X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 [9MbNJt 8~  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 B/!/2x  
@^ m0>H  
技术参数 n:k4t  

波长范围 0O*kC43E_	5-20 @A*>lUo	10-60 5)hfI7{d	25-80 }owl7G3
光源距离（m） "J+4	CHD.b%_|	0.4-0.6 ]T2Nr[vu	0.5-1.5 r}D#(G$
平场尺寸（mm） \[*q~95$v	25.4 apfr>L3	50 $p$p C/:%	50 rcY &n^:
色散(nm/mm) ,j.bdlI#	0.5-0.7 &%t&[Se_~	0.7-1.1 3Z&!zSK^	0.9-1.3 Z{y H:{Vk
光谱分辨率（nm） lNWP9?X	0.06 Aq3\Q>klH)	0.09 b`=g#B|	0.11 ~(GNY5
DZ`m{l3H	UEfY'%x	"h7Dye	4i+%~X@p
升级波长范围 MOnTp8	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) ~<s =yjTu+
探测器选择 P~iZae	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 n&?)gKL0g
光栅台 t*)mX2R,	电控 &oy')\H
工作环境 (+/d*4	<10-6mbar n+YUG
操作性 SO[ u4b_"h	极易安装使用，用户自己即可安装使用 RgQs`aI

• X;l/D}
,.  
技术优势介绍： MtN!Xx  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 -V[x q  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 N0vECk  
n^O!93a  
-平场成像技术 zR]!g|;f  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 |\G^:V[.  
IAq o(Qm  
紧凑/模块化 M6Np!0G  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） /@
\R  
R*6B@<p,i  
结实耐用无需准直 B.~] 7H5"(  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 |g!d[ct]
 

Z*UVbyC  
- 定制化 hh*('n>[  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 Qr4 D  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 &);P|v`8  
N fG9a~  
典型客户： ~ A
=Gra  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) pi/0~ke4"  
   
2. < >Los Alamos P R3Arfle  
   
3. Max Planck Institute

4nh=Dq[  
详细信息请联系：sales@@advacedlight.cn， 或致电021-60450828