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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core IS[thbzkZ  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 8 <7GdCME  
    z$GoaS(  
    >O?U= OeD  
    I_%a{$Gjl  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 :.d:9Z|_  
    !]fQ+*X0g  
    9,_mS{+B  
    $:j G-r  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 ;VNMD 6H  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” Ns0cgCrhX  
    FwY&/\J7V  
    QgD g}\P  
    iNWo"=J  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 0zCw>wBPW  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 b0A1hb[|  
    kbfC|5S  
    ~$f;U  
    jfx8EbQ  
    =w5O&(  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 M$d%p6Cv  
    NeBsv= [-  
    :%AL\ n  
    drd/jH&  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。  4)4+M  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 ^1x*lLf  
    UMp/ \&0  
    ?EpSC&S\  
    +|{RE.DL  
    Q33"u/-v  
    ,7)C"  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 za9)Q=6FD  
    $DC*i-}qFg  
    7GS V  
    X_G| hx  
    Runsheet he-Ji  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 <zy,5IlD  
    GF:`>u{C  
    GK}'R=   
    j0GMTri3  
    Function 1w0OKaF5  
    Hb(B?!M)  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 a7/-wk  
    {[t`j+J  
    Q2];RS3.  
    *tX{MSYW  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 8; R|  
    Lru-u:  
    讯技光电科技(上海)有限公司 f8<o8*`7  
    电话:86-21-64860708 @[?!s%*2  
    传真:86-21-64860709 ORWm C!  
    课程:course@infotek.com.cn $hVYTy~}  
    业务:sales@infotek.com.cn cZ+7.oDu  
    技术:support@infotek.com.cn Tv]<SI<B[  
     
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