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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core !z=pP$81  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 bx(w :]2  
    .u< U:*  
    p~bkf>  
    !.+"4TF  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 7>x;B  
    KZK,w#9.  
    )DZTB  
    J#7(]!;F  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 vbn>mg5  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” b]`^KTYK  
    dp^N_9$cdO  
    XZ:1!;  
    KF{a$d  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 w<d*#$[,*  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 g[!Cj,  
    glor+  
    L<@&nx   
    4Vx+[8W  
    q 22/_nSC  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 $GF&x>]]  
    #^\}xn" [  
     6`"ZsO  
    #'NY}6cb$  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 A[ 1)!e  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 +{xG<Wkltz  
    tQ0=p| T]  
    lS3 _Ild  
    B,0+HoP  
    3o7xN=N  
    |E|T%i^}./  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 f%1wMOzx  
    B*Cb6'Q  
    +UaO<L  
    &enlAV'#)O  
    Runsheet U]j&cFbn5_  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 Spc&X72I  
    36i_D6  
    W^ClHQ"Iy  
    dM gbW<uAu  
    Function J=L`]XE  
    />!!ch  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 'Ix5,^M}B  
    +cw{aI`a8  
    ;;6\q!7`  
    rUvwpP"k  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 YRu%j4Tx  
    Qasr:p+  
    讯技光电科技(上海)有限公司 S `wE$so>  
    电话:86-21-64860708 I`#EhH  
    传真:86-21-64860709 }*OD M6  
    课程:course@infotek.com.cn j>V"hf  
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