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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core 7"w r8  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 J,%v`A~ N  
    -("sp  
    6%~ Z^>`N  
    bEyZRG  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 rg)>ZHx  
    nAG2!2_8  
    $(K[W}  
    SwpS6  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 Tn< <i  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” d4t %/Uh  
    @~hiL(IR'  
    C:xg M'~+  
    xDG8C39qrs  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 (4o_\&  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 XT> u/Z)  
    _so\h.lt  
    Lqq RuKi  
    C;];4[XR  
    c+,F)i^`  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 b^_#f:_j  
    AX,V* s  
    Q^>"AhOiU  
    X|fl_4NC>  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 ?j9J6=2  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 #kjN!S*=  
    pyYm<dn  
    {z> fe }  
    3cfW|J  
    Vw :.'-Oi  
    T1 >xw4uo  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 #pO=\lJ,  
    k/o"E  
    Ndq/n21j  
    L"{qF<@V7&  
    Runsheet >uT,Z,7O  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 FFX-kS  
    `,a6su (?  
    1=:=zyEEo  
    -d5b,leC^  
    Function ;]!QLO.bs^  
    4Bg"b/kF  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 F3+ ;2GG2  
    m_YXTwwx  
    #0>??]&r  
    Y1fcp_]m  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 d1]CN6 7{G  
    |2t g3m@  
    讯技光电科技(上海)有限公司 HR'sMu3  
    电话:86-21-64860708 " E+V >V+  
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