X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 lY'N4x7n  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 eLfvMPVo  
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技术参数 cp6WMHLj   

波长范围 +E5= $`	5-20 =X1?_~}	10-60 xAhxD|4_	25-80 +e P.s_t
光源距离（m） 3yV'XxC	^jD1vUL 2:	0.4-0.6 dqc1q:k?$	0.5-1.5 :243H
平场尺寸（mm） =Z,5$6%)	25.4 S8vV!xO	50 idc4Cf+4	50 4w$_]ke
色散(nm/mm) GABQUmtH	0.5-0.7 L{8;Ud_2r	0.7-1.1 ^6;V}2>v}	0.9-1.3 |L ::bx(
光谱分辨率（nm） KE}H&1PjU	0.06 x,8<tSW)Z	0.09 S%mfs!E>	0.11 ?+2b(2&MXE
2oVV'9;B	1||+6bRP	U|@V 74	*>q/WLR
升级波长范围 }|wv]U~	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) izZ=d5+K
探测器选择 ?jO 5 9n	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 r&3pM2Da}
光栅台 OB-Q /?0	电控 xJwG=$o
工作环境 p9qKLJ*.C	<10-6mbar LM)`CELsYc
操作性 7 sFz?`-	极易安装使用，用户自己即可安装使用 M+P$/Wk

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技术优势介绍： Y&.UIosWb  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 F<&!b2)ML  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 w:i:~f .  
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-平场成像技术 %O[N}_XHEh  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 Uh6 '$0  
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紧凑/模块化 hJ;$A*Y  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） 8wZf]_  
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结实耐用无需准直 YT#3n  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 3gZ8.8q3  
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- 定制化 tY|8s]{2  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 GW^,g@%C  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 DKL@wr}8  
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典型客户： J^#:qk  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) t= #&fSR  
   
2. < >Los Alamos L1{GL #qV  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828