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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core { P&l`  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 Wm7Dy7#l  
    #7/_Usso  
    8~u#?xs6  
    Ir_K8 3VM  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 ?Xx,[Z&  
    kViX FPW  
    6dt]$  
    e3yBB*@  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 eZ(<hE>  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” YJ'h=!p}G  
    hp@g iu7  
    9P#E^;L  
    #e((F,1z  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 >c|u |^3zt  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 2a3h m8%U  
    S2HGf~rE  
    AhZ8B'Ee  
    BHy#g>KUF  
    Q *![u5#  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 8&7LF  
    !i&^H,  
    lUJ/ nG0l  
    [k ZvBd  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 4=9To|U*  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 %fGS< W;  
    %K@D{ )r_^  
    cE '`W7&A  
    @kK${  
    n4h@{Xg  
    0C#1/o)o  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 ,[7 1,zs  
    %=xR$<D  
    {0+gPTp  
    c^S^"M|  
    Runsheet +R@5e+auQ.  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 HeZ! "^w  
    -ve{O-;  
    -o#HO_9  
    AF g*  
    Function JV=d!Gi[C  
    *y9 iuJ}  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 XO~xbG7>gZ  
    3@kiUbq7Eu  
    o>mZ$  
    ;aExEgTq  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 |kyxa2F{  
     O;h]  
    讯技光电科技(上海)有限公司 M:z)uLDw  
    电话:86-21-64860708 n8DWA`[ib  
    传真:86-21-64860709 ]1>U@oK  
    课程:course@infotek.com.cn IT5AB?bxH  
    业务:sales@infotek.com.cn 4# MvOjA5[  
    技术:support@infotek.com.cn 7d*SZmD  
     
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