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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core H|ER  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 mwY IJy[  
    }';D]c  
    W -  
    `ORECg)  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 $2M#qkik-  
    -s|}Rh?Y  
    3/b;7\M  
    =xNv\e  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 ^S)cjH`P  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” K"b`#xN(t  
    %e`$p=m  
    WBNw~|DO]  
    +&Hr4@pgW  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 @#P,d5^G  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 Zum0J{l h  
    u{FDdR9<  
    +<}0|Xl&  
    9elga"4:'  
    t9Y=m6  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 fm(e3]  
    vk>b#%1{  
    ZkIgL  
    #[e  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 F[4;Xq  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 8ZCoc5  
    $8p7D?Y  
    LY[~Os W  
    xB@|LtdO9;  
    kN%MP 6?J  
    ?7 M.o  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 0<8XI>.3D  
    70lfb`  
    "Tm[t?FMbe  
    ]$p{I)d&  
    Runsheet `Pw*_2  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 F  q!fWl  
    M:P0m6ie  
    '{ [5M!B  
    e5.h ?  
    Function  Ug:\  
    N`E-+9L)  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 $ ''9K  
    !r`,=jK"  
    ]uspx [UIc  
    gtYAHi  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 n39t}`WIl  
    ltkI}h,e  
    讯技光电科技(上海)有限公司 k"g._|G  
    电话:86-21-64860708 U|HB=BP  
    传真:86-21-64860709 mKT>,M  
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