X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 ;wQWt_OtuJ  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 }7=a,1T  
XFu@XUk!K  
技术参数 )1fQhdO}x  

波长范围 qfSo F|	5-20 FOk @W&	10-60 uaPBM<	25-80 )i_FU~ LRq
光源距离（m） 5h:SH]tn8]	zK-hNDFL{	0.4-0.6 Jl]]nOBQ/	0.5-1.5 t^C T^z
平场尺寸（mm） @>9 p2u)=	25.4 5GJ0EZ'X	50 uCu,'F,6Y	50 j^%i?BWw
色散(nm/mm) "DlCvjc	0.5-0.7 )b%c]!	0.7-1.1 CMBW]b|	0.9-1.3 K<]fElh-
光谱分辨率（nm） q5vs;,_ |	0.06 R NA03	0.09 L|q<Bpz	0.11 0[1!K&(L
/XSPVc<	?J~JQe42	f<w*l<@	@^` <iTK&p
升级波长范围 Nu_w@T\l	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) HQ s)T
探测器选择 *(vq-IE\$	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 @l(Y6m|v\
光栅台 'd t}i<	电控 O h"^
工作环境 ,{Ab=xV	<10-6mbar \W}EyA
操作性 +uLo~GdbE	极易安装使用，用户自己即可安装使用 kH&ZPAI

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技术优势介绍： "T&uS1+=c  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 NdNfai  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 k_a'a)`$6  
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-平场成像技术 og\XLJ}_  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 U2AGH2emw  
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紧凑/模块化 Pu^~]^W)  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） \a6)t%u  
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结实耐用无需准直 >o} ati  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 lBn*G&(P  
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- 定制化 jkP70Is  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 <!N;(nZ9}O  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 # 0!IUSa  
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典型客户： Q$vr`yV#=6  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) /K!,^Xn
    
   
2. < >Los Alamos AY;+Ws  
   
3. Max Planck Institute

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