ltvD\  
    Z"lL=0rY/  
    q+~z# jFX  
    T?) U|  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 J,;; `sf  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” !#rZ eDmw  
    a,d\< mx  
    %;yo\  
    6"|PJ_@P  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 K *{C:Y  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 C0 .Xp  
    To]WCFp6@  
    (+Gd)iO  
    \tyL`& )  
    ;1NZY.pyc  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 56>Zqtp*  
    D@[$?^H  
    csRba;Z[  
    ,PJl32  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 ) OZDq]mV  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 g[8V fIe  
    Lg9]kpOpa  
    )09_CC!a  
    tK g%5;v  
    '(+l77G  
    HZ[&ZNTa  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 &|9mM=^  
    ;f?OT7>kN  
    O5_E"um  
    6@H& S  
    Runsheet ~i))Zc3,g\  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 e Yyl=YW  
    (niZN_qv  
    }9Y='+.%^  
    rvw1'y  
    Function 3i >$g3G  
    dMRwQejY{7  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 QHP^1W`  
    YlPZa3\  
    lCd^|E  
    =\CbX  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 wKk  
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    讯技光电科技(上海)有限公司 [0/?(i|  
    电话:86-21-64860708 MAJvjgd ..  
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