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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core | Q0Wv8/  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 {4B{~Qe;  
    "+SnHpNx  
    9!CD25u  
    QD6<sw@]P  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 #-T xhwYs  
    *F:f\9   
    {D6lS j  
    0hJ,l.  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 Mn`);[  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” &y\7pAT\  
    0\W6X;?  
    ?@n, 9!  
    Y!!w*G9b  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 !2 YvG%t^6  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 {lv@V*_Y0  
    *@;Pns]L-  
    Y52f8qQq  
    [g<rzhC~=  
    {,:yZ&(  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 i n $~(+  
    X ? eCK,  
    +!"GYPUXy  
    5~,usA*  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 &YiUhK  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 ,)u1r3@I^  
    wk+| }s  
    Pk2=*{:W  
    GXk]u  
    <m"fzT<"  
    $p(  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 B183h  
    +f){x9 :  
    eDkJ+5b  
    8uh^%La8b.  
    Runsheet 5rX_85]  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 |3]#SqX  
    V*d@@%u**  
    IjaFNZZC!  
    {TOz}=R"3h  
    Function (R^qY"H 2  
    $^K12Wcp-  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 $j(laD#AR  
    d?6\  
    O3/w@q Q  
    zg}#X6\G<_  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 u.yjk/jF  
    H`T8ydNXa  
    讯技光电科技(上海)有限公司 dy"7Wl]hi7  
    电话:86-21-64860708 ~pt#'65}:  
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    技术:support@infotek.com.cn K^m`3N"  
     
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