先进光学制造工程与技术原理

《先进光学制造工程与技术原理》(作者程灏波、谭汉元)共11章。第1章介绍了光学仪器及光电仪器、先进光学制造技术的发展等内容。第2章主要介绍了光学零件的基础理论，包括数学描述、零件材料、抛光机理、质量评价等内容。第3章至第6章详细介绍了计算机控制小工具头技术、磁流变抛光技术、电流变技术、磁射流技术等光学非球面制造技术。第7章综述了其他先进光学制造新技术。第8章至第11章介绍了光学非球面检测技术，包括轮廓检测技术、干涉检测技术、子孔径拼接技术、亚表面损伤检测技术。 本书适用于航空航天、天文和信息技术等领域的从事光学制造检测工作的工程技术人员，以及大专院校相关专业的学生和科研人员。 rOHW  
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目录 Yb3f]4EH  
第1章 先进光学制造工程概述 2 `h!:0  
§1．1 光学及光电仪器概述 /_OZ1jX  
§1．2 光学制造技术概述 d.j'0w"   
§1．3 先进光学制造的发展趋势 ZV]e-  
第2章 光学零件及其基础理论 fKz"z{\,0  
§2．1 光学零件概述 N8YBu/  
§2．2 光学零件的材料 s]vJUC,s  
§2．3 非球面光学零件基础理论 %)Uvf`Xhh4  
§2．4 抛光机理学说 yXV|
4  
§2．5 光学零件质量评价 5
%+bWI{w  
参考文献 62l0 Z-  
第3章 计算机控制小工具技术 '#i]SU&*  
§3．1 计算机控制小工具技术发展概述 I/V)z9  
§3．2 计算机控制小工具加工原理及数学模型 FgQ_a/*  
§3．3 计算机控制小工具设计与在线测量系统 BH0#Q5  
§3．4 计算机控制小工具加工工艺研究 EhPVK6@  
§3．5 固着磨料在计算机控制小工具技术中的应用 E}' d,v#Z{  
参考文献 #!Cter2  
第4章 磁流变抛光技术 x~9z`d{!  
§4．1 磁流变抛光技术概述 k?/vy9  
§4．2 磁流变效应 z2Y_L8u2  
§4．3 磁流变抛光工具设计及分析 + lB+|yJ+  
§4．4 磁路设计及磁性微粒场致微观结构 27],O@2?L  
§4．5 磁流变抛光去除函数模型 aMvK8C%7  
§4．6磁流变抛光技术工艺规律 QYTTP6 Gz+  
参考文献 q$?7 ~*M;x  
第5章 电流变抛光技术 k g,ys4  
§5．1 电流变效应 Ls>u`hG  
§5．2 电流变抛光液 blfE9Oy  
§5．3 电流变抛光机理及模型 k=mT!  
§5．4 电流变抛光工具设计与研究 fAMD2C  
§5．5 工艺实验结果 4-+ozC{  
参考文献 h lkvk]v  
第6章 磁射流抛光技术 <duBwkiG  
§6．1 磁射流技术概述 a()6bRc~T  
§6．2 流体动力学基础 FQ^<,  
§6．3 磁射流工作原理 _(6B.  
§6．4 磁射流抛光去除函数模型分析与特性 [7e{=\`=  
§6．5 磁射流抛光工具设计 c2/R]%`)9  
§6．6 磁射流抛光工艺研究 H6k
y)kF&  
§6．7 磁射流加工实例 `\ef0  
参考文献 (9KDtr*(2i  
第7章 其他先进光学加工技术 RO%tuU,-  
§7．1 电磁流变抛光技术 up
&NCX  
§7．2 应力盘研抛技术 -4vHK!l  
§7．3 离子束抛光技术  ^%5~;  
§7．4 等离子体辅助抛光 6MQs \J6.  
§7．5 应力变形法 ii_|)udz  
§7．6 光学玻璃非球面透镜模压成形技术 jom}_  
§7．7 光学塑料非球面零件注射成形技术 vLBee>$  
§7．8 非球面真空镀膜法 &Mhv XHI  
§7．9 非球面复制成形法 NMl ?Y uEv  
参考文献 yE.495  
第8章 光学非球面轮廓测量技术 sb}K%-  
§8．1 非球面轮廓测量技术概述 ]g>m?\'n  
§8．2 数据处理 M<A;IOpR+  
§8．3 轮廓测量精度分析与误差补偿 '9-axIj70  
§8．4 非球面检测路径 N)y^</Ya  
§8．5 点云曲率和法矢计算方法分析 \!UF|mD^tG  
§8．6 非球面轮廓测量实例 >@)*Sn9"  
参考文献 Ha)3i{OM  
第9章 非球面干涉测量技术 mq J0z4I}  
§9．1 光学非球面检测方法 U]
V3DDN  
§9．2 干涉检测波前拟合技术 .DDg%z  
§9．3 非球面补偿检测技术 qGpP,  
§9．4 计算机辅助检测 fiE>H~  
§9．5 离轴非球面检测校正技术 NK7H,V}T  
§9．6 大口径平面检测技术 FJsK5-  
参考文献 4|> rwQ~t  
第10章 子孔径拼接干涉检测技术 x|@1wQ"6  
§10．1 概述 >JKnGeF  
§10．2 基础理论 $` Z>Lm*  
§10．3 子孔径划分方法 +36H%&!  
§10．4 子孔径拼接测量实验 z(g%ue\  
参考文献 =vqsd4  
第11章 亚表面损伤检测技术 });cX$  
§11．1 亚表面损伤概述 a>o"^%x  
§11．2 亚表面损伤产生机理 Sf  024  
§11．3 亚表面损伤检测技术 E-UB -"6  
§11．4 磁流变斜面抛光法测量亚表面损伤深度 !,cQ'*<W8-  
参考文献 FOOQ'o[}  
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