X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 \1jThJn  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 Lo%vG{yTr  
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技术参数 @k&6\1/U  

波长范围 9gcW;	5-20 Jgv Mx	10-60 A{ ~D_q	25-80 dazNwn
光源距离（m） 3"7Q[9Oj	Ik$$Tn&;	0.4-0.6 eO <N/?t	0.5-1.5 lG\uJxV
平场尺寸（mm） \ saV8U7B	25.4 ud r\\5	50 B{`adq?pW	50 RJ'[m~yl5X
色散(nm/mm) "-$}GUK?Z	0.5-0.7 ID2->J	0.7-1.1 @01.Pd 	0.9-1.3 yws'}{8
光谱分辨率（nm） N:)x67 ,	0.06 j|[rT^b@	0.09 q$:7j5E	0.11 S-S%IdL
Wp>t\S~N	iz#R)EB/g	P+o"]/7U	miaH,hm
升级波长范围 ZOEe-XW	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) 3p=Xv%xd
探测器选择 |O_JUl	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 no3yzF3Hi
光栅台 yMz#e0k	电控 hn8xs5vN
工作环境 H54RA6$>	<10-6mbar wHj1+W
操作性 $Y|OGZH8E	极易安装使用，用户自己即可安装使用 y' '~j<'

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技术优势介绍： ojy^A  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 r >'tE7W9  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 e"t0 rScA  
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-平场成像技术 LeL
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我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 +& B?f  
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紧凑/模块化 &s+l/;3  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） ;d6Dm)/(  
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结实耐用无需准直 r@4A%ql<  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 y|6n:<o  
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- 定制化 &>zH.6%$  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 irAXXg  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 ,W}:vdC  
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典型客户： -{\(s=%  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) 5skN'*oG  
   
2. < >Los Alamos /TpTR-\I0  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828