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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core x9lG$0k:V  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 LYV\|a{Y  
    <h vVh9  
    ;`(l)X+7  
    :RqTbE4B  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 InCJ4D  
    <"SOH; w  
    b5Sgf'B^  
    Pv>W`/*_,s  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 -9(9LU2  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” /^XGIQ/W  
    mh8{`W&  
    P_:~!+W,  
    ;<?mMi@<E  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 |oL}c!0vs  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 42If/N?  
    /xu#ZZ?8F_  
    >3J?O96|f  
    N-~Uu6zr  
    g`69 0  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 Z}E.s@w  
    foi@z9  
    !}[,ODJ4 d  
    ='p&T|&  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 =D@+_7\?  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 XLeQxp=  
    B,f4<  
    n!Dy-)!`O  
    a#_=c>h;  
    ap7ZT7KW  
    ~53uUT|B  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 SBNeN]  
    Jh)x_&R&Q  
     #"6O3.P  
    [ BpZ{Ql  
    Runsheet p}r1@L s  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 3a_=e B  
    Ew9\Y R}  
    ^@"EI|fsP  
    j-% vLL/  
    Function .0[ zZ  
    eMDO;q  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 YaWZOuxm  
    !T<4em8  
    a*oqhOTQ  
    t\/i9CBn  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 ^Qx qv  
    }ob&d.XZ  
    讯技光电科技(上海)有限公司 )e1&[0  
    电话:86-21-64860708 :nYnTo`  
    传真:86-21-64860709 ,'KS:`m!  
    课程:course@infotek.com.cn 5Wyo!pRi  
    业务:sales@infotek.com.cn orGkS<P  
    技术:support@infotek.com.cn L7}dvdtZ0  
     
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