X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 k/Z}nz   
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 @wbV@  
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技术参数 C,.$g>)MZK  

波长范围 k? X7h2	5-20 Iq MXd K|	10-60 Ji gc@@B.	25-80 - 3kg,=HU;
光源距离（m） wUab)L	s#>Bwn&b)	0.4-0.6 IZ"d s=w	0.5-1.5 3DbS\jja
平场尺寸（mm） iXeywO2nP	25.4 4 QD.'+L	50 YvRMUT	50 1t6VS3
色散(nm/mm) wpO-cJ!,	0.5-0.7 vzG(u_,9[	0.7-1.1 qdWsP9}q	0.9-1.3 ;vnG
光谱分辨率（nm） x xWnB	0.06 #}3$n/	0.09 zQ&`|kS	0.11 a~jM^b;VN
q,A;d^g	$5Jo%K%	F<VoPqHq	r$<[`L+6
升级波长范围 G$( B26	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅)  `C9/=
探测器选择 PQDWY	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 4*&_h g)h
光栅台 }j;*7x8(	电控 $n.oY5=\
工作环境 RX3P%xZ	<10-6mbar gZ8n[zxf6
操作性 )OpB\k	极易安装使用，用户自己即可安装使用 $9)|cO

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技术优势介绍： 2|8e7q:+*  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 n$&xVaF|  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 [oqb@J2  
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-平场成像技术 ))JbROBU,  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 {N!Xp:(<7_  
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紧凑/模块化 kwF4I)6  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） mWN9/+!  
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结实耐用无需准直 =wE1j  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 lB3@jF  
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- 定制化 ]rU$0)VN  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 ?(rJ  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 HE6kt6  
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典型客户： w eu3c`-a  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) jg%HaA<zO  
   
2. < >Los Alamos vy&q7EX<i  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828