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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core J!'IkC$>  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 pFwe&_u]  
    YIYuqtnSJ  
    c>C!vAg  
     GU xhn  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 @_h=,g #@  
    <*p  
    CY)[{r  
    Ej`G(  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 K%/g!t)  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” W'Qy4bl7C  
    #;'*W$Wk2  
    b/=>'2f  
    NV`7VYU  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 u 0 K1n_  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 v)'Uoe"R%  
    iM]&ryGB#  
    -"xC\R  
    ?j} Fxr  
    8sL+ik"  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 QRER[8]r$  
    C7Hgzc|U  
    G<t _=j/r  
    V>Nw2u!!  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 NbUibxJ  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 :NWrbfz  
    #YLI"/Kn  
    A@w9_qo  
    zc>LwX}<  
    (DTkK5/%  
    =5h ,ZB2A  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 e\]CZ5hs3  
    X""}]@B9z  
    E%)3{# .z  
    0ac'<;9]zP  
    Runsheet `I5So-^&z  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 ;3sJ7%`v  
    L$f:D2Ei  
    TK%MVLTK  
    [JVUa2Sm  
    Function Il<ezD{  
    R6G%_,p$7  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 y1Yrf,E m=  
    $ ?YSAD1  
    ~ponYc.Y  
    @X#e  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 lQer|?#  
    {+|Em(M  
    讯技光电科技(上海)有限公司 IZ+ZIR@}ci  
    电话:86-21-64860708 }Ym~[S*x  
    传真:86-21-64860709 4m/L5W:K  
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