先进光学制造工程与技术原理

《先进光学制造工程与技术原理》(作者程灏波、谭汉元)共11章。第1章介绍了光学仪器及光电仪器、先进光学制造技术的发展等内容。第2章主要介绍了光学零件的基础理论，包括数学描述、零件材料、抛光机理、质量评价等内容。第3章至第6章详细介绍了计算机控制小工具头技术、磁流变抛光技术、电流变技术、磁射流技术等光学非球面制造技术。第7章综述了其他先进光学制造新技术。第8章至第11章介绍了光学非球面检测技术，包括轮廓检测技术、干涉检测技术、子孔径拼接技术、亚表面损伤检测技术。 本书适用于航空航天、天文和信息技术等领域的从事光学制造检测工作的工程技术人员，以及大专院校相关专业的学生和科研人员。 |{BIHgMh  
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目录 3EV;LH L  
第1章 先进光学制造工程概述 zvYq@Mhr  
§1．1 光学及光电仪器概述 0LPig[  
§1．2 光学制造技术概述 y6ECdVF  
§1．3 先进光学制造的发展趋势 )
IP,;<  
第2章 光学零件及其基础理论 ciFmaM.  
§2．1 光学零件概述 V/%>4G
YnC  
§2．2 光学零件的材料 ^ZvWR%  
§2．3 非球面光学零件基础理论 1Ce@*XBU  
§2．4 抛光机理学说 (7mAt3n k  
§2．5 光学零件质量评价 &vo--V1|  
参考文献 09X01X[  
第3章 计算机控制小工具技术 _7Rr=_1}  
§3．1 计算机控制小工具技术发展概述 #o=y?(  
§3．2 计算机控制小工具加工原理及数学模型 !^^?dRd*v  
§3．3 计算机控制小工具设计与在线测量系统 o1-m1<ft  
§3．4 计算机控制小工具加工工艺研究 }\
z.)B4,  
§3．5 固着磨料在计算机控制小工具技术中的应用 %}SGl${-  
参考文献 3AHlSX  
第4章 磁流变抛光技术 l Q'I  
§4．1 磁流变抛光技术概述 6bomh2  
§4．2 磁流变效应 v0 nj M  
§4．3 磁流变抛光工具设计及分析 j>*R]mr6  
§4．4 磁路设计及磁性微粒场致微观结构 6%'.A]"  
§4．5 磁流变抛光去除函数模型 ~qcNEl\-y  
§4．6磁流变抛光技术工艺规律 q$ZHd  
参考文献 HKU~UTRnZ  
第5章 电流变抛光技术 KX76UW  
§5．1 电流变效应 NO~*T?&  
§5．2 电流变抛光液 *S]Ci\{_  
§5．3 电流变抛光机理及模型 1{r3#MVL  
§5．4 电流变抛光工具设计与研究
whmdcVh.  
§5．5 工艺实验结果 *EOdEFsR/  
参考文献 i'a?kSy  
第6章 磁射流抛光技术 931bA&SL=/  
§6．1 磁射流技术概述 %b%-Ogz;4  
§6．2 流体动力学基础 7Fz
A*  
§6．3 磁射流工作原理 n)L*  
§6．4 磁射流抛光去除函数模型分析与特性 J@^8ko  
§6．5 磁射流抛光工具设计 f1`gdQ)H  
§6．6 磁射流抛光工艺研究 'z0:C
cbj  
§6．7 磁射流加工实例 8J=?5  
参考文献 "8c@sHk(w  
第7章 其他先进光学加工技术 &qMPq->  
§7．1 电磁流变抛光技术 )jU)_To  
§7．2 应力盘研抛技术 u5O+1sZ"6  
§7．3 离子束抛光技术 V[{6e  
§7．4 等离子体辅助抛光 f*!j[U/r_  
§7．5 应力变形法 jK!Au  
§7．6 光学玻璃非球面透镜模压成形技术 VbJiZw(aR  
§7．7 光学塑料非球面零件注射成形技术 I, -hf=-  
§7．8 非球面真空镀膜法 G,$PV e*  
§7．9 非球面复制成形法 sc|_Q/`\.  
参考文献 ?HTjmIb  
第8章 光学非球面轮廓测量技术 ~"!]
3C,L  
§8．1 非球面轮廓测量技术概述 RS"H8P4W  
§8．2 数据处理 0@yXi  
§8．3 轮廓测量精度分析与误差补偿 ?i)f^O  
§8．4 非球面检测路径 }E+!91't.^  
§8．5 点云曲率和法矢计算方法分析 qHsUP;7  
§8．6 非球面轮廓测量实例 $$D}I*^Dt  
参考文献 U1@IX4^2`  
第9章 非球面干涉测量技术 y)F;zW<+  
§9．1 光学非球面检测方法 B.wYHNNV  
§9．2 干涉检测波前拟合技术 0Oi,#]F  
§9．3 非球面补偿检测技术 \,7f6:  
§9．4 计算机辅助检测 >NqYyW,%  
§9．5 离轴非球面检测校正技术 {kp-h2I,  
§9．6 大口径平面检测技术 b_,|>U  
参考文献 !$DIc  
第10章 子孔径拼接干涉检测技术 2{]`W57_=  
§10．1 概述 J cg,#@  
§10．2 基础理论 a#^B2  
§10．3 子孔径划分方法 G3{Q"^S"  
§10．4 子孔径拼接测量实验 M^MdRu  
参考文献 TK5K_V*7  
第11章 亚表面损伤检测技术 il}%7b-  
§11．1 亚表面损伤概述

-#0qV:D  
§11．2 亚表面损伤产生机理 QZ4v/
Ou  
§11．3 亚表面损伤检测技术 W!%]_I!&K  
§11．4 磁流变斜面抛光法测量亚表面损伤深度 T#M,~lD  
参考文献 P1zKsY,l$<  
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