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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core Sq|1f?_gU  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 id tQXwa  
    r.wIk0  
    W B*`zCM  
    v^],loi<V  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 Kt 90mA  
    !+A"Lej  
    (L0 hS'  
    JXY!c\,  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 a^XTW7]r  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” }1]!#yMfq  
    (>LHj]}K  
    [B ~zoB(  
    A-7wkZ.H  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 y/}VtD  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 a4jnu:e  
    &Ev]x2YC  
    < k+fKl  
    loC5o|Wh  
    f_4S>C$  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 3_oD[ ])A  
    1V**QSZ1  
    q3x;_y^  
    g2aT`=&Z  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 fa4951_  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 CFBUQMl >  
    8XYD L] I'  
    4VmCW"b7h  
    xV,4U/ T  
    *H%0Gsk  
    w(V? N'[  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 Lov.E3S6;  
    b 5F4+  
    (pE\nuA\  
    z^P* :  
    Runsheet T3G/v)ufd  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 Th~3mf #  
    8g[ (nxI~  
    K#l  -?  
    !Bk[p/\  
    Function dThn?  
    -t%{"y  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 I3G*+6V  
    7cUR.PI#Q  
    W( &Go'9e"  
    |t&G&)~:  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 -YzQ2#K  
    ;L G %s  
    讯技光电科技(上海)有限公司 IS,zy+w  
    电话:86-21-64860708 d,Cz-.'sOf  
    传真:86-21-64860709 i7S>RB  
    课程:course@infotek.com.cn Bmx(qE  
    业务:sales@infotek.com.cn )myf)"l5  
    技术:support@infotek.com.cn v%H"_T  
     
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