X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 ]bIt@GB  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 UmJUt|  
M~-h-tG  
技术参数 PNf&@  

波长范围 !~WZ_z	5-20 GE@uOJ6H	10-60 ;Tta H	25-80 v{o? #Sk1
光源距离（m） D-6 	h0|[etaf	0.4-0.6 D}MoNE[r	0.5-1.5 <KtBv Ip]
平场尺寸（mm） h6g:(3t6m	25.4 H"_v+N5=	50 L_^`k4ct	50 `mrCu>7
色散(nm/mm) D3y>iQd 	0.5-0.7 z=qWJQ	0.7-1.1 %VWp&a8	0.9-1.3 x@Y|v@}BE
光谱分辨率（nm） /u=aX	0.06 Rs2-94$!5	0.09 y`rL=N#	0.11 mf}\s]_c
2 l(Dee Y	p'}lN|"{O	w,Q)@]_	~ 7}]
升级波长范围 QWw"K$l	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) e8{^f]5
探测器选择 '*4iqPR;	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 %*jGim~s
光栅台 Qwv '<	电控 3w6&&R9
工作环境 jn^fgH?	<10-6mbar ]U[&uymax
操作性 +C_*Vs@4	极易安装使用，用户自己即可安装使用 >yKpM }6l{

• Pu..NPl+  
技术优势介绍： "R23Pi  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 @0|nq9l1  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 <1 S+'  
j7}lF?cJ2  
-平场成像技术 D^u\l  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 q!&B6]  
V9T 4+  
紧凑/模块化 Fj^AWv^/  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） >$uUuiyL4  
^X&)'H  
结实耐用无需准直 f>niFPW"  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 hO6RQ0Iv@  
,]7XMU3  
- 定制化 vU}: U)S  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 1"O&40l  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 q`^3ov^</  
|{f~Ks%  
典型客户： (B:uc_+  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) o8{<qn|  
   
2. < >Los Alamos | ]# +v@  
   
3. Max Planck Institute

C8.W5P[U  
详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828