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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core 77bZ  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 gm%bxr@X~  
    F~0%j}ve  
    }rAN2D]"}  
    Xe^=(| M  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 VA&OI;=ri  
    FOnA;5Aa  
    &.bR1wX  
    s)'_{ A"h  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 }SvWC8  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” Z=5}17kA  
    # *aGzF  
    (R|FQdH  
    GyXs{*  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 FSZoT!  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 c+K=pp@  
    %Fm;LQa ]  
    s!RA_%8/>  
    =&g}Y  
    <}'B-k9  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 ^HN  
    k)GuMw  
    1AkHig,  
    `m0Uj9)#  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 5 Yibv6:3a  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 YH+\rb_  
    ^3@a0J=F  
    3 BhA.o  
    E#F9<=mA)  
    /Rcd}rO  
    la{:RlW  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 W[Ew6)1T  
    ^9f`3~!#bc  
    )tQ6rd'  
    FveK|-  
    Runsheet +6Fdi*:  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 F3|pS:  
    adPU)k_j:  
    ~I^[rP~  
     p:>?  
    Function I=Dk'M  
    2_~XjwKE  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。  KGwL09)  
    bh6wI%8H  
    YhK/pt43C  
    dC|#l?P  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 P\0%nyOG(%  
    .wOLi Ms  
    讯技光电科技(上海)有限公司 w*kFtNBfU  
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