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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core $wB^R(f@  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 }8-\A7T  
    MJ`3ta  
    w Y   
    ->^~KVh&  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 %dST6$Z  
    #R0A= !  
    FQz?3w&ia  
    +pm[f["C.  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 8.J( r(;>  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” 8~lIe:F-  
    }x0- V8  
    =sJ _yq0#R  
    x%+{VStA  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 %V`F!D<D  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 y&m0Lz53Z  
    Yap?^&GV  
    WE6a'  
    #oeG!<Mn  
    JA)?p{j  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 *OJ/V O  
    h%; e0Xz|  
    WEg6Kz  
    YTQt3=1ii  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 }9HmTr|  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 kum#^^4G|  
    'ly?P8h  
    9>zcBG8f  
    1=sXdcy;  
    /M;#_+VK<  
    fKC3-zm  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 !Z!g:II /  
    im} ?rY  
    Zn=T#o  
     VGHWNMT  
    Runsheet =*qD4qYA  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 v~3B:k:?l  
    vu!d)Fy  
    j"^ +oxH  
    99$ 5`R;  
    Function eI.2`)>  
    -9 !.m  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 t^]$!H  
    f4-a?bp  
    1g# #sSa6  
    -K,-h[ o  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 Jd\apBIf  
    LE5.b]tv2  
    讯技光电科技(上海)有限公司 \^(0B8|w  
    电话:86-21-64860708 NNhL*C[_7  
    传真:86-21-64860709 >3 yk#U|7}  
    课程:course@infotek.com.cn %75xr9yOP  
    业务:sales@infotek.com.cn H>9CW<8  
    技术:support@infotek.com.cn w -Nhs6  
     
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