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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core pDLu+ }@  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 Oz4,Y+[#  
    XgwMppacw  
    *" |VNnB  
    lWu9/r 1  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 w>`h3;,2  
    ]7XkijNb  
    >N+bU{s  
    M<SbVP|V "  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 ``2QOu 1  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” }}4 sh5z  
    u7<qaOzs?  
    vF*^xhh  
    xA[Wb'  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 BR&Qw'O%  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 = )JVT$]w  
    s2(w#n)  
    pmow[e  
    |Ak =-.  
    =Do3#Xe2V  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 }skRlC  
    6b#:H~ <  
    1_33;gP  
    L&!g33J&  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 d'lr:=GQ  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 'XZI{q2i  
    IF36K^K  
    yL.PGF1(  
    bo~{<UT  
    >m2<Nl}  
    ^LEmi1L  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 /P?|4D}<  
     &*>C PO  
    #Vn>ue+?  
    `PQ?8z|  
    Runsheet (.@p4q Q-  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 }ZM*[j  
    'Ec:l(2Ec  
    M<#)D  
    3gPD(r1g  
    Function St~SiTJU  
    AihL>a%  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 Z}'F"}QI  
    R$T[%AGZ.  
    5Sm5jRr  
    mD^qx0o<  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 -hU>1ux&V  
    *1o+o$hY2  
    讯技光电科技(上海)有限公司 D_ Bx>G9  
    电话:86-21-64860708 aCYm$6LmA  
    传真:86-21-64860709 V~J2s  
    课程:course@infotek.com.cn ?5r2j3mqgv  
    业务:sales@infotek.com.cn \AtwO  
    技术:support@infotek.com.cn evg 7d  
     
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