X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 A.!3{pAb  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 ]/mRMm9"3h  
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技术参数
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波长范围 pTYV@5|	5-20 ;s-fYS6(>{	10-60 A&Q!W)=	25-80 S.owVMQ
光源距离（m）  ?bG82@-	ZgzYXh2	0.4-0.6 }sfvzw_	0.5-1.5 .R@euIva
平场尺寸（mm） ;FjI!V	25.4 d5=yAn-+=	50 Z1DF)	50 v;" pc)i
色散(nm/mm) )Mw 3ZE92	0.5-0.7 i32S(3se	0.7-1.1 ,\PTn7_	0.9-1.3 #@L<<Q8}
光谱分辨率（nm） R9Y{kk0M	0.06 u%CJjy	0.09 Uetna!ABB	0.11 z|N*Gs>,
Z^yn S	3>^S6h}o	0h"uJco,	,Q8h#0z r
升级波长范围 I#CS;Yh95	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) Lor__ K
探测器选择 /oU$TaB>(	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 A)TO<dl
光栅台 )B Xl|V,	电控 V8z*mn D
工作环境 @<p9O0	<10-6mbar dcN4N5r
操作性 Dzw>[ 	极易安装使用，用户自己即可安装使用 IpsV4nmnz-

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技术优势介绍： /_/Z/D!  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 <Ow+LJWQK  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 8EZ,hY^  
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-平场成像技术 toC|vn&P  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 g_MxG!+(V  
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紧凑/模块化 ZF;s`K)  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） C3 (PI,,  
[N*`3UZk"  
结实耐用无需准直 2H`;?#Uq:  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 fH;lh-  
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- 定制化 ._}Dqg$  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 IS }U2d,W  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 <h1J+  
3+:
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典型客户： $ 4A!Y  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) ny+_&l^R~(  
   
2. < >Los Alamos v|YJ2q?19  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828