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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core c,@&Z#IZ`  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 X=C*PWa7  
    a ]~Rp  
    b$@vJ7V!  
     Y7*8 A,  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 *LuR <V  
    au=A+  
    wPr9N}rf  
    <O<Kf:i&c1  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 |:7 ^  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” |)TI&T;k  
    ^Pwtu  
    S7!+8$2mc_  
    Fh8 8DDJ  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 8U8%XIEJ  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 g2 RrBK,  
    gm^j8  B  
    ~Un+Zs%24  
    7{z\^R^O  
    =Ff _)k  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 5& 2([  
    K UD.hK.  
    7!qO*r  
    !l6Ez_'  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 k`we_$/Gw  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 isBtJ7\Sc  
    1  b&<De  
    V><,.p8  
    gPE` mE  
    6y+_x'  
    {<}9r6k;f  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 ! V^wq]D2  
    42oW]b%P{;  
    XJZ\ss  
    |l-~,eRvi5  
    Runsheet QjlQsN!  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 c1ga{c`Z  
     Y+d+  
    Vi m::  
    A:$4cacu9  
    Function eG_@WLxwD  
    8@ZZ[9kt  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 Wa5B;X~  
    ROhhd.  
    9 _oAs"w  
    $xU)t&Df  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 Y&uwi:_g  
    O7"16~ a  
    讯技光电科技(上海)有限公司 @=ro/.  
    电话:86-21-64860708 gbrn'NT  
    传真:86-21-64860709 eKUP,y;[I  
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