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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core EI_J7J+  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 o<g (%ncr  
    |/<iydP  
    Wc]Fg9E  
    \\/X+4|o'  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 gf3/kll9  
    mYy3KqYu  
    '.dW>7  
    =Wjm_Rvk9  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 p[/n[@<8=  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” f a\cLC  
    /NkZ;<uxJ  
    k,@1rOf  
    de`6%%|  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 QWxQD'L'  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 6g.@I!j E  
    19=Dd#Nf  
    kh5V&%>?  
    A{c6XQR~z  
    &G"]v]V  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 6 XG+YIG6w  
    3{_+dE"9  
    t)m4"p7  
    ?_^9e  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 J`V6zGgW  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 V2y[IeSQ  
    T }8aj  
    :5Vu.\,1  
    ' 5Ieqpm9  
    q OXL(  
    sV+>(c-$  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 '+eP%Y[W%  
    C9nNziws  
    \GWq0z&  
    S_QDYnF)`  
    Runsheet 6 S&#8l  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 ~ACB #D%  
    zH_q6@4  
    ECSC,oJ  
    ^ ID%pd  
    Function 2cDC6rul  
    :#LB}=HQ  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 dqkkA/1  
    4 '+)9&g  
    RS:0xN\JN  
    )N=wJN1  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 *\`C! r  
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    讯技光电科技(上海)有限公司 q"cFw${  
    电话:86-21-64860708 zZRqb/20  
    传真:86-21-64860709 Ky'^AN]  
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