|
|
Core ,z~"Mst 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取，为了能使用椭偏数据，从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 _wUg+Xs] N<XMSt  :A+}fB IN
afE8Kqa:H 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 <6&Z5mpm$w C8%MKNPd  w\a6ga!xt"
@<koL 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 ?K g_bvoR 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ；对于Differential Evolution会显示 “<DE>” N!./u(b QB d4ok: R  W9; 9\k
UAGh2?q2 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 :OV6R , 优化目标增加了平均值的计算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 Z + _xX p@ U[fv8u vs@u*4.Ut<
 ?3gf) g=
"sT)<Wc 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面，此分布可选定reference文件（作为角度的函数）。 XB]>Z) Bm;:
cmB0e  y"k % Wa`*
HGF&'@dn 当有新数据导入到光学常数工具中，它会清理已经计算的结果。 /vpwpVHIpG 在注册菜单中增加了email按钮，授权表格可以非常容易的创建key请求。 6!H,(Z]j +v/-qyA  h)^|VM
x,HD,VQR/
 .yHi"ss3 .\ :MB7p Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 e/x6{~ju^N
i:G yi([C
 FSkLR h F<b/)<Bm= Runsheet WLiF D. “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中， NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 l Ymxd8 gA gF$H .  |l@z7R+4* ;*hVAxs1 Function Y$9x !kV .>S1do+ 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 a:;7'w' ^$]iUb{\  pG 22N x
sRZ?Ilua6 如果您遇到任何问题，可通过如下方式联系我们。
WJ,? 5# p) VMYu 讯技光电科技（上海）有限公司 AR{$P6u!%| 电话：86-21-64860708 *P|~v Cnr 传真：86-21-64860709 !?lvmq 课程：course@infotek.com.cn c}s#!|E0v 业务：sales@infotek.com.cn ^^< C9 技术：support@infotek.com.cn w`v` aw]
|
