X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 z\eQB%aM  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 {<{VJGY7T  
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技术参数 Qhj']>#g  

波长范围 Q>$B.z	5-20 X HA|v^	10-60 J?V$V >d	25-80 'u.Dt*.Uq
光源距离（m） xuUEJ a&	)Ra:s>	0.4-0.6 Mst%]@TG	0.5-1.5 P7w RX F{
平场尺寸（mm） P6_Hz!vE	25.4 frcX'M}%	50 Lyc6nP;F	50 N7s0Ua'-v
色散(nm/mm) B=]j=\o	0.5-0.7 6 ZRc|ZQ	0.7-1.1 `i.fm1I]	0.9-1.3 e\X[\ ve
光谱分辨率（nm） p l^;'|=M	0.06 KH,f'`	0.09 &vmk!wAs	0.11 lZAGoR;0Ra
5=V"tQ&d9U	pT=^ o	,<Cl^ ^a,	>\K=)/W2
升级波长范围 N&G'i.w/	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) 4AL,=C3
探测器选择 z9 0JZA	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 3P kZXeH/
光栅台 jvQ^Vh!mC	电控 $W|JQ h
工作环境 koT 3~FK	<10-6mbar n#}@|"J
操作性 9gA@D%0	极易安装使用，用户自己即可安装使用 HKb V@NW

• CE M4E  
技术优势介绍： A o*IshVh  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 (^W}uDPCB  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 S$SCW<LuN  
rL\}>VC)  
-平场成像技术 hbYstK;]Z  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 zx<t{e7  
T%.Yso{  
紧凑/模块化 [GbrKq(  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） _v#puFy  
346 z`5  
结实耐用无需准直 1$DcE>  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 T[OI/
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- 定制化 Y 22Ai  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 P8=|#yCi  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 TNh&g.  
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典型客户： }],l m  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) *-*V>ntvT$  
   
2. < >Los Alamos xppnBnu$7  
   
3. Max Planck Institute

LS*L XC  
详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828