X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 d_QHm;}Cx  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 pW:U|m1dS  
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技术参数 i6h:%n]Io  

波长范围 Bb}JyT	5-20 t8U)za	10-60 |/]bpG'z	25-80 BYhPOg[
光源距离（m） o//N"S.)	7 G~MqnO|	0.4-0.6 ~5:]Oux	0.5-1.5 l9qq;hhGP,
平场尺寸（mm） {>5z~OV	25.4 :c!7r h7O	50 5u~Ik c~	50 :uu\q7@'
色散(nm/mm) o5BOe1_Pw	0.5-0.7 mu=u!by.E	0.7-1.1 ZT "?W $	0.9-1.3 8W[QV
光谱分辨率（nm） nO\|43W	0.06 `5O<U~'d	0.09 +ulX(u(,	0.11 RLw=y{%p
_&19OD %	~Xh(JK]	zp% MK+x	r1}7Q7-z
升级波长范围 t{F6+dp	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) Y 0$m~}j
探测器选择 X xB*lX	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 &{Uaa
光栅台 ZH0 ~:	电控 p KKn
工作环境 qW?^_ 	<10-6mbar jM2gu~
操作性 )Qw|)='-	极易安装使用，用户自己即可安装使用 j(va#f#

• q'C'S#qqn  
技术优势介绍： Vxo3RwmR  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 }gag?yQ.^  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 + #S]uC  
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-平场成像技术 d<`Z{"g NS  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 n;v8Vc'  
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紧凑/模块化 sAnStS=>  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） Z|'tw^0e5  
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结实耐用无需准直 2s|[!:L5  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 J*a`qU   
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- 定制化 D'uzH|z8  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 *Z)`:Gae  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 ,h8)5Mj/J  
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典型客户： al#yc  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) t)$>++i  
   
2. < >Los Alamos 47ir QK*  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828