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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core 7>f2P!:  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 b"$?(Y  
    (wL$ h5SG  
    \~8W0q.4M  
    W_@ b. 1  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 /rpr_Xw}  
    ,6]ID1o:y  
    w!"A$+~  
    :? )!yI  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 L-- t(G  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” C rR/  
    79 4UY  
    fBh"  
    oO;L l?~  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 < h#7;o  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 3m& r?xZs  
    2D%2k  
    Do(G;D`h+_  
    7KiraKb|  
    n#}@| "J  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 sq=EL+=j  
    v FL$wr  
    te[uAJ1 N  
    ga|<S@u?}  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 n=j) M  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 Yp(0XP5o  
    g5#LoGc  
    J t.<Z&  
    I._ A  
    ZN H-0mk  
    ^;/~$  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 "yH?df24  
    oC" [rn  
    S8qg"YR  
    vKnZ==B  
    Runsheet A'CD,R+gR  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 WCd: (8B  
    [>`.,k  
    ~H#c-B  
    ,l AZ4  
    Function f~l pa7  
    .pZYPKMaE  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 ;S^"Y:7)  
    zq + 2@"q  
     I wj[ ^  
    N'{Yhx u  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 *[cCY!+Qy  
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    讯技光电科技(上海)有限公司 6v{&,q  
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