X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 .tdaj6x  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 #r=Jc8J_  
3WVH8Sb  
技术参数 *1H8 &  

波长范围 @ 0'j;")XV	5-20 ~ u)}/	10-60 !^yH]v	25-80 D6$*#D3U
光源距离（m） i,H(6NL.	diz=|g=w	0.4-0.6 a2!U9->!	0.5-1.5 K2XRKoG
平场尺寸（mm） NJNS8\4	25.4 w)rd--9f	50 D-/q-=zd	50 ^xyU*A}D
色散(nm/mm) _o52#Q4 	0.5-0.7 u?-|sv*	0.7-1.1 HBdZE7.x)3	0.9-1.3 &KYPi'C9!z
光谱分辨率（nm） %eE0a4^".	0.06 fN_qJm#:$y	0.09 vg-Ah6BC{	0.11 t/wo G9N
S8 j!?$`	:>|dE%/e$	kl~)<,/@	Ka_g3
升级波长范围 |AQU\BUj	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) H|IG"JB
探测器选择 :R{pV7<O	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 8.!+Hm4
光栅台 V0<g$,W=	电控 :R-_EY$k6
工作环境 `0 _,>Z	<10-6mbar 8345 H
操作性 +n%d,Pz	极易安装使用，用户自己即可安装使用 =h@t#-Z"

• i91 =h   
技术优势介绍： Hl#?#A5  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 *x &  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 U*:ju+)k  
7>E>`Nc6  
-平场成像技术 k\TP3*fD  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 LPeVr^  
rJTYCe1*  
紧凑/模块化 Eq?U$eE  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） SHYbQF2  
T)I\?hqTB  
结实耐用无需准直 xHD$0eq  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 
#Dea$  
SajG67  
- 定制化 |vw],r6  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 DDq?4  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 0j!xv(1  
Bp_8PjQ  
典型客户： p/qu4[Mm  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) v:P=t2q  
   
2. < >Los Alamos l>?f+70  
   
3. Max Planck Institute

~dC.,"  
详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828