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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core @o8\`G  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 sb;81?|  
    :.@gd7T  
    K2!KMhvQ  
    >RRb8=[J  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 W"$'$ h  
    =3sBWDB[  
    C8i}~x<  
    /QG8\wXE2  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 , !c.  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” .F9>|Xx[  
    H!,#Z7s  
    r..\(r  
    55fV\3F|R  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 d!8`}L:=M  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 U nGG%  
    MOdodyG  
    faThXq8B  
    \9!W^i[+  
    u=A&n6Q[Vo  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 ><dSwwu  
    fH>]>2fS  
    |0dmdrKD  
    S's\M5  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 :FB#,AOa_  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 ?> }bg  
    GYZzWN}U  
    ,qyH B2v  
    N^B YNqr  
    Uk5jZ|  
    UV$v:>K#  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 $#1i@dI  
    h0L *8P`t  
    <Jv %}r  
    |lrLTI^a  
    Runsheet -ZBk^p  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 8NWvi%g  
    \-gZ_>)  
    EJ"[{AV  
    noV]+1#"V  
    Function zaf%%  
    I HgYgn  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 Q >] v?4  
    H0_hQ:K   
    kT t;3Ia  
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    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 '/G.^Zl9  
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