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增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 mwY
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W - `ORECg) 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 $2M#qkik- -s|}Rh?Y 3/b;7\M =xNv\e 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 ^S)cjH`P 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” K"b`#xN(t %e`$p=m WBN w~|DO] +&Hr4@pgW 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 @#P,d5^G
优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 Zum0J{l
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9elga"4:' t9Y=m6 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 f m(e3] vk>b#%1{ ZkIgL # [e 当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 F[4;Xq 在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 8ZCo c5 $8p7 D?Y LY[~Os W xB@|LtdO9;
kN%MP6? J ?7M.o Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 0<8XI>.3D 70lfb`
"Tm[t?FMbe ]$p{I)d& Runsheet `Pw*_2 “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 F q!fWl M:P0m6ie '{[5M!B e5.h ? Function Ug:\ N`E-+9L) 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 $''9K !r`, =jK" ]uspx[UIc gtYAHi 如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 n39t}`WIl ltkI}h,e 讯技光电科技(上海)有限公司 k"g._|G 电话:86-21-64860708 U|HB=BP 传真:86-21-64860709 mKT>,M 课程:course@infotek.com.cn LGc&o]k 业务:sales@infotek.com.cn xr7+$:>a 技术:support@infotek.com.cn (_4;') 9
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