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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core 2]5ux!Lqln  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 {>d\  
    _6`H `zept  
    b2^O$ l  
    ybcCq]cgt  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 @=?#nB&  
    RijFN.s  
     n[7=  
    (Bss%\  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 )%q )!x  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” [M?&JA_$}  
    l M a||  
    pYj}  
    \/!jGy*  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 ?:7.3{|Aq  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 d&X <&)a7  
    t?FPmbj v  
    W . dm1  
    ~"cqFdnO  
    eK/rs r  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 AQs_(LR  
    "4CO^ B  
    +L pMNnl6  
    V7?Pv Q  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 .c@,$z2M  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 fRt&-z('  
    S^)xioKsJ  
    Gu%}B@4^  
    @}tk/7-E  
    )C>M74Bt  
    %)L|7v<  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 Ekz)Nh)vGR  
    /&RS+By(i  
    ZRYHsl{F+  
    o vX9  
    Runsheet $B@K  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 Cce{aY  
    :2MHx}]il  
    A"T*uv|  
    #po}Y  
    Function s ]Db<f  
    5x}Or fDU  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 ^qPS&G  
    ea!Znld]  
    6M@m`c  
    #}zL?s^G  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 d<v)ovQJ]  
    E" b" VB  
    讯技光电科技(上海)有限公司 ?)XPY<  
    电话:86-21-64860708 !,N),xG}~  
    传真:86-21-64860709 2_;3B4GDF  
    课程:course@infotek.com.cn 'q{|p+  
    业务:sales@infotek.com.cn }'Yk#Q  
    技术:support@infotek.com.cn +#g?rCz  
     
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    只看该作者 1楼 发表于: 7小时前
    好全面