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Core S-5|t]LV 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取，为了能使用椭偏数据，从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 _EusY3q ?<* mIf:?  CnXl 7"
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ZT 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 un&Z'
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&'mq).I2  O(_a6s+m
K> rZJ[a 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 ^xNs^wC. 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ；对于Differential Evolution会显示 “<DE>” "3?N * ,U_ ].!^BYNht  ^D}]7y|fm
C.#\ Pz0 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 Li? _P5+a 优化目标增加了平均值的计算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 .{=|N8*py8 pBb fU2p TwaK>t 96[
 T V['"'D&i
hoDE*>i 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面，此分布可选定reference文件（作为角度的函数）。 YVcO+~my `pTC K9  O^2@9
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K 当有新数据导入到光学常数工具中，它会清理已经计算的结果。 @[=K`n:n_ 在注册菜单中增加了email按钮，授权表格可以非常容易的创建key请求。 T'K6Q cu )tD[Ffvr  iP uX
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 MB"TwtW IQm[ ,Fh Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 7gx
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 1FPt%{s 3 c@&`!e Runsheet m 4r!Ck| “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中， NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 </jzM? i
G 9YfJ?I  O'i!}$=g eF06B'uL Function j{`C|zg 7C::%OF~7 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 ;UnJrP-if C@ns`Eh8w  nRS iW*;R
h;lg^zlTb 如果您遇到任何问题，可通过如下方式联系我们。 d$?sS9"8( JHvawFBN<u 讯技光电科技（上海）有限公司 |n/qJIE6 电话：86-21-64860708 |GLh|hr 传真：86-21-64860709 ALO0 yc 课程：course@infotek.com.cn /E32^o|,> 业务：sales@infotek.com.cn iLIv<VK/d 技术：support@infotek.com.cn P2t{il
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