深度解析LED灯具发展的巨大瓶颈——热阻

发布:lilili1 2015-07-28 11:40 阅读:1055
热阻即热量在热流路径上遇到的阻力,反映介质或介质间的传热能力的大小,表明了1W热量所引起的温升大小,单位为℃/W或K/W。可以用一个类比来解释,如果热量相当于电流,温差相当于电压,则热阻相当于电阻。通常,LED器件在应用中,结构热阻分布为芯片衬底、衬底与LED支架的粘结层、LED支架、LED器件外挂散热体及自由空间的热阻,热阻通道成串联关系。 W6gI#  
8+i=u" <  
LED灯具作为新型节能灯具照明过程中只是将30-40%的电能转换成光,其余的全部变成了热能,热能的存在促使我们金鉴必须要关注LED封装器件的热阻。一般,LED的功率越高,LED热效应越明显,因热效应而导致的问题也突显出来,例如,芯片高温的红移现象;结温过高对芯片的永久性破坏;荧光粉层的发光效率降低及加速老化;色温漂移现象;热应力引起的机械失效等。这些都直接影响了LED的发光效率、波长、正向压降以及使用寿命。LED散热已经成为灯具发展的巨大瓶颈。 HK NT. a  
A=W:}szt]  
为了帮助客户了解产品,克服行业瓶颈,评估LED封装器件的散热水平,金鉴检测LED品质实验室专门推出“LED封装器件的热阻测试及散热能力评估”的业务。 "UX/yLc3(  
:%_\!FvS  
服务客户:LED封装厂、LED灯具厂、LED芯片厂、器件代理商 :W^\ } UX4  
Z_U4Yy'NNw  
服务内容: ]f{3_M[  
1.封装器件热阻测试 hT`fAn_  
2.封装器件内部“缺陷”辨认 ui RO,B}z  
3.结构无损检测 s<>d& W 0=  
4.老化试验表征手段 .af+h<RG4$  
5.接触热阻测试 Gg e X  
6.热电参数测试 S=}1k,I  
包括:(1)电压温度变化曲线;(2)光通量温度变化曲线;(3)光功率温度变化曲线;(4)色坐标温度变化曲线;(5)色温温度变化曲线;(6)效率温度变化曲线。 iD*21c<kd  
40%fOu,u`  
金鉴检测应用举例 p$=Z0p4%LL  
1.封装器件热阻测试 |yl,7m/B-G  
(1)测试方法一:测试热阻的过程中,封装产品一般的散热路径为芯片-固晶层-支架或基板-焊锡膏-辅助测试基板-导热连接材料 ?;VsA>PV  
iGPrWe@.  
侧面结构及散热路径 WEYZ(a|  
&@K6;T  
金鉴检测根据测试,可以得出如下述的热阻曲线图,可读出测试产品总热阻(整个散热路径)为7.377K/W。该方法测试出的热阻需根据测试样品的结构,判定曲线中的热阻分层,获得封装器件的准确热阻。该方法更适合SMD封装器件。 FI,K 0sO/|  
e%s1D  
热阻曲线图 _h+7 KK  
QLH!>9Ch  
(2)测试方法二: e"y-A&|  
,wf:Fr  
与方法一不同,该方法需经过两次热阻测试,对比得出的热阻,可精确到器件基板外壳,无附带测试基板数值。 /W GD7\G'8  
两次测试的分别:第一次测量,器件直接接触到基板热沉上;第二次测量,器件和基板热沉中间夹着导热双面胶。由于两次散热路径的改变仅仅发生在器件封装壳之外,因此结构函数上两次测量的分界处就代表了器件的壳。如下图所示的曲线变化,可得出器件的精确热阻。该方法适合COB封装器件。 7Kf  
L{&>,ww  
多次测试的热阻曲线对比图 S B~opN  
C$p012D1  
(3)利用结构函数识别器件的结构 ~&?57Sw*m  
E{0e5.{  
常规的,芯片、支架或基板、测试辅助基板或冷板这三层的热阻和热容相对较小,而固晶层和导热连接材料的热阻和热容相对较大。 5dGfO:Dy_  
NH;e|8  
如下面结构函数显示,结构函数上越靠近 y 轴的地方代表着实际热流传导路径上接近芯片有源区的结构,而越远离 y 轴的地方代表着热流传导路径上离有源区较远的结构。积分结构函数是热容—热阻函数,曲线上平坦的区域代表器件内部热阻大、热容小的结构,陡峭的区域代表器件内部热阻小、热容大的结构。微分结构函数中,波峰与波谷的拐点就是两种结构的分界处,便于识别器件内部的各层结构。在结构函数的末端,其值趋向于一条垂直的渐近线,此时代表热流传导到了空气层,由于空气的体积无穷大,因此热容也就无穷大。从原点到这条渐近线之间的 x 值就是结区到空气环境的热阻,也就是稳态情况下的热阻。 0W0GSDx  
)DmydyQ'  
热阻曲线的两种结构函数 |8pSMgN  
2.封装器件内部的“缺陷” "cyRzQ6EH  
=+LIGHIt  
固晶层内部缺陷展示 Llkh kq_  
b@c(Nv  
对比上面两个器件的剖面结构,固晶层可见明显差异。如下图,左边为正常产品,右边为固晶层有缺陷的产品。 ic5af"/(\  
eR4ib-nS  
固晶层缺陷引发的热阻变大 p>,D F9W`  
W[I$([  
根据上图显示,固晶层缺陷会造成的热阻增大,影响散热性能,具体的影响程度与缺陷的大小有关。 #|K{txC   
0C;Js\>3]  
3.结构无损检测 ~/X8Hy!-  
同批次产品,取固晶层完好、边缘缺陷以及中间缺陷的样品测试。固晶完好的固晶层应为矩形,而边缘和中间存在缺陷,则固晶层不规则,下图两种缺陷的图片。 +oh|r'~  
=igTY1|af  
固晶缺陷示意图 udT0`6l;  
v4Wq0>o  
测试出三条热阻曲线。由于三次测试的芯片是一样的,因此在结构函数中表征芯片部分的曲线是完全重合在一起的。随着固晶层损伤程度的增加,该结构层的热阻逐渐变大。这是由于空洞阻塞了有效的散热通道造成的。 &\I<j\F2/  
ber&!9  
固晶缺陷热阻值对比 sj4\lpZ3h  
\pk9i+t  
金鉴检测根据测试结果,不仅可以定性地找出存在缺陷的结构,而且还能定量得到缺陷引起的热阻的变化量。 '<3h8\"  
aGBd~y@e  
4.老化试验表征手段 FShUw+y  
下图为一个高温高湿老化案例中同一样品不同时期的热阻曲线。 b}fC' h  
 LtH j  
老化后的热阻漂移现象 !ui t  
T;5VNRgpI  
老化前后,从芯片后波峰的移动可以清晰地看出由于老化造成的分层,导致了芯片粘结层的热阻增大。对样品不同阶段的热阻测试,可得到每层结构的热阻变化,根据变化分析老化机理,从而改善产品散热性能。 rrR"2WuGO  
>;XtJJS  
5.接触热阻的测量随着半导体制造技术的不断成熟,热界面材料的热性能已经成为制约高性能封装产品的瓶颈。接触热阻的大小与材料、接触质量是息息相关的。常规的接触材料或方式有:(1)导热胶;(2)导热垫片;(3)螺钉连接;(4)干接触。下图为对于接触热阻的一次专门测试。 3$xpZm60  
Rz&`L8Bz  
不同接触方式的热阻 3b\s;!  
sBYDo{0 1  
由上图金鉴发现,接触热阻的大小不仅与接触材料有关,还与接触的质量有关。接触材料的导热系数越大,接触热阻越小。接触质量越好,接触热阻越小。 \?oT.z5VG&  
2Y%7.YX"  
6.热电参数特性举例 c0Bqm  
|||m5(`S  
电压温度曲线 L){V(*K '  
SHs [te[  
由上图可见,随着温度的上升,该样品LED的电压呈线性递减。 %19~9Tw  
gm pY[  
光通量温度曲线 p6NPWaBR  
tH&eKM4G  
由上图可见,随着温度的上升,该样品LED的光通量呈线性递减。 0ETT@/)]z  
? A;RTM  
色坐标漂移曲线 k-a1^K3  
G62;p#  
由上图可知,随着温度的上升,该样品LED的色坐标会往高色温方向漂移。
分享到:

最新评论

我要发表 我要评论
限 50000 字节
关于我们
网站介绍
免责声明
加入我们
赞助我们
服务项目
稿件投递
广告投放
人才招聘
团购天下
帮助中心
新手入门
发帖回帖
充值VIP
其它功能
站内工具
清除Cookies
无图版
手机浏览
网站统计
交流方式
联系邮箱:商务合作 站务处理
微信公众号:opticsky 微信号:cyqdesign
新浪微博:光行天下OPTICSKY
QQ号:9652202
主办方:成都光行天下科技有限公司
Copyright © 2005-2024 光行天下 蜀ICP备06003254号-1