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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core /)6+I(H  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 D#VUx9kugv  
    FbH 1yz  
    X2CpA;#;7l  
    zx:Qz  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 h- )tWJ c  
    WI@l2`X  
    #0OW0:Q  
    tzH~[n,  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 l/WQqT  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” 44e:K5;]7  
    hnOo T? V  
    b;kgP`%%  
    !vd(WKq  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 Ife/:v  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 {'O,G$Ldkr  
    MaMP7O|W  
    bU$4"_eA B  
    k*xMe-  
    _.)6~  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 X*'i1)_h  
    {|!> {  
    T#M_2qJ1=  
    3MqyHOOv  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 o8uak*"{  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 4i]h0_]  
    r Uau? ?  
    &YiUhK  
    tfz"9PV80  
    TwdY6E3`  
    5/w4[d  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 $"e$#<g  
    (U`<r-n\n  
    zDD  
    7XM:4whw  
    Runsheet -l(G"]tRB  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 $[S)A0O  
    ]LbFh5;s  
    o5h*sQ9  
    h#:_GNuF  
    Function lf`" (:./  
    dbe\ YE  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 kleE\ 8_  
    Iu V7~w  
    >f\$~cp  
    T<ka4  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 E'g?44vyw  
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    讯技光电科技(上海)有限公司 #MyF 1E  
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