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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core dfT  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 Ogu";p(  
    SAhk`_  
    e#!p6+#"  
    @:t2mz:^i  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 rw.DKM'  
    GTke<R  
    EIF"{,m  
    nQ#NW8*Fs  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 .4[M7)  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” zg$NrI&  
    Axw+zO  
    ,j(S'Pw  
    @  \*Zq  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 &]O^d4/  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 yOO@v6jO)  
    "'~&D/7  
    7)*q@  
    )yUSuK(Vu  
    ht2J, 1t  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 8*^*iEsR  
    6 -BC/  
    3;F up4!4}  
    Rw^X5ByJE  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 v.F|8 cG  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 <xUX&J=;  
    HL%|DCo  
    K"8!  
    APyH.]mQ  
    O? 0`QMY  
    H` h]y  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 28>/#I9/]  
    $Y[C A.F  
    ")9jt^  
    7A^L$TY  
    Runsheet $:D\yZ,  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 V^< Zs//7  
    ?hKpJA'%  
    4VhKV JX  
    T@d4NF#  
    Function oj[<{/,C9  
    4wPP/`  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 { a_&L  
    -nY_.fp>  
    x#fv<Cj4  
    krRnE7\m  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 3cc;BWvM  
    J7wIA3.O  
    讯技光电科技(上海)有限公司 E.G]T#wt0  
    电话:86-21-64860708 ,Bl_6ZaL  
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