X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 fd62m]X  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 $>Ow<!c  
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技术参数 K7/&~;ZwT  

波长范围 q6x}\$mL	5-20 iTF%}(	10-60 > kwhZ/x	25-80 :_+U[k(#
光源距离（m） (&, E}{p9	OC\cN%qlw	0.4-0.6 u;b6uE	0.5-1.5 KvI/!hl\
平场尺寸（mm） 0 t/mLw&	25.4 !~j9Oc^	50 >xH?`I7;f	50 cBHUa}:
色散(nm/mm) Urksj:N	0.5-0.7 t{B6W)q	0.7-1.1 nhd.c2t\	0.9-1.3 FRQkD%k
光谱分辨率（nm） f<R 3ND)	0.06 U8%IpI;	0.09 VRHS 4	0.11 &?']EcU5h9
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升级波长范围 #}8VUbJ	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) h,]lN'JG{
探测器选择 +.$:ZzH#	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 FE#|5;q.
光栅台 UA#=K+2	电控 QqXaXx;
工作环境 0 eOdE+	<10-6mbar tao9icl*`
操作性 vv	极易安装使用，用户自己即可安装使用 vJW`aN1<I3

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技术优势介绍： %
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光源可以直接成像/超强信号采集能力 ]0{,P !  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 'n?"f|G  
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-平场成像技术 ~fO#En  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 ~{6}SXp4U  
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紧凑/模块化 ux[13]yY  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） aecvz0}@R  
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结实耐用无需准直 V0gu0+u~R  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 UZgrSX {  
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- 定制化 {|e7^_ke  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 ?1X7jn`,+  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 ZjnWbnW  
V.o*`V  
典型客户： 7re4mrC  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) oK&G  
   
2. < >Los Alamos AP?m,nd6  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828