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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core r}1.=a  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 '>wr _ f  
    );]9M~$  
    DhVF^=x$  
    / X #4  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 FKX+ z  
    o<Esh;;*nm  
    ODbEL/  
    ZJ$nHS?ra  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 r? w^#V  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” 7H+IW4Ma  
    ^{IF2_h"  
    'K L" i  
    * 7<{Xbsj^  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 907N;r  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 &7i o/d\/  
    /*zngp @  
    S^Lu RF]F  
    aw\\oN*  
    vG{+}o#  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 n7J6YtUwP  
    C V{kP8#  
    <? Z[X{  
    m ll-cp  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 ?YeUA =[MC  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 s#8mD !T|  
    IpJMq^ Z  
    $j+RUelFY  
    ji|+E`Nii  
    [eWZ^Eh"I  
    VP7g::Ab  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 wb#ZRmx}  
    k3HPY}-  
    R;G"LT  
    lR[]A  
    Runsheet Ke*tLnO  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 M/O Y "eL  
    lBpy0lo#  
    2ncD,@ij  
    ^Uj\s /  
    Function _5t~g_(1OK  
    uPmK:9]3R  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 yobcAV`  
    KWq&<X5  
    ;ewqGDe'3  
    DV8b<)  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 tyW5k(>  
    ^n@dC?  
    讯技光电科技(上海)有限公司 >-%}'iz+  
    电话:86-21-64860708 i40'U?eG~6  
    传真:86-21-64860709 61[ 8I},V  
    课程:course@infotek.com.cn YQH=]5r  
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    技术:support@infotek.com.cn  W0&x0  
     
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