X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪  T-+ uQ3  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 w8:  
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技术参数 QoxQ
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波长范围 ][#|5UK8L	5-20 5')]Y1J	10-60 1;B&R89}	25-80 @o#Yq n3Y
光源距离（m） L.JL4;U P	@[f$MRp\	0.4-0.6 >#gDk K	0.5-1.5 Br{(sL0e
平场尺寸（mm） lF40n4}	25.4 ^j10 f$B	50 ZSD7%gE<D	50 AGO"),
色散(nm/mm) )iK:BL*Nw	0.5-0.7 VeY&pPQ	0.7-1.1 oS<GjI:	0.9-1.3 N>Uxq&)!
光谱分辨率（nm） }s6Veosl	0.06 -yBj7F|	0.09 fU$_5v4	0.11 >p;&AaXkoG
m~P30)	.j>MsQP#\C	|B'4wF>	y7rT[f/J
升级波长范围 :)T*:51{#	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) EAxdF u
探测器选择 (ov&iNx	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 XJy.xI>;
光栅台 ?2\oi*$	电控 5~im.XfiVx
工作环境 gSj0+|	<10-6mbar &@BAV c z
操作性 EwuRIe;D	极易安装使用，用户自己即可安装使用  ylS 6D

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技术优势介绍： UWK|_RT6SA  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 2+C:Em0yI  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 L<B)BEE.  
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-平场成像技术 .5s^a.e'O  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 /(u? k%Q  
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紧凑/模块化 G]EI!-y  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） ,S<) )  
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结实耐用无需准直 ;O{bF8U  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 \Y8 sIs  
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- 定制化 Zs-lN*u7.  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 lFSvHs5  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 kt\,$.
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典型客户： E`hR(UL ?  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) ?E}gm>  
   
2. < >Los Alamos YK$[)x\S  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828