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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core wj8\eK)]L  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 *, R ~[g  
    f\;f&GI  
    p2gu@!   
    ,=2)1I]  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 o\qeX|.70  
    }tJMnq/m($  
    X;v{,P=J  
    [6?x 6_M  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 F.D6O[pZ  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” q)PSHr=Z  
    u4xJ-Vu  
    t&-c?&FO\;  
    tPDB'S:&3  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 o3`0x9{  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 W$` WkR  
    }mS Q!"f:  
    3*R(&O6}  
    \5b<!Nl  
    Q;@w\_ OR  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 J?Rp  
    9lX[rBZ  
    <#~n+,  
    y*8;T v|  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 6wb M$|yFj  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 }dSFv   
    {XW>3 "  
    z.W1Za  
    tfv@ )9  
    3ep L'My$  
    we?t/YB=  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 M+4S>Sjw  
    >Lz2zlZI  
    UHDcheeRD  
    '=IuwCB|;  
    Runsheet efh1-3f  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 "?YpF2pD  
    V.[b${  
    DE?@8k  
    QYWl`Yqf  
    Function n4zns,:)/  
    N mN:x&/  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 dTVM !=  
    * =O@D2g0  
    lqKwjJ tX  
    cr{dl\ Na  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 ;~s@_}&  
    $P&27  
    讯技光电科技(上海)有限公司 1xwq:vFC.  
    电话:86-21-64860708 [92bGR{  
    传真:86-21-64860709 16I(S  
    课程:course@infotek.com.cn b$FXRR\G  
    业务:sales@infotek.com.cn U3w*z6OG  
    技术:support@infotek.com.cn ,qlFk|A|  
     
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